一种检测装置制造方法及图纸

技术编号:38138836 阅读:19 留言:0更新日期:2023-07-08 09:52
本发明专利技术提供一种检测装置,包括图像采集装置,用于采集待测产品的图像;以及光路系统,用于调节待测产品光线传输方向;所述待测产品至少包括第一区域与第二区域,所述第一区域与第二区域不在同一平面;所述光路系统包括用以调节待测产品光线传输方向的第一光学单元;所述第一光学单元包括第一反光镜和第二反光镜;所述第一反光镜被配置为将待测产品第二区域的光线反射到第二反光镜上;所述第二反光镜被配置为将第一区域的光线以及由第一反光镜反射的第二区域的光线反射到图像采集装置所在位置,所述图像采集装置同时采集待测产品第一区域与第二区域的图像。该检测装置可同时采集待测产品弧面区域及平面区域的图像,整体结构简单,工作效率高。工作效率高。工作效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置


[0001]本专利技术涉及产品检测
更具体地,涉及一种检测装置。

技术介绍

[0002]在很多产品的AOI检测中,比如玻璃行业,会进行产品的边缘磨边,并且对磨边的边沿进行检测,检测研磨边缘是否符合要求,是否有划伤裂纹等。
[0003]但是,当前的检测大多是通过多相机、多角度的直接对射拍摄方式进行作业,采用这样的方式存在占用空间结构大、部件较多、成本高的问题,从而导致工作效率较低。

技术实现思路

[0004]针对上述问题,本专利技术提供一种检测装置,该检测装置可同时采集待测产品多个区域的图像,整体结构简单,工作效率高。
[0005]为实现上述目的,本专利技术采用下述技术方案:
[0006]本专利技术提供一种检测装置,包括:
[0007]图像采集装置,用于采集待测产品的图像;以及
[0008]光路系统,用于调节待测产品光线传输方向;
[0009]所述待测产品至少包括第一区域与第二区域,所述第一区域与第二区域不在同一平面;
[0010]所述光路系统包括用以调节待测产品光线传输方向的第一光学单元;
[0011]所述第一光学单元包括第一反光镜和第二反光镜;
[0012]所述第一反光镜被配置为将待测产品第二区域的光线反射到第二反光镜上;
[0013]所述第二反光镜被配置为将第一区域的光线以及由第一反光镜反射的第二区域的光线反射到图像采集装置所在位置,所述图像采集装置同时采集待测产品第一区域与第二区域的图像。/>[0014]此外,优选地方案是,所述光路系统还包括用于驱动第一反光镜偏转的第一驱动机构和用于驱动第二反光镜偏转的第二驱动机构。
[0015]此外,优选地方案是,所述光路系统还包括光源,所述光源产生的光线照射于所述待测产品上。
[0016]此外,优选地方案是,所述检测装置还包括具有容纳腔的罩体;所述光路系统以及图像采集装置均位于所述罩体内;所述罩体上形成有供待测产品进出容纳腔的开口。
[0017]此外,优选地方案是,所述图像采集装置为线扫相机;待测产品沿所述开口一侧进入所述容纳腔,并自所述开口另一侧移出,所述线扫相机采集移动中的待测产品的图像。
[0018]此外,优选地方案是,所述图像采集装置的图像采集方向与待测产品光线传输方向之间形成有夹角。
[0019]此外,优选地方案是,所述光路系统还包括用以调节所述光源所发射的光的传播方向的第二光学单元;所述第二光学单元包括半透半反镜以及用以驱动所述半透半反镜偏
转的第三驱动机构。
[0020]此外,优选地方案是,所述光源所发射的光的传播方向与图像采集装置的图像采集方向平行;
[0021]所述第二光学单元被配置为将光源发出的光沿垂直于图像采集装置的图像采集方向的方向反射到待测产品上。
[0022]此外,优选地方案是,所述光源所发射的光的传播方向与图像采集装置的图像采集方向垂直;
[0023]所述第二光学单元被配置为与第二反光镜配合将光源发出的光沿垂直于图像采集装置的图像采集方向的方向反射到待测产品上。
[0024]此外,优选地方案是,所述待测产品的检测区域包括位于底部的平面区域以及位于平面区域两侧的弧面区域;所述检测装置包括有分别对待测产品两侧的弧面区域的成像进行反射的两个第一反光镜。
[0025]本专利技术的有益效果为:
[0026]本专利技术通过第一反光镜和第二反光镜的配合,调节待测产品所反射的光的传播方向使得所述图像采集装置可同时采集到待测产品多个区域及的图像,从而实现图像采集装置拍摄一次即可完成对待测产品多个区域的图像采集;而且能够实现横向设置图像采集装置不会占用待测产品正下方的空间,实现了结构空间的弯折化,利于满足在小空间内的拍摄需求。
附图说明
[0027]下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明。
[0028]图1是本专利技术的整体结构示意图之一。
[0029]图2是本专利技术的整体结构示意图之二。
[0030]图3是待测产品的局部截面图。
具体实施方式
[0031]现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。
[0032]以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。
[0033]对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。
[0034]在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
[0035]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0036]为了解决现有的检测装置结构繁琐,工作效率低的问题。本专利技术提供一种检测装置,结合图1至图3所示,具体地所述检测装置包括:用于采集待测产品3图像的图像采集装
置,该图像采集装置为线扫相机21,图像采集装置的图像采集方向即为线扫相机21的镜头轴线方向;用以调节待测产品光线传输方向的光路系统,所述光路系统包括用以调节待测产品3光线传输方向的第一光学单元;所述第一光学单元包括第一反光镜11和第二反光镜12。
[0037]所述待测产品3至少包括第一区域与第二区域,所述第一区域与第二区域不在同一平面;参照图3所示,所述待测产品3的检测区域包括平面区域31和位于平面区域31两侧的弧面区域32;所述光路系统还包括光源22,所述光源22产生的光线照射于所述待测产品3上。
[0038]所述第一反光镜11被配置为将待测产品的弧面区域32所反射出的光反射到第二反光镜12上,待测产品3的平面区域31所反射的光照射到第二反光镜12上,再通过第二反光镜12将由第一反光镜11反射到第二反光镜12上的光(即待测产品3的弧面区域32的成像)及待测产品3的平面区域31所反射的光(即平面区域31的成像)沿平行于图像采集装置的图像采集方向的方向反射到图像采集装置所在位置,使得所述图像采集装置可同时采集待测产品3弧面区域32及平面区域31的图像,进而实现对待测产品3的检测,提高检测效率;在上述方案中仅需要用到一个线扫相机即可,这样不仅能够减少成本,还能够实现整体结构的精简。
[0039]由于在玻璃的制程过程中需要对其边缘及底部的缺陷进行检测,并且同时对研磨的边缘幅度进行检测,所以需要分别对待测产品底部和边缘进行打光并拍摄。但是由于待测产品底部空间不够,会导致相机和光源不能够直接放置于产品底部进行拍摄;而本专利技术通过光路系统调节待测产品光线传输方向,能够实现光源及相机不占用产品底部下方对应位置的空间,完成对待测产品多区域的图像采集。
[0040]具体的,参照图1和图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:图像采集装置,用于采集待测产品的图像;以及光路系统,用于调节待测产品光线传输方向;所述待测产品至少包括第一区域与第二区域,所述第一区域与第二区域不在同一平面;所述光路系统包括用以调节待测产品光线传输方向的第一光学单元;所述第一光学单元包括第一反光镜和第二反光镜;所述第一反光镜被配置为将待测产品第二区域的光线反射到第二反光镜上;所述第二反光镜被配置为将第一区域的光线以及由第一反光镜反射的第二区域的光线反射到图像采集装置所在位置,所述图像采集装置同时采集待测产品第一区域与第二区域的图像。2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光路系统还包括用于驱动第一反光镜偏转的第一驱动机构和用于驱动第二反光镜偏转的第二驱动机构。3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光路系统还包括光源,所述光源产生的光线照射于所述待测产品上。4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括具有容纳腔的罩体;所述光路系统以及图像采集装置均位于所述罩体内;所述罩体上形成有供待测产品进出容纳腔的开口。5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述图像采集装置为线扫相机;待测产品沿所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚宪李靖宇孙培
申请(专利权)人:华兴源创成都科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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