一种基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法技术

本发明专利技术公开一种基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法，属于老化检测领域。首先采集温度、压力及路径延迟数据；然后对数据进行预处理，并设置温度窗；最后根据设置的温度窗筛选数据，将得到的数据输入到机器学习模型中，进行老化程度的预测。本发明专利技术通过窗函数减少温度噪声对建模的干扰，分离出瞬时因素对路径延迟的影响，提升了建模准确率。提升了建模准确率。提升了建模准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法


[0001]本专利技术涉及老化检测
，特别涉及一种基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法。

技术介绍

[0002]过去几十年间，半导体工艺的巨大提升使得芯片的性能急剧升高；同时半导体工艺变得越来越复杂。另外，芯片应用的领域也变得更加复杂多变，这些都给芯片带来了更多的可靠性问题。因此，对复杂SoC的老化估计和预测变得更加关键。传统的老化估计和老化预测方式有较大的缺陷，不能够反应芯片间的工艺偏差，使得预测结果误差较大。另外，现代SoC结构较为复杂，侵入性的监测方式对SoC的性能和功能影响较大。故现在被广泛采用的SoC老化预测方法为基于模型的预测方法。
[0003]基于模型的SoC失效预测方法大体可以被分为两类：非寿命损耗模型和寿命损耗模型。其中非寿命损耗模型并非基于SoC老化的原因而是基于SoC老化表现进行建模，而SoC老化表现并不易于得到，因此主流的失效模型为寿命损耗模型。寿命损耗模型通常从老化原因出发，最后得到老化表现或者老化结果。
[0004]导致晶体管老化的效应主要有三种：H本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法，其特征在于，包括：采集温度、压力及路径延迟数据；对数据进行预处理，并设置温度窗；根据设置的温度窗筛选数据，将得到的数据输入到机器学习模型中，进行老化程度的预测。2.如权利要求1所述的基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法，其特征在于，采集温度、压力及路径延迟数据包括：在FPGA上部署多级串联的LUT构成延迟链，并通过压力模块给延迟链施加压力，使得FPGA老化；通过MUX模块将LUT组成环形振荡器，通过测量环形振荡器的频率得到此时LUT的延迟，并用LUT延迟衡量FPGA的老化程度；通过FPGA上的温度和电压传感器测量温度和电压数据。3.如权利要求2所述的基于自适应温度窗的老化监测数据降噪方法，其特征在于，对数据进行预处理包括：使用numpy函数采集并处理数据，之后使用xlsxwriter函数通过excel表格对数据进行存储。4.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宇轩，梁一凡，季伟伟，黄乐天，解维坤，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：