【技术实现步骤摘要】
一种用于负压隔离的全氮化镓集成负压生成电路
[0001]本专利技术属于半导体功率集成
,特别涉及一种用于负压隔离的全氮化镓集成负压生成电路。
技术介绍
[0002]作为第三代宽禁带半导体材料的氮化镓(GaN),具有3.4eV的禁带宽度、2.0W/(cm
·
K)的热导率、2000cm2/V
·
s的电子迁移率、3.5
×
106V/cm的临界击穿电场,且AlGaN/GaN异质结由于极化效应在结面产生的二维电子气(2DEG)具有极高的电荷密度,因此氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)具有比硅器件在更高频率、更高电压和更高温度下工作的能力,因而可以显著减小电源系统中电容、电感、变压器等无源器件的体积,降低对散热的需求,提升电源系统的功率密度,实现电源设备小型化和低碳化。现在已经广泛应用于开关电源、新能源汽车、光伏逆变器等领域。
[0003]目前GaN HEMT的主流应用方案仍是分立式增强型GaN器件结合Si基驱动器等外围电路部件焊接在印制电路板(PCB)上的分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于负压隔离的全氮化镓集成负压生成电路,其特征在于:包括分压电路、脉冲信号产生电路、第一电容充放电电路和第二电容充放电电路;所述分压电路包括第一D
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HEMT管和第一E
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HEMT管;第一D
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HEMT管的漏极接电源,其栅极和漏极短接,其漏极接第一E
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HEMT管的栅极和漏极,第一E
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HEMT管的源极接地,第一E
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HEMT管的漏极为分压电路的输出端;所述脉冲信号产生电路包括第二D
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HEMT管和第二E
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HEMT管;第二D
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HEMT管的漏极接分压电路的输出端,第二D
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HEMT管的栅极和源极短接后接第二E
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HEMT管的漏极,第二E
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HEMT管的栅极为负压生成电路的信号输入端,第二E
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HEMT管的源极接地,第二E
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HEMT管的漏极为脉冲信号产生电路的输出端;所述第一电容充放电电路包括第一二极管D1和第一电容C1;第一二极管D1的阳极通过第一电容C1后接脉冲信号产生电路的输出端,第一二极管D1的阴极接地;所述第二电容充放电电路包括第二二极管D2和第二电容C2;第二二极管D2的阴极接第一二极管D1的阳极,第二二极管D2的阳极接第二电容C2的一端,第二电容C2的另一端接地;第二电容C2的一端为负压生成电路的输出端;所述的脉冲信号生成电路用于与高压GaN功率器件的开关同步产生负向电压生成信号,用于控制第一电容充放电电路和第二电容充放电电路生成稳...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈万军,程峥,罗攀,孙瑞泽,张波,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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