一种折射率测试样品温度控制装置制造方法及图纸

本发明专利技术的名称为一种折射率测试样品温度控制装置。属于测试技术领域。它主要是解决光学材料折射率测试样品温度从低温到高温的精准控制问题。它的主要特征是：包括隔热仓、控温仓、加热装置、致冷装置、温控装置和真空系统；其中，所述控温仓设有样品室，并位于隔热仓内；所述隔热仓的侧壁上设有可使测试光通过隔热仓及样品室的通光板；所述真空系统与隔热仓相连通；所述加热装置和致冷装置设置于控温仓，并与温控装置电连接。本发明专利技术具有可避免低温时空气中水分在样品及通光平板表面形成凝霜、使测试光路稳定可靠和在

【技术实现步骤摘要】
一种折射率测试样品温度控制装置


[0001]本专利技术属于测试
，具体涉及一种折射率测试样品温度控制装置，主要用于光学材料折射率测试样品的自动温度控制。通过本专利技术设计的装置能够简便、准确控制样品温度，从而为样品不同温度下折射率的准确测试提供可靠的保证。

技术介绍

[0002]近年来，随着现代光电技术的发展，光学玻璃的应用范围越来越广，如监控、智能驾驶等采用的光学系统，随之而来的问题是如何提高光学系统在各种复杂环境下运行的稳定、高效，保证其在低温或高温环境下成像的清晰、流畅就是一个重要课题。而影响光学系统在复杂环境下的成像效果，其中一个重要因素就是各制作材料折射率温度系数的匹配，所以得到光学材料准确的折射率温度系数值，便是进行光学系统设计者迫切的希望。光学材料折射率温度系数可以通过测试其在不同温度下的折射率而求得，这就对测试样品温度的精准控制提出了要求。而现在市场上没有合适的温控设备，因此专利技术一种折射率测试样品温度控制装置，实现样品温度的自动控制，就显得非常必要。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的就是针对上述不足之处，提供一种适用于光学材料折射率测试样品温度控制装置，能够简便、快速实现样品温度的自动控制，为光学材料折射率温度系数的准确测试提供有力支持。
[0004]本专利技术的技术解决方案是：一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：包括隔热仓、控温仓、加热装置、致冷装置、温控装置和真空系统；其中，所述控温仓设有样品室，并位于隔热仓内；所述隔热仓的侧壁上设有可使测试光通过隔热仓及样品室的通光板；所述真空系统与隔热仓相连通；所述加热装置和致冷装置设置于控温仓，并与温控装置电连接。
[0005]本专利技术的技术解决方案中还包括隔热仓由隔热仓外筒、控温仓外壁、连接管和隔热仓盖板构成；所述连接管的上端口与隔热仓盖板封闭连接，下端口与控温仓外壁封闭连接；所述隔热仓盖板通过螺栓与隔热仓外筒上端口封闭连接。
[0006]本专利技术的技术解决方案中所述的控温仓采用导热性能良好的金属材料制作；所述样品室在控温仓中心镂空形成，为三棱镜状。
[0007]本专利技术的技术解决方案中所述的致冷装置包括液氮罐、液氮进管、液氮出管、液氮流量控制器和液氮导管；所述液氮导管设置在控温仓体内；所述液氮进管一端与液氮罐连接，另一端穿过隔热仓盖板并穿入连接管与液氮导管的一端连接，导管的另一端与穿过隔热仓盖板并穿入连接管的液氮出管连接。
[0008]本专利技术的技术解决方案中所述的液氮导管包括分布在样品室两侧的第一液氮导管和第二液氮导管，第一液氮导管设有第一液氮导管进口和第一液氮导管出口，第二液氮导管设有第二液氮导管进口和第二液氮导管出口。
[0009]本专利技术的技术解决方案中所述的加热装置为设置在控温仓底部的加热棒。
[0010]本专利技术的技术解决方案中所述的温控装置包括温度控制箱和设置在样品室内的测温热电偶；所述温度控制箱上安装有液氮流量控制表、加热棒控制表和测温仪表；所述液氮流量控制表与液氮流量控制器连接；所述隔热仓盖板上分布有导线接口和热电偶接口，导线接口和热电偶接口内侧分别与加热棒和测温热电偶电连接。
[0011]本专利技术的技术解决方案中所述的真空系统包括排气管、真空表、气阀、真空泵接口和真空泵；所述排气管从隔热仓盖板穿入隔热仓内。
[0012]本专利技术的技术解决方案中所述的隔热仓的侧壁上设有通光板安装槽；所述通光板通过通光板安装槽2固定在隔热仓侧壁上的圆形通光孔上，所述圆形通光孔周围有环状密封槽，密封槽内安装硅胶密封圈。
[0013]本专利技术的技术解决方案中所述的通光板采用圆柱状平行平板，面形精度应达到λ/10，λ=632.8nm，平行度不大于30
″
，在400nm～13000nm的透过率不低于80%。
[0014]本专利技术用于光学材料折射率测试样品时，先将被测样品置入控温仓中心的样品室固定，使其在测试光路中定位，再将隔热仓封闭，启动真空系统使隔热仓内腔真空度低于6
×
10
‑
2Pa，通过温控装置控制致冷装置和加热装置使样品温度达到目标值，外部光源发射出的光经处理后透过隔热仓一侧的通光板，照射到控温仓一侧的样品室通光孔进而投射到被测样品的通光表面，经过折射后从控温仓另一侧的通光孔射出，最后穿过隔热仓另一侧的通光板，通过测试光线的偏折角度，可实现控制温度下样品折射率的测试。
[0015]本专利技术的有益效果：本专利技术密封后抽真空，可保证内腔的真空度不高于6
×
10
‑
2Pa，避免了低温时空气中水分在样品及通光平板表面形成凝霜，也切断了控温仓热量向隔热仓辐射途径，保证了隔热仓通光孔上安装的通光平板与外部环境温度的稳定一致，将其在测试光路中定位，使测试光路稳定可靠，可有效保障折射率的测试精度；本专利技术通过温度控制箱的控制指令，调节液氮流量控制器开关阀或加热棒功率可精确控制样品温度，温度稳定后样品温度波动不大于0.1℃，各测温点显示温度的最大差值不大于0.2℃，为实现样品不同温度下折射率的准确测试提供了有力保障；本专利技术的温度控制范围可达到
‑
100℃～+200℃，涵盖了绝大部分光学系统运用环境温度条件。
[0016]本专利技术主要用于为光学材料折射率测试样品提供稳定、可靠的温度。
附图说明
[0017]图1是本专利技术光学材料折射率测试样品温度控制装置的结构示意图。
[0018]图2是本专利技术控温仓的结构示意图。
[0019]图中：1
‑
隔热仓；2
‑
通光板安装槽；3
‑
隔热仓盖板；4
‑
导线接口；5
‑
热电偶接口；6
‑
液氮连接管；7
‑
液氮流量控制器；8
‑
液氮导管接口；9
‑
液氮罐；10
‑
液氮出管；11
‑
排气管；12
‑
真空表；13
‑
气阀；14
‑
真空泵接口；15
‑
真空泵；16
‑
连接管；17
‑
控温仓；18
‑
样品室；19
‑
温度控制箱；20
‑
第一测温热电偶；21
‑
第二测温热电偶；22
‑
第三测温热电偶；23
‑
第一液氮导管进口；24
‑
第二液氮导管进口；25
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第一液氮导管出口；26
‑
第二液氮导管出口；27
‑
第一加热棒；28
‑
第二加热棒；29
‑
样品室盖板。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的描述。
[0021]本专利技术的光学材料折射率测试样品温度控制装置如图1、图2所示，主要由隔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：包括隔热仓（1）、控温仓（17）、加热装置、致冷装置、温控装置和真空系统；其中，所述控温仓（17）设有样品室（18），并位于隔热仓（1）内；所述隔热仓（1）的侧壁上设有可使测试光通过隔热仓（1）及样品室（18）的通光板；所述真空系统与隔热仓（1）相连通；所述加热装置和致冷装置设置于控温仓（17），并与温控装置电连接。2.根据权利要求1所述的一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：所述的隔热仓（1）由隔热仓外筒、控温仓外壁、连接管（16）和隔热仓盖板（3）构成；所述连接管（16）的上端口与隔热仓盖板（3）封闭连接，下端口与控温仓外壁封闭连接；所述隔热仓盖板（3）通过螺栓与隔热仓外筒上端口封闭连接。3.根据权利要求2所述的一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：所述的控温仓（17）采用导热性能良好的金属材料制作；所述样品室（18）在控温仓（17）中心镂空形成，为三棱镜状。4.根据权利要求3所述的一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：所述的致冷装置包括液氮罐（9）、液氮进管（6）、液氮出管（10）、液氮流量控制器（7）和液氮导管；所述液氮导管设置在控温仓（17）体内；所述液氮进管（6）一端与液氮罐（9）连接，另一端穿过隔热仓盖板（3）并穿入连接管（16）与液氮导管的一端连接，导管的另一端与穿过隔热仓盖板（3）并穿入连接管（16）的液氮出管（10）连接。5.根据权利要求4所述的一种折射率测试样品温度控制装置，其特征在于：所述的液氮导管包括分布在样品室（18）两侧的第一液氮导管和第二液氮导管，第一液氮导管设有第一液氮导管进口（23）和...

【专利技术属性】
技术研发人员：张庆，宫堂，王尧宏，杨东辉，
申请(专利权)人：湖北新华光信息材料有限公司，
类型：发明
国别省市：