一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及智能生产控制技术领域，提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统，所述方法包括：获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，分析得到N个生产流程链，生成N个控制模块；根据数据传感装置对第一陶瓷基片的实时生产数据进行监测，得到生产监测数据集，定位得到异常数据对应的异常流程节点，对N个控制模块分别进行控制效果评估，得到N个控制效果，对N个控制模块进行寻优，得到第一控制模块，解决了基片生产异常校正的效果不佳，生产控制精度低的技术问题，实现了针对基片生产异常，定位生产流程，分别进行控制效果评估，保障基片生产异常校正的效果，采用分布式控制的方式，提高生产控制精度的技术效果。提高生产控制精度的技术效果。提高生产控制精度的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统


[0001]本专利技术涉及智能生产控制相关
，具体涉及一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统。

技术介绍

[0002]陶瓷基板是一种广泛应用于电子领域的特殊工艺板，陶瓷基板具有优良电绝缘性能，高导热特性，优异的软钎焊性和高的附着强度，陶瓷基板作为大功率电力电子电路结构技术和互连技术的基础材料被大量使用。
[0003]在陶瓷基片生产的过程对设备和工艺控制要求较高，膏状浆料中的微气孔会降低了产品抗热冲击性；片状生坯厚度不足，在高温下片状生坯容易翘曲变形。
[0004]针对上述问题，当前本领域中常用的手段就是技术人员按照经验进行适当调整优化，不可避免的，人为调控的管控力度不足，若技术人员经验不足，还会出现不必要的成本浪费。
[0005]综上所述，现有技术中存在基片生产异常校正的效果不佳，生产控制精度低的技术问题。

技术实现思路

[0006]本申请通过提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统，旨在解决现有技术中的基片生产异常校正的效果不佳，生产控制精度低的技术问题。
[0007]鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统。
[0008]本申请公开的第一个方面，提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法，其中，所述方法应用于陶瓷基片模块化生产的管理系统，所述系统包括数据传感装置，所述方法包括：获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，模块化生产流程信息包括生产设备、生产参数、生产流程节点以及各个生产流程节点的连接关系；根据所述模块化生产流程信息进行分析，得到N个生产流程链，其中，每个生产流程链通过具有直接相关性的多个流程节点组合生成，N为大于0的正整数，且每个生产流程链的流程节点数量至少为2；基于所述N个生产流程链，生成N个控制模块；根据所述数据传感装置对所述第一陶瓷基片的实时生产数据进行监测，得到生产监测数据集；对所述生产监测数据集进行异常数据定位，得到异常数据对应的异常流程节点；以所述异常流程节点对所述N个控制模块分别进行控制效果评估，得到N个控制效果；基于所述N个控制效果对所述N个控制模块进行寻优，得到第一控制模块。
[0009]本申请公开的另一个方面，提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控系统，其中，所述系统包括：流程信息获得模块，用于获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，模块化生产流程信息包括生产设备、生产参数、生产流程节点以及各个生产流程节点的连接关系；生产流程链得到模块，用于根据所述模块化生产流程信息进行分析，得到N个生产流
程链，其中，每个生产流程链通过具有直接相关性的多个流程节点组合生成，N为大于0的正整数，且每个生产流程链的流程节点数量至少为2；控制模块生成模块，用于基于所述N个生产流程链，生成N个控制模块；实时监测模块，用于根据数据传感装置对所述第一陶瓷基片的实时生产数据进行监测，得到生产监测数据集；异常定位模块，用于对所述生产监测数据集进行异常数据定位，得到异常数据对应的异常流程节点；控制效果评估模块，用于以所述异常流程节点对所述N个控制模块分别进行控制效果评估，得到N个控制效果；控制模块寻优模块，用于基于所述N个控制效果对所述N个控制模块进行寻优，得到第一控制模块。
[0010]本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0011]由于采用了获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，分析得到N个生产流程链，生成N个控制模块；根据数据传感装置对第一陶瓷基片的实时生产数据进行监测，得到生产监测数据集，定位得到异常数据对应的异常流程节点，对N个控制模块分别进行控制效果评估，得到N个控制效果，对N个控制模块进行寻优，得到第一控制模块，实现了针对基片生产异常，定位生产流程，分别进行控制效果评估，保障基片生产异常校正的效果，采用分布式控制的方式，提高生产控制精度的技术效果。
[0012]上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
[0013]图1为本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法可能的流程示意图；
[0014]图2为本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法中得到N个生产流程链可能的流程示意图；
[0015]图3为本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法中异常数据定位可能的流程示意图；
[0016]图4为本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控系统可能的结构示意图。
[0017]附图标记说明：流程信息获得模块100，生产流程链得到模块200，控制模块生成模块300，实时监测模块400，异常定位模块500，控制效果评估模块600，控制模块寻优模块700。
具体实施方式
[0018]本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法及系统，解决了基片生产异常校正的效果不佳，生产控制精度低的技术问题，实现了针对基片生产异常，定位生产流程，分别进行控制效果评估，保障基片生产异常校正的效果，采用分布式控制的方式，提高生产控制精度的技术效果。
[0019]在介绍了本申请基本原理后，下面将结合说明书附图来具体介绍本申请的各种非限制性的实施方式。
[0020]实施例一
[0021]如图1所示，本申请实施例提供了一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法，其中，所述方法应用于陶瓷基片模块化生产的管理系统，所述系统包括数据传感装置，所述方法包括：
[0022]S10：获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，模块化生产流程信息包括生产设备、生产参数、生产流程节点以及各个生产流程节点的连接关系；
[0023]具体而言，所述第一陶瓷基片为陶瓷基片模块化生产的管理系统加工所得的产品，所述第一陶瓷基片的模块化生产流程信息包括生产设备(常见如：冲压成型设备组件、激光切割设备组件、高温成型设备组件)、生产参数(常见如：厚度设置数据、镀膜沉积速度)、生产流程节点(混合、干燥、通孔与烧结)以及各个生产流程节点的连接关系(第一步为混合，第二步为干燥，第三步为通孔，第四步为烧结)，为进行智能管控提供数据支持；
[0024]须知的，陶瓷基片生产流程可以是：第一步为混合：制备过程中先将陶瓷粉加入有机黏结剂，混合均匀后成为膏状浆料；第二步为干燥：将浆料制成片状，再通过干燥工艺使片状浆料形成生坯；第三步为通孔：依据各层的设计钻导通孔，采用丝网印刷金属浆料进行布线和填孔；第四步为烧结：将各生坯层叠加，置于高温炉(1600℃)中烧结而成。
[0025]S20：根据所述模块化生产流程信息进行分析，得到N个生产流程链，其中，每个生产流程链通过具有直接相关性的多个流程节点组合生成，N为大于0的正整数，且每个生产流程链的流程节点数量至少为2；
[0026]如图2所示，步骤S2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷基片模块化生产的智能管控方法，其特征在于，所述方法应用于陶瓷基片模块化生产的管理系统，所述系统包括数据传感装置，所述方法包括：获得第一陶瓷基片的模块化生产流程信息，模块化生产流程信息包括生产设备、生产参数、生产流程节点以及各个生产流程节点的连接关系；根据所述模块化生产流程信息进行分析，得到N个生产流程链，其中，每个生产流程链通过具有直接相关性的多个流程节点组合生成，N为大于0的正整数，且每个生产流程链的流程节点数量至少为2；基于所述N个生产流程链，生成N个控制模块；根据所述数据传感装置对所述第一陶瓷基片的实时生产数据进行监测，得到生产监测数据集；对所述生产监测数据集进行异常数据定位，得到异常数据对应的异常流程节点；以所述异常流程节点对所述N个控制模块分别进行控制效果评估，得到N个控制效果；基于所述N个控制效果对所述N个控制模块进行寻优，得到第一控制模块。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述模块化生产流程信息，获取第一初始节点；以所述第一初始节点对所有生产流程节点进行遍历，当上一节点与下一节点不存在连接关系时，将实时节点作为第二初始节点对所有生产流程节点进行遍历，以此类推，得到节点遍历结果；基于所述节点遍历结果，生成所述N个生产流程链。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述N个生产流程链中各个生产流程链对应的N组生产设备集，其中，每组生产设备集对应一个生产流程链；基于所述N组生产设备集，建立N个设备控制协议；将所述N个设备控制协议发送至所述N个控制模块对应的控制终端，用于以所述N个控制模块执行所述N组生产设备集的控制。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述生产监测数据集进行异常数据定位，得到异常数据对应的异常流程节点，方法还包括：获取所述第一陶瓷基片的历史生产监测数据集；基于所述历史生产监测数据集对各个生产设备的历史控制参数进行特征提取，得到控制参数特征；根据所述控制参数特征，搭建异常定位模型，其中，所述异常定位模型为控制参数
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被控设备的映射模型；基于所述异常定位模型对所述生产监测数据集进行异常数据定位。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，以所述异常流程节点对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙山鹏，周正余，郝干东，
申请(专利权)人：苏州暾达智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：