【技术实现步骤摘要】
用于验证存储器适当操作的错误纠正码校验位的冗余存储
[0001]分案说明
[0002]本申请是于2017年11月22日提交的申请号为201711172021.1、名称为“用于验证静态随机访问存储器的适当操作的错误纠正码校验位的冗余存储”的中国专利技术专利申请的分案申请。
[0003]本公开总体涉及一种用于存储数据的存储电路或系统，并且具体涉及通过测试冗余地存储的错误纠正码(ECC)校验位而验证存储器电路的适当操作。
技术介绍
[0004]许多系统包括用于存储应用数据的存储器电路。系统的适当操作取决于所存储的应用数据的准确性。然而，已知的是，存储器电路可以存储和/或检索包括码位错误的应用数据。例如，码位错误可以与用于向存储器写入应用数据有关的操作而引入。码位错误也可以与从存储器读取应用数据有关的操作而引入。也能够在由存储器存储应用数据的时间段期间引入码位错误。为了解决关于在应用数据中该码位错误的问题，现有技术已知在存储之前对应用数据应用错误纠正码(ECC)，在本领域也称作向前错误纠正(FEC)。该编码过程添加冗...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种操作存储器系统的方法，所述存储器系统包括存储器控制器、第一存储器和第二存储器，所述方法包括：当处于写入操作模式时，所述存储器控制器：将存储器地址应用于所述第一存储器和所述第二存储器两者；将具有对应的纠错码ECC校验位的应用数据写入到所述第一存储器中的所述存储器地址；以及将所述ECC校验位而非对应的所述应用数据写入所述第二存储器中的所述存储地址；当处于读取操作模式时，所述存储器控制器：将所述存储器地址应用于所述第一存储器和所述第二存储器两者；仅从所述第一存储器中的所述存储器地址读取所述ECC校验位和对应的应用数据；仅从所述第二存储器中的所述存储器地址获得所述ECC校验位；以及执行对仅从所述第一存储器读取的所述ECC校验位与从所述第二存储器获得的所述ECC校验位的逐位比较，以生成如下信号，该信号指示如果所述ECC校验位的所述逐位比较失败，则在所述第一存储器和所述第二存储器中的一个或多个存储器中存在故障。2.根据权利要求1所述的方法，还包括由所述存储器控制器对从主机系统接收的所述应用数据执行ECC处理以生成所述ECC校验位。3.根据权利要求1所述的方法，还包括由所述存储器控制器对所述应用数据和从所述第一存储器读取的所述ECC校验位执行ECC处理，以检测并校正所读取的所述应用数据中的数据错误。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一存储器和所述第二存储器各自包括SRAM阵列。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一存储器的存储器阵列大于所述第二存储器的存储器阵列。6.一种方法，包括：由存储器系统的存储器控制器写入应用数据：从所述应用数据计算纠错码ECC校验位；将应用数据和计算出的所述ECC校验位写入所述存储系统的第一存储器；以及将所述ECC校验位而非所述应用数据写入到所述存储器系统的第二存储器。7.根据权利要求6所述的方法，其中写入包括所述存储器控制器：响应于写入请求生成存储器地址；将所述应用数据和计算出的所述ECC校验位写入到所述存储器系统的所述第一存储器中的所述存储器地址；以及将所述ECC校验位而非所述应用数据写入到所述存储器系统的所述第二存储器中的相同的所述存储器地址。8.根据权利要求7所述的方法，其中所述第一存储器和所述第二存储器中的每个存储器包括SRAM阵列。9.根据权利要求7所述的方法，其中所述第一存储器的存储器阵列大于所述第二存储器的存储器阵列。10.权利要求7的方法，还包括：
由所述存储控制器读取应用数据：从所述第一存储器读取所述应用数据和ECC校验位；使用所读取的ECC校验位检测并校正所读取的应用数据中的错误；从所述第一存储器和所述第二存储器接收所述ECC校验位；以及执行对仅从所述第一存储器与从所述第二存储器接收的所述ECC校验位的逐位比较以生成如下信号，该信号指示如果所述ECC校验位的逐位比较失败，则在所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：O，
申请(专利权)人：意法半导体股份有限公司意法半导体格勒诺布尔二公司，
类型：发明
国别省市：
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