SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质，SandyMura量化方法包括：获取显示面板的检测图像，选取检测图像的一部分作为基准图像；将基准图像分别按照预设方向移动第一预设数量个像素得到若干个偏移图像；将基准图像分别减去偏移图像，得到若干个差异图像；对每一差异图像进行划分得到多个尺寸相同的矩形单元，分别计算每一差异图像中每一矩形单元的像素方差，得到若干个初始数组；根据若干个初始数组计算得到显示面板的SandyMura量化值。通过本发明专利技术，能够计算得出显示面板的SandyMura量化值，从而评估SandyMura的强弱程度，给存在SandyMura的显示面板评定等级。给存在SandyMura的显示面板评定等级。给存在SandyMura的显示面板评定等级。

【技术实现步骤摘要】
SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及显示面板检测
，尤其涉及一种SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]Mura是一个源自日语的英语单词，意思是不均匀、不一致或瑕疵。在显示面板领域，这个单词已经被采纳为LCD屏幕和OLED屏幕上看到的不一致和“云斑”效应的正式名称。显示面板上的Mura影响也称为亮度不均匀性，其会减损用户的观看体验，并可能会妨碍显示器的性能或功能。因此，Mura检测是显示面板缺陷检测中的一个重要环节，有助于筛除不合格的产品、为修复缺陷提供依据，以及分析缺陷的特点和产生原因以提高生产工艺水平。Mura的形状有多种，包括有条状、云状、沙砾状等等，其中，SandyMura(沙砾状的Mura)是一种在灰阶画面肉眼观察到的、满屏存在却又没办法用现有光学仪器测量量化的Mura。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中无法量化显示面板SandyMur本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SandyMura量化方法，其特征在于，所述SandyMura量化方法包括：获取显示面板的检测图像，选取所述检测图像的一部分作为基准图像；将所述基准图像分别按照预设方向移动第一预设数量个像素得到若干个偏移图像；将所述基准图像分别减去所述偏移图像，得到若干个差异图像；对每一所述差异图像进行划分得到多个尺寸相同的矩形单元，分别计算每一所述差异图像中每一所述矩形单元的像素方差，得到若干个初始数组；根据若干个所述初始数组计算得到所述显示面板的SandyMura量化值。2.如权利要求1所述的SandyMura量化方法，其特征在于，所述根据若干个所述初始数组计算得到所述显示面板的SandyMura量化值的步骤包括：去除每一所述初始数组中第二预设数量个最大的像素方差和所述第二预设数量个最小的像素方差，得到若干个第一参考数组；计算若干个所述第一参考数组中所有像素方差的平均数，得到所述显示面板的SandyMura量化值。3.如权利要求1所述的SandyMura量化方法，其特征在于，所述根据若干个所述初始数组计算得到所述显示面板的SandyMura量化值的步骤包括：去除每一所述初始数组中位于对应的所述差异图像外围一圈的所述矩形单元的像素方差，得到若干个第二参考数组；去除每一所述第二参考数组中最大的像素方差和最小的像素方差，得到若干个第三参考数组；计算若干个所述第三参考数组中所有像素方差的平均数，得到所述显示面板的SandyMura量化值。4.如权利要求1至3任一项所述的SandyMura量化方法，其特征在于，所述SandyMura量化方法包括：获取显示面板的检测图像，选取所述检测图像的一部分作为基准图像；将所述基准图像分别向上、下、左、右移动第一预设数量个像素得到上偏图像、下偏图像、左偏图像和右偏图像；将所述基准图像分别减去所述上偏图像、所述下偏图像、所述左偏图像和所述右偏图像，得到四个差异图像；对每一所述差异图像进行划分得到多个尺寸相同的矩形单元，分别计算每一所述差异图像中每一所述矩形单元的像素方差，得到四个初始数组；根据四个所述初始数组计算得到所述显示面板的SandyMura量化值。5.如权利要求4所述的SandyMura量化方法，其特征在于，所述获取显示面板的检测图像，选取所述检测图像的一部分作为基准图像的步骤包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：方锑，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：