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本发明提供一种SandyMura量化方法、装置、设备及可读存储介质，SandyMura量化方法包括：获取显示面板的检测图像，选取检测图像的一部分作为基准图像；将基准图像分别按照预设方向移动第一预设数量个像素得到若干个偏移图像；将基准图像分别...
该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。

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