适用不同ATE平台的芯片测试方法、装置、系统和存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种适用不同ATE平台的芯片测试方法、装置、系统和存储介质，所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，通过ATE平台向量库将测试程序进行平台化，平台化后的测试程序可以满足不同ATE平台的运行格式要求，在多种不同ATE平台之间实现了测试代码的复用和移植，大大降低了测试开发难度，而且还可以根据测试成本和精度要求选择合适的ATE平台，提高了芯片测试的灵活性以及测试开发效率。片测试的灵活性以及测试开发效率。片测试的灵活性以及测试开发效率。

【技术实现步骤摘要】
ATE平台时，进入步骤B2；步骤B2，上位机在测试程序的代码列的列前插入时间列，然后进入步骤B3；步骤B3，上位机在时间列的列前插入第一符号列，然后进入步骤B4；步骤B4，上位机在第一符号列的列前插入指令列，然后进入步骤B5；步骤B5，上位机在代码列的列后插入第二符号列，得到平台化后的测试程序；其中，平台化后的测试程序满足J750 ATE平台的运行格式要求。
[0008]进一步地，所述上位机将测试程序进行平台化，得到平台化后的测试程序的方法具体包括：步骤C1，上位机检测当前ATE平台的类型，当检测到当前ATE平台的类型是3380D ATE平台时，进入步骤C2；步骤C2，上位机在测试程序的代码列的列前插入第一符号列，然后进入步骤C3；步骤C3，上位机在代码列的列后插入第二符号列，然后进入步骤C4；步骤C4，上位机在第二符号列的列后插入指令列，得到平台化后的测试程序；其中，平台化后的测试程序满足3380D ATE平台的运行格式要求。
[0009]适用不同ATE平台的芯片测试装置，所述装置用于实现所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，所述装置包括上位机和ATE平台，其中，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.适用不同ATE平台的芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法具体包括：基于ATE平台的类型以及ATE平台向量库，上位机将测试程序进行平台化，得到平台化后的测试程序，然后通过ATE平台将ATE平台处理后的测试程序传输给待测芯片以进行芯片测试；其中，平台化后的测试程序满足当前ATE平台的运行格式要求。2.根据权利要求1所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，其特征在于，所述ATE平台向量库至少包括93K ATE平台化函数、J750 ATE平台化函数以及3380D ATE平台化函数中的一种。3.根据权利要求2所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，其特征在于，所述上位机将测试程序进行平台化，得到平台化后的测试程序的方法具体包括：上位机检测当前ATE平台的类型，然后根据当前ATE平台的类型调用ATE平台向量库中的93K ATE平台化函数或者J750 ATE平台化函数或者3380D ATE平台化函数，在测试程序的代码列的列前和/或列后插入指定的指令列、时间列和/或符号列，得到平台化后的测试程序；其中，平台化后的测试程序满足当前ATE平台的运行格式要求。4.根据权利要求3所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，其特征在于，所述上位机将测试程序进行平台化，得到平台化后的测试程序的方法具体包括：步骤A1，上位机检测当前ATE平台的类型，当检测到当前ATE平台的类型是93K ATE平台时，进入步骤A2；步骤A2，上位机在测试程序的代码列的列前插入时间列，然后进入步骤A3；步骤A3，上位机在时间列的列前插入指令列，得到平台化后的测试程序；其中，平台化后的测试程序满足93K ATE平台的运行格式要求。5.根据权利要求3所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，其特征在于，所述上位机将测试程序进行平台化，得到平台化后的测试程序的方法具体包括：步骤B1，上位机检测当前ATE平台的类型，当检测到当前ATE平台的类型是J750 ATE平台时，进入步骤B2；步骤B2，上位机在测试程序的代码列的列前插入时间列，然后进入步骤B3；步骤B3，上位机在时间列的列前插入第一符号列，然后进...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁永元，黄明强，
申请(专利权)人：珠海一微半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：