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本申请公开了一种适用不同ATE平台的芯片测试方法、装置、系统和存储介质，所述的适用不同ATE平台的芯片测试方法，通过ATE平台向量库将测试程序进行平台化，平台化后的测试程序可以满足不同ATE平台的运行格式要求，在多种不同ATE平台之间实现了...
该专利属于珠海一微半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海一微半导体股份有限公司授权不得商用。

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