基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统，实现步骤F1、获取第一数字电路和第二数字电路；步骤F2、设置第一覆盖点集合；步骤F3、将第m测试用例输入第一数字电路和第二数字电路，生成参考第m时序型覆盖数据库和目标第m时序型覆盖数据库；步骤F4、对比两个数据库中每一第一覆盖点对应的覆盖时间字段，将覆盖时间字段不同的覆盖信息记录作为候选覆盖信息记录；步骤F5、获取覆盖时间字段记录的覆盖时间最早的候选覆盖信息记录作为目标覆盖信息记录；步骤F6、基于目标覆盖信息记录确定调试结束时间和调试结束信号，基于所述调试结束时间和调试结束信号调试所述第一数字电路。本发明专利技术提高了回归测试的调试效率和准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统


[0001]本专利技术涉及数字电路验证
，尤其涉及一种基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统。

技术介绍

[0002]在数字电路验证过程中，通常需要多个测试用例进行回归测试，得到覆盖数据库，基于覆盖数据库得到覆盖率，对数字电路进行验证。而传统的覆盖数据库仅记录覆盖点是否被覆盖，然后通过回归测试，得到多个数据库的融合来获取设计的整体覆盖率。但是，由于数据量庞大，现有的覆盖数据库并没有记录覆盖点对应的覆盖时间，仅能从覆盖数据库中获知覆盖点是否被覆盖，无法获取覆盖点对应的覆盖时间，导致现有技术至少具有以下技术问题：
[0003](1)数字电路回归测试用例数量众多，需要消耗大量的计算资源，基于传统的覆盖数据库无法确定出有效的仿真时间段，从而使大量的计算资源用在无效的仿真，使得回归测试时间长，回归测试效率低。
[0004](2)使用随机约束产生测试向量是数字电路仿真验证的常用方法，但随机约束产生大量测试向量大多数对提高覆盖率没有贡献，基于传统的覆盖数据库无法确定出对覆盖率有贡献的测试向量，使得本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统，其特征在于，包括处理器和存储有计算机程序的存储器，当所述处理器执行所述计算机程序时，实现以下步骤：步骤F1、若数字电路当前回归测试失败，则将当前数字电路数据作为第一数字电路，所述第一数字电路对应的距离当前时刻最近的历史回归测试成功的数字电路数据作为第二数字电路；步骤F2、为所述第一数字电路和第二数字电路设置相同的第一覆盖点集合，所述第一覆盖点集合为待测数字电路覆盖点全集的子集，所述第一数字电路和第二数字电路为待测数字电路不同时间对应的数字电路数据；步骤F3、将第m测试用例分别输入所述第一数字电路和第二数字电路运行，生成第一数字电路对应的参考第m时序型覆盖数据库，以及第二数字电路对应的目标第m时序型覆盖数据库，所述参考第m时序型覆盖数据库和目标第m时序型覆盖数据库均用于存储第m测试用例对应的第一覆盖点集合中每一覆盖点的覆盖信息记录，所述覆盖信息记录包括覆盖点标识字段和覆盖时间字段；步骤F4、对比参考第m时序型覆盖数据库和目标第m时序型覆盖数据库中每一第一覆盖点对应的覆盖时间字段，将覆盖时间字段不同的覆盖信息记录作为候选覆盖信息记录；步骤F5、获取覆盖时间字段记录的覆盖时间最早的候选覆盖信息记录作为目标覆盖信息记录；步骤F6、基于目标覆盖信息记录确定调试结束时间和调试结束信号，基于所述调试结束时间和调试结束信号调试所述第一数字电路。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括用于存储历史回归测试成功的数字电路数据的数字电路数据库，所述步骤F1包括：步骤F1、从所述数字电路数据库中获取所述第一数字电路对应的距离当前时刻最近的历史回归测试成功的数字电路数据作为所述第二数字电路。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述覆盖时间字段用于存储覆盖点对应的覆盖时间索引，每一覆盖时间索引对应一个仿真时间，所述覆盖时间字段的设置相同的覆盖初始值，所述覆盖初始值表示对应的覆盖点未被覆盖。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述步骤F3包括：步骤F31、将第m测试用例输入第L数字电路中运行，L等于1或2；步骤F32、当监测到第L数字电路发生覆盖事件时，获取当前覆盖事件信息；步骤F33、解析所述当前覆盖事件信息，获取当前覆盖点标识，若当前覆盖点标识属于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶擎双，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司，
类型：发明
国别省市：