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本发明涉及一种基于时序型覆盖数据库的回归测试调试系统，实现步骤F1、获取第一数字电路和第二数字电路；步骤F2、设置第一覆盖点集合；步骤F3、将第m测试用例输入第一数字电路和第二数字电路，生成参考第m时序型覆盖数据库和目标第m时序型覆盖数据库...
该专利属于上海合见工业软件集团有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海合见工业软件集团有限公司授权不得商用。

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