基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统，实现步骤C1、从第m时序型覆盖数据库中获取第m测试用例的预设的第二覆盖点集合中每一覆盖点的覆盖信息记录；步骤C2、确定时间序列{T

【技术实现步骤摘要】
基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统


[0001]本专利技术涉及数字电路验证
，尤其涉及一种基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统。

技术介绍

[0002]在数字电路验证过程中，通常需要多个测试用例进行回归测试，得到覆盖数据库，基于覆盖数据库得到覆盖率，对数字电路进行验证。而传统的覆盖数据库仅记录覆盖点是否被覆盖，然后通过回归测试，得到多个数据库的融合来获取设计的整体覆盖率。但是，由于数据量庞大，现有的覆盖数据库并没有记录覆盖点对应的覆盖时间，仅能从覆盖数据库中获知覆盖点是否被覆盖，无法获取覆盖点对应的覆盖时间，导致现有技术至少具有以下技术问题：
[0003](1)数字电路回归测试用例数量众多，需要消耗大量的计算资源，基于传统的覆盖数据库无法确定出有效的仿真时间段，从而使大量的计算资源用在无效的仿真，使得回归测试时间长，回归测试效率低。
[0004](2)使用随机约束产生测试向量是数字电路仿真验证的常用方法，但随机约束产生大量测试向量大多数对提高覆盖率没有贡献，基于传统的覆盖数据库无法确定出对覆盖率有贡献的测试向本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于时序型覆盖数据库的有效执行区域确定系统，其特征在于，包括预先生成的第m时序型覆盖数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，m的取值范围为1到M，M为待测数字电路对应的测试用例总数，所述第m时序型覆盖数据库用于存储第m测试用例对应的第一覆盖点集合中每一覆盖点的覆盖信息记录，所述第一覆盖点集合为待测数字电路覆盖点全集的子集，所述覆盖信息记录包括覆盖点标识字段和覆盖时间字段，所述覆盖时间字段用于存储覆盖点对应的覆盖时间索引，每一覆盖时间索引对应一个仿真时间，所述覆盖时间字段的设置相同的覆盖初始值，所述覆盖初始值表示对应的覆盖点未被覆盖；当所述处理器执行所述计算机程序时，实现以下步骤：步骤C1、从所述第m时序型覆盖数据库中获取第m测试用例对应的预设的第二覆盖点集合中每一覆盖点对应的覆盖信息记录，所述第二覆盖点集合为所述第一覆盖点集合的子集；步骤C2、根据第二覆盖点集合中所有覆盖点对应的覆盖信息记录确定时间序列{T
x
，T
x+1
，
…
，T
y
‑1,T
y
}，T
i
第i个仿真时间，i的取值范围为x到y,T
x
为起点时间，T
y
为终点时间T
y
，x<y；步骤C3、从第二覆盖点集合中所有覆盖点对应的覆盖信息记录中，获取覆盖时间字段中首个覆盖时间索引为T
i
的覆盖点标识数量，记作T
i
的对应的覆盖点增量F
i
,生成{F
x
，F
x+1
，
…
F
y
‑1，F
y
}；步骤C4、基于{T
x
，T
x+1
，
…
，T
y
‑1,T
y
}、{F
x
，F
x+1
，
…
F
y
‑1，F
y
}确定待测第m测试用例对应的有效执行区域{W1，W2，
…
W
K
}，W
k
为第k个有效执行区域，k的取值范围为1到K，W
k
包括对应的执行区域起点时间t
xk
和执行区域终点时间t
yk
，W
k
中每一仿真时间对应的覆盖点增量均大于0，或者覆盖点增量连续等于0的时间间隔小于预设的第二间隔时间阈值。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括第m执行状态数据库，所述执行状态数据库用于存储待测数字电路基于第m测试用例的每一仿真时间对应的执行状态信息；所述步骤C4之后还包括：步骤C5、从所述第m执行状态数据库获取t
xk
对应的执行状态信息，作为W
k
的执行起点状态信息执行W
k
。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述步...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶擎双，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司，
类型：发明
国别省市：