一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及霍尔传感器技术领域，尤其涉及一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，该方法包括：在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。该方法对集成霍尔传感器芯片的噪声进行集成测量，精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度，还能将芯片的滞回值设定较小，使具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行。运行。运行。

【技术实现步骤摘要】
一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及霍尔传感器
，尤其涉及一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置。

技术介绍

[0002]如今，由于霍尔传感器利用霍尔效应识别各种数据，集成霍尔传感器芯片应用范围十分广泛，可用于检测温度、压力、位置、流量等数据。集成霍尔传感器芯片的输出阻抗大多都比较高，这就导致其输出信号衰减得厉害，芯片的输出信号容易被噪声信号所淹没。所以，噪声的存在就影响着集成霍尔传感器芯片的精度和分辨率。
[0003]关于集成霍尔传感器芯片的噪声测量，工业上一般采用外部的分离仪器进行测量，对芯片内部集成的噪声水平进行间接估算。现有集成霍尔传感器芯片内的噪声测量方法存在测定噪声干扰的精确度较低的问题。

技术实现思路

[0004]本申请实施例通过提供一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置，解决了现有技术中集成霍尔传感器芯片内的测定噪声干扰的精确度较低的技术问题，实现了对集成霍尔传感器芯片的噪声进行集成测量，精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度，还能将芯片的滞回值设定较小，使具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行等技术效果。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，包括：
[0006]在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；<br/>[0007]根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；
[0008]根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。
[0009]优选的，所述获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，包括：
[0010]针对所述多个霍尔信号周期值中的每个霍尔信号周期值，在控制所述集成霍尔传感器芯片的斩波放大电路的偏置参数从第一目标偏置参数逐渐增大的过程中和从第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获取第一目标值和第二目标值，其中，所述第二目标偏置参数大于所述第一目标偏置参数，所述偏置参数包括偏置电压或偏置电流；
[0011]根据所述第一目标值和所述第二目标值，得到所述霍尔信号周期值；
[0012]在所述每个霍尔信号周期值均执行上述操作之后，得到所述多个霍尔信号周期值。
[0013]优选的，获取所述第一目标值，包括：
[0014]在控制所述偏置参数从所述第一目标偏置参数逐渐增大的过程中，获得所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数确定为第一目标值。
[0015]优选的，获取所述第二目标值，包括：
[0016]在控制所述偏置参数从所述第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获得所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数第二目标值。
[0017]优选的，所述根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值，包括：
[0018]通过方差分析法或均值极差法，对所述多个霍尔信号周期值进行处理，得到所述噪声值。
[0019]优选的，所述根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值，包括：
[0020]将所述噪声值与所述霍尔信号的第一历史输出电压作和运算，得到第一目标翻转电压，其中，所述噪声滞回值包括所述第一目标翻转电压。
[0021]优选的，所述根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值，包括：
[0022]将所述噪声值与所述霍尔信号的第二历史输出电压作差运算，得到第二目标翻转电压，其中，所述噪声滞回值包括所述第二目标翻转电压，所述第二目标翻转电压小于所述第一目标翻转电压。
[0023]基于同一专利技术构思，第二方面，本专利技术还提供一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试装置，包括：
[0024]第一获取模块，用于在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；
[0025]第二获取模块，用于根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；
[0026]确定模块，用于根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。
[0027]基于同一专利技术构思，第三方面，本专利技术提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法的步骤。
[0028]基于同一专利技术构思，第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法的步骤。
[0029]本专利技术实施例中的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0030]在本专利技术实施例中，在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值。其中，霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值。这里，在电机停止输出后，在集成霍尔传感器芯片所处环境中的磁场是固定不变的条件下，控制斩波放大电路的偏置参数在第一目标偏置参数和第二目标偏置参数之间周期性变化，对集成霍尔传感器的芯片的霍尔元件进行集成测量，检测出多个霍尔信号周期值，以实现精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度。
[0031]接着，根据多个霍尔信号周期值，得到霍尔信号的噪声值，然后，根据噪声值，确定
霍尔信号的噪声滞回值。这里，根据霍尔信号的噪声值，确定出霍尔信号的噪声滞回值，即确定出集成霍尔传感器芯片的滞回值，以精准地确定噪声滞回值。因此能将集成霍尔传感器芯片的滞回值设定较小，支持具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行。
附图说明
[0032]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考图形表示相同的部件。在附图中：
[0033]图1示出了本专利技术实施例中的集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法的步骤流程示意图；
[0034]图2示出了本专利技术实施例中的集成霍尔传感器芯片的测试系统的模块示意图；
[0035]图3示出了本专利技术实施例中的集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试装置的模块示意图。
具体实施方式
[0036]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0037]实施例一
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，其特征在于，包括：在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，包括：针对所述多个霍尔信号周期值中的每个霍尔信号周期值，在控制所述集成霍尔传感器芯片的斩波放大电路的偏置参数从第一目标偏置参数逐渐增大的过程中和从第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获取第一目标值和第二目标值，其中，所述第二目标偏置参数大于所述第一目标偏置参数，所述偏置参数包括偏置电压或偏置电流；根据所述第一目标值和所述第二目标值，得到所述霍尔信号周期值；在所述每个霍尔信号周期值均执行上述操作之后，得到所述多个霍尔信号周期值。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述第一目标值，包括：在控制所述偏置参数从所述第一目标偏置参数逐渐增大的过程中，获得所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数确定为第一目标值。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述第二目标值，包括：在控制所述偏置参数从所述第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获得所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数第二目标值。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个霍尔信号周期值，...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜凯，杨承晋，刘涛，
申请(专利权)人：深圳市森国科科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：