【技术实现步骤摘要】
一种基于双外径量仪的纵磨控制方法
[0001]本专利技术涉及一种光轴加工技术，尤其涉及一种基于双外径量仪的纵磨控制方法。
技术介绍
[0002]在工件加工领域，工件表面粗糙度会影响工件寿命、密封性、和自身加工精度的提高。而纵磨外圆轴向表面粗糙度决定着工件表面的粗糙度，因此，确定纵磨外圆轴向表面粗糙度就显得至关重要。
[0003]现有技术中，如CN202010493607.3公开了一种外圆磨自适应高效率大磨削量纵磨方法，其在外圆磨工作台上安装一个径向量仪测量装置M，可以实时测量工件W的Q部位外径；该方法首先建立纵磨过程中有效进刀量x与工件外径变化量d关系模型x＝f(d)，然后，在实际每一趟纵磨过程中，检测工件外径变化量di，根据关系模型x＝f(d)计算当前有效进刀量xc的大小，并在下一趟纵磨前，自适应地把有效进刀量调整增加到最大允许值xmax。从而保证在每一趟纵磨过程中，砂轮对工件的有效进刀量都保持在最大允许值xmax，从而既符合工艺要求，也保证了加工安全，也实现了磨削去除效率最大化。
[0004]上述方法存在...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于双外径量仪的纵磨控制方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、机械设置在工作台上且对应工件的两端均布置有外径量仪；S2、通讯设置将两个外径量仪均与砂轮机构和工作台相通讯；S3、程序设置按照以下编写用于控制砂轮机构和工作台的控制器内的程序：S30、根据两个外径量仪的采集信号，进行初始加工；即当两个外径量仪的采集信号均为未到位信号时，进入正常加工程序；当其中一个外径量仪检测到到位信号时，进入补偿加工程序；S31、循环步骤S30所述的正常加工程序，直至其中一个外径量仪检测到到位信号，另一个外径量仪检测未到位，进入补偿加工程序，否则继续执行正常加工程序，直至加工完成。2.根据权利要求1所述的一种基于双外径量仪的纵磨控制方法，其特征在于：步骤S3中所述的正常加工程序设置为：砂轮由起始位置开始每对应一次工件端到端的移动进给一个补偿量L0。3.根据权利要求2所述的一种基于双外径量仪的纵磨控制方法，其特征在于：步骤S3中所述的补偿加工程序设置为：砂轮每返回一次起始位置，均同时查询两个外径量仪的采集信号，并在对应到位信号的外径量仪的位置不给进，在对应未检测到到位信号的外径量仪位置，进给补偿量，且在返回对应到位信号的外径量仪的位置，后退补偿量。4.根据权利要求3所述的一种基于双外径量仪的纵磨控制方法，其特征在于：在步骤S3中所述到位信号包括对应所述工件由内到外依次设置的粗磨到位信号、精磨到位信号和光磨到位信号；粗磨到位信号、精磨到位信号和光磨到位信号对应的进...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴桃，吴穗，李晓兵，代锡跃，
申请(专利权)人：重庆荆江汽车半轴股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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