一种用于FLASH型MCU的测试电路及测试方法技术

本发明专利技术公开了一种用于FLASH型MCU的测试电路及测试方法，属于芯片技术领域。本发明专利技术一种用于FLASH型MCU的测试电路，该电路包括协议解析模块、功能控制模块、外部控制系统以及待测电路；所述协议解析模块对外部控制系统发送的指令进行解析，将解析完成的信号送入功能控制模块；所述功能控制模块根据送入的数据获得命令和参数，用于启动相应子模块，子模块将激励送入待测电路，并接受待测电路的反馈将结果通过协议解析模块传输给外部控制系统；所述外部控制系统根据反馈确定本次测试结果；针对测试不同的电路，功能控制模块使用不同的子模块，实现对多种不同电路的测试。实现对多种不同电路的测试。实现对多种不同电路的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于FLASH型MCU的测试电路及测试方法


[0001]本专利技术属于芯片
，特别是涉及一种用于FLASH型MCU测试电路及测试方法。

技术介绍

[0002]MCU按其存储器类型可分为无片内ROM型和带片内ROM型两种。对于无片内ROM型的芯片，必须外接EPROM才能应用(典型为8031)；带片内ROM型的芯片又分为片内EPROM型(典型芯片为87C51)、MASK片内掩模ROM型(典型芯片为8051)、片内FLASH型(典型芯片为89C51)等类型；按用途可分为通用型和专用型；根据数据总线的宽度和一次可处理的数据字节长度可分为8、16、32位MCU；其中FLASH型MCU广泛地用于消费电子市场，FLASH的特点是结构简单，同样工艺和同样晶元面积下可以得到更高容量，且大数据量下的操作速度更快；MCU功能复杂，必须通过严格测试的才能保证其功能。当前测试多通过运行CPU对MCU进行测试，在测试过程中所需要的时间较长，消耗了大量的时间，在企业制造产品时带来诸多不便，因此，人们需要一种用于FLASH型MCU测试电路及测试方法来满足快速的完成MCU测试的需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种用于FLASH型MCU测试电路及测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种用于FLASH型MCU的测试电路，所述测试电路包含MCU微控制单元和外部控制系统；所述MCU微控制单元包括测试电路、CPU以及三个待测电路，所述三个待测电路即待测电路1、待测电路2和待测电路3；所述测试电路包括协议解析模块和功能控制模块；所述功能控制模块包含子模块1、子模块2和子模块3等若干子模块，其中子模块的个数可以根据需要进行增减；
[0005]所述协议解析模块对外部控制系统发送的指令进行解析，将解析完成的信号送入功能控制模块；所述功能控制模块根据协议解析模块送入的数据获得命令和参数，所述命令用于启动相应子模块，所述参数传送给子模块，用于子模块产生相应激励；所述子模块将激励送入待测电路，接受待测电路的反馈将结果通过协议解析模块传输给外部控制系统；所述外部控制系统对测试的结果进行判断；
[0006]针对测试不同的电路，功能控制模块使用不同的子模块，可以实现对多种不同电路的测试；
[0007]所述协议解析模块与外部控制系统进行信息交互，所述协议解析模块通过时钟线、数据输入线、数据输出线以及控制线与外部控制系统之间电性连接，其中外部控制系统的输出端通过时钟线、数据输入线和控制线电性连接协议解析模块输入端，协议解析模块输出端由数据输出线电性连接外部控制系统；所述协议解析模块与功能控制模块之间电性连接；所述功能控制模块分别与待测电路1、待测电路2和待测电路3之间电性连接；所述CPU与待测电路1、待测电路2和待测电路3之间电性连接。
[0008]根据上述技术方案，所述协议解析模块的控制线与MCU的外部复位引脚复用，且协议解析模块第一次通信只能在MCU处于复位状态时进行；
[0009]所述协议解析模块与功能控制模块之间电性连接，且协议解析模块通过时钟线、数据输入线、数据输出线以及控制线与外部控制系统之间电性连接。
[0010]根据上述技术方案，所述协议解析模块需要外部控制系统发送激活序列才能激活整个功能，外部控制系统发送激活序列必须处于MCU复位状态，外部控制系统可以通过控制线来强制MCU处于复位状态；当激活序列发送后，协议解析模块接收激活序列，并通过接收的激活序列激活整个测试电路，并反馈一段序列用于外部控制系统确认测试电路已激活；所述激活序列和反馈序列都是16bit的固定序列；
[0011]所述外部控制系统通过时钟线、数据输入线、数据输出线以及控制线与协议解析模块之间电性连接。
[0012]根据上述技术方案，所述功能控制模块包含多个针对各个待测电路的子模块，所述功能控制模块接受协议解析模块传输的数据，并对数据进行分析，得到相应的命令和参数，根据不同的命令启动不同的子模块，子模块根据相应的参数发出激励控制待测电路，并收集待测电路反馈的结果；
[0013]根据不同的命令启动不同的子模块有助于避免在数据输入时的意外冲突，减少了处理特定命令时必须注意的复杂性和可维护性，降低模块与模块之间的依赖关系体现低耦合，模块又有特定功能体现高内聚，既满足新需求又不影响当前的使用，并且进行变更的能力也得到了显著的提高，更容易构建和扩展；
[0014]所述功能控制模块与待测电路1、待测电路2和待测电路3之间电性连接，并与协议解析模块之间电性连接。
[0015]根据上述技术方案，所述子模块根据需要可以进行增减并且若干个子模块之间相对独立，可以方便的进行扩展和修改；不同的待测电路由不同的子模块进行控制；子模块可以针对不同需求进行定制，比如针对FLASH时，可以借助CPU控制FLASH的电路对FLASH进行控制；针对触摸电路时，子模块可以监测正常使用时不会用到的信号，如此就不需要专门将信号引出，减少了不必要的过程，大大提高了使用效率。
[0016]一种用于FLASH型MCU的测试电路的测试方法，该方法包括以下步骤：
[0017]S100：外部控制系统发送激活序列激活电路，激活测试电路后，通过控制线来强制MCU处于复位状态，并发送测试命令和数据；
[0018]S200：协议解析模块对命令和数据进行接收，解析完成后以信号方式送入功能控制模块并启动相应子模块，产生相应激励；
[0019]S300：子模块将激励送入待测电路，将接收的待测电路反馈结果返回至协议解析模块；
[0020]S400：协议解析模块将反馈结果传输至外部控制系统，以确定测试结果；完成所有命令的测试，将测试结果写入FLASH，结束测试。
[0021]根据上述技术方案，在步骤S100中，所述激活测试电路后，外部控制系统可以发送测试命令和数据，通过控制线传输至协议解析模块，所述控制线用于区别发送的是命令还是数据，所述命令用于启动功能控制模块针对待测电路的子模块；所述数据是子模块的参数，功能控制模块接收到协议解析模块的解析数据，从而确定命令和参数，根据不同的命令
启动不同的子模块，对于不同的子模块参数的含义和效果是不同的。
[0022]根据上述技术方案，在步骤S300中，功能控制模块使用不同的子模块同时实现对多条不同电路的测试；在步骤S300进行的同时，提前将测试程序写入FLASH，外部控制系统通过控制控制线来运行CPU，同时对其它电路进行测试。
[0023]更进一步的，步骤S300的步骤为：外部控制系统可以通过对应的子模块将测试程序写入FLASH，然后释放控制线，让CPU运行测试程序，同时可以继续控制测试电路进行测试，可以提升效率，节省时间；需要注意的是，测试电路和CPU不能同时对同一待测电路进行测试，否则测试结果肯定不正确；为保证测试的正常进行，测试电路相比于CPU拥有更高一级的权限，以保证测试电路的测试结果是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于FLASH型MCU的测试电路，其特征在于：所述测试电路包含MCU微控制单元和外部控制系统；所述MCU微控制单元包括测试电路、CPU以及三个待测电路，所述三个待测电路即待测电路1、待测电路2和待测电路3；所述测试电路包括协议解析模块和功能控制模块；所述功能控制模块包含若干个子模块；所述协议解析模块对外部控制系统发送的指令进行解析，将解析完成的信号送入功能控制模块；所述功能控制模块根据协议解析模块送入的数据获得命令和参数，所述命令用于启动相应子模块，所述参数传送给子模块，用于子模块产生相应激励，所述子模块将激励送入待测电路，接受待测电路的反馈将结果通过协议解析模块传输给外部控制系统；所述外部控制系统根据待测电路的反馈确定本次测试结果；所述外部控制系统的输出端通过时钟线、数据输入线和控制线电性连接协议解析模块输入端；协议解析模块输出端由数据输出线电性连接外部控制系统；所述协议解析模块与功能控制模块之间电性连接；所述功能控制模块与各个待测电路之间电性连接；所述CPU与待测电路之间电性连接。2.根据权利要求1所述的一种用于FLASH型MCU的测试电路，其特征在于：所述协议解析模块的控制线与MCU的外部复位引脚复用，且协议解析模块第一次通信只能在MCU处于复位状态时进行；所述协议解析模块与功能控制模块之间电性连接，且协议解析模块通过时钟线、数据输入线、数据输出线以及控制线与外部控制系统连接。3.根据权利要求2所述的一种用于FLASH型MCU的测试电路，其特征在于：所述协议解析模块第一次通信由外部控制系统发送激活序列，协议解析模块接收到激活序列后发送给外部控制系统反馈序列；所述激活序列和反馈序列是16bit的固定序列；所述外部控制系统通过时钟线、数据输入线、数据输出线以及控制线与协议...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓国贺，舒海军，
申请(专利权)人：海速芯杭州科技有限公司深圳海速芯业科技有限公司无锡市海速芯业电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：