一种易操作的内存条测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种易操作的内存条测试装置，属于内存条测试领域，包括测试架、测试台、推板、滑动架、滑动板和转动架；测试架上设置有滑动槽；滑动槽、滑动架、滑动板和转动架均设置有多个；滑动架滑动设置在滑动槽内；测试架上设置有用于驱动滑动架移动的推动机构；转动架转动设置在滑动架上；滑动板设置在转动架上；滑动板与滑动架滑动连接，且卡接；滑动板与测试架滑动，且卡接；推板设置在滑动板上。本实用新型专利技术将金手指压在测试台上，避免进行插拔，且能够对内存条进行固定。且能够对内存条进行固定。且能够对内存条进行固定。

【技术实现步骤摘要】
一种易操作的内存条测试装置


[0001]本技术涉及内存条测试领域，特别是涉及一种易操作的内存条测试装置。

技术介绍

[0002]内存条是可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件。内存条在个人电脑历史上曾经是主内存的扩展。随着电脑软、硬件技术不断更新的要求，内存条已成为读写内存的整体。我们通常所说电脑内存(RAM)的大小，即是指内存条的总容量。金手指(connectingfinger)是电脑硬件如：内存条上与内存插槽之间、显卡与显卡插槽等，之间的所有信号都是通过金手指进行传送。金手指由众多金黄色的导电触片组成，因其表面镀金而且导电触片排列如手指状，所以称为“金手指”[0003]常见的内存条测试装置，包括一主体部，形成于主体部上的内存条插槽，以及自主体部插槽相对另一侧的扩展卡，主体部内设有弹性接触片延伸至插槽的两侧以与插入的内存条上的金手指达成电性接触，弹性接触片的另一端则与扩展卡的引脚相接触。测试时，该测试装置的扩展卡插入测试主板上，将内存条插入测试装置的插槽中使其上的金手指与测试装置的弹性接触片相对应接触。
[0004]由于内存条在插入测试装置插槽的过程中，其上的金手指将与弹性接触片会发生摩擦，这种摩擦一方面会在内存条的金手指上留下划痕，破坏金手指表面的镀层；另一方面，在进行多次的插拔内存条的测试后，测试装置的弹性接触片亦会被磨损，极可能产生接触不良的现象，会影响测试的精确度或结果；当内存条在进行测试的过程中，由于震动等外界环境的影响，容易产生内存条一侧翘起甚至脱出，造成其与弹性接触片间的接触不良，进而降低测试的效率。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是针对
技术介绍
中存在的问题，提出一种将金手指压在测试台上，避免进行插拔，且能够对内存条进行固定的易操作的内存条测试装置。
[0006]本技术的技术方案：一种易操作的内存条测试装置，包括测试架、测试台、推板、滑动架、滑动板和转动架；
[0007]测试架上设置有滑动槽；滑动槽、滑动架、滑动板和转动架均设置有多个；滑动架滑动设置在滑动槽内；测试架上设置有用于驱动滑动架移动的推动机构；转动架转动设置在滑动架上；滑动板设置在转动架上；滑动板与滑动架滑动连接，且卡接；滑动板与测试架滑动，且卡接；推板设置在滑动板上。
[0008]优选的，推动机构包括安装架、导轨、弹性件和推杆；安装架设置在测试架的下端，导轨设置在安装架上，推杆滑动设置在导轨上；滑动架设置在推杆上；弹性件设置在导轨的外周侧，弹性件的两端分别与推杆和安装架连接。
[0009]优选的，测试架上设置有第一半圆角；滑动板与第一半圆角滑动连接。
[0010]优选的，滑动架上设置有第二半圆角；滑动板与第二半圆角滑动连接。
[0011]优选的，推板上设置有压板。
[0012]优选的，压板的下端设置有导向斜面。
[0013]优选的，推板上设置有弹性垫；弹性垫位于压板的下方。
[0014]与现有技术相比，本技术具有如下有益的技术效果：
[0015]本技术中，将内存条放置到测试架上，且内存条的金手指对准测试台，且防呆槽位置与测试台对应，将内存条放置到测试台上，且内存条压在测试台上，紧紧通过使得内存条的金手指与测试台通讯连接，测试台与测试装置通讯连接，通过弹性件推动推杆移动，推杆带动滑动架移动，滑动架带动转动架移动，转动架带动滑动板移动，滑动板带动推板移动，推板与内存条接触，推板带动压板移动，使得推板和压板抵在和压在内存条上，对内存条进行固定，将内存条压在测试台上，使得内存条能够与测试台牢靠的连接，能够避免在插拔时对内存条的金手指造成损坏，弹性垫能够对内存条的进行保护，启动测试装置，测试装置通电后，则能够对内存条进行检查，检测完成后，朝向远离测试台的方向推动推板，推板带动滑动板移动，由于滑动板的下端与测试架的平面滑动连接，导致推板和转动架无法翻转，能够防止推板在对内存条固定时翻转，当推板移动到测试架远离测试台的一侧的边缘处手，由于第一半圆角呈圆形结构，因此，滑动板能够相对滑动翻转，使得滑动板带动推板翻转，推板带动压板解除对内存条的限位，从而能够直接将内存条取出。
附图说明
[0016]图1为本技术中实施例的结构示意图；
[0017]图2为本技术中实施例的三维结构剖视图；
[0018]图3为本技术中实施例的局部结构示意图；
[0019]图4为图2中A处的局部放大结构示意图。
[0020]附图标记：1、测试架；101、滑动槽；102、第一半圆角；2、测试台；3、推板；4、压板；5、滑动架；501、第二半圆角；6、滑动板；7、转动架；8、推动机构；801、安装架；802、导轨；803、弹性件；804、推杆；9、弹性垫。
具体实施方式
[0021]如图1
‑
4所示，本技术提出的一种易操作的内存条测试装置，包括测试架1、测试台2、推板3、滑动架5、滑动板6和转动架7；
[0022]测试架1上设置有滑动槽101；滑动槽101、滑动架5、滑动板6和转动架7均设置有多个；滑动架5滑动设置在滑动槽101内；测试架1上设置有用于驱动滑动架5移动的推动机构8；转动架7转动设置在滑动架5上；滑动板6设置在转动架7上；滑动板6与滑动架5滑动连接，且卡接；滑动板6与测试架1滑动，且卡接；推板3设置在滑动板6上。
[0023]推动机构8包括安装架801、导轨802、弹性件803和推杆804；安装架801设置在测试架1的下端，导轨802设置在安装架801上，推杆804滑动设置在导轨802上；滑动架5设置在推杆804上；弹性件803设置在导轨802的外周侧，弹性件803的两端分别与推杆804和安装架801连接。
[0024]测试架1上设置有第一半圆角102；滑动板6与第一半圆角102滑动连接。滑动架5上设置有第二半圆角501；滑动板6与第二半圆角501滑动连接；第一半圆角102和第二半圆角
501能够提供滑动板6的转动空间，能够再滑动架5带动滑动板6移动到测试架1的边缘处时，转动推板3，使得推板3从内存条的上方移开，解除对内存条的限位，从而方便取出内存条，方便使用。
[0025]推板3上设置有压板4。压板4的下端设置有导向斜面。推板3上设置有弹性垫9；弹性垫9位于压板4的下方。
[0026]本实施例中，将内存条放置到测试架1上，且内存条的金手指对准测试台2，且防呆槽位置与测试台2对应，将内存条放置到测试台2上，且内存条压在测试台2上，紧紧通过使得内存条的金手指与测试台2通讯连接，测试台2与测试装置通讯连接，通过弹性件803推动推杆804移动，推杆804带动滑动架5移动，滑动架5带动转动架7移动，转动架7带动滑动板6移动，滑动板6带动推板3移动，推板3与内存条接触，推板3带动压板4移动，使得推板3和压板4抵在和压在内存条上，对内存条进行固定，将内存条压在测试台2上，使得内存条能够与测试台2牢靠的连接，能够避免在插拔时对内存条的金手指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种易操作的内存条测试装置，其特征在于，包括测试架(1)、测试台(2)、推板(3)、滑动架(5)、滑动板(6)和转动架(7)；测试架(1)上设置有滑动槽(101)；滑动槽(101)、滑动架(5)、滑动板(6)和转动架(7)均设置有多个；滑动架(5)滑动设置在滑动槽(101)内；测试架(1)上设置有用于驱动滑动架(5)移动的推动机构(8)；转动架(7)转动设置在滑动架(5)上；滑动板(6)设置在转动架(7)上；滑动板(6)与滑动架(5)滑动连接，且卡接；滑动板(6)与测试架(1)滑动，且卡接；推板(3)设置在滑动板(6)上。2.根据权利要求1所述的一种易操作的内存条测试装置，其特征在于，推动机构(8)包括安装架(801)、导轨(802)、弹性件(803)和推杆(804)；安装架(801)设置在测试架(1)的下端，导轨(802)设置在安装架(801)上，推杆(804)滑动设置在导轨(...

【专利技术属性】
技术研发人员：王祖连，张高峰，
申请(专利权)人：深圳市学而优科技实业有限公司，
类型：新型
国别省市：