一种用于芯片测试的多工位测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台，所述固定台内腔滑动设有移动架，所述固定台内腔底部固定设有移动机构，且移动架底部与移动机构连接，所述移动架内转动设有转轴，所述转轴上固定设有测试底座，所述测试底座上均匀开设有放置槽，所述固定台两侧固定安装有气缸，所述气缸顶端之间固定设有压板，所述压板上均匀开设有通孔，可以让测试底座转动，从而让适合的放置槽处于顶部的位置，可以对不同规格的芯片进行固定测试，提高其实用性，再让移动架带着芯片移动至固定台内后，再通过气缸让压板向下移动，从而进一步将芯片压稳在测试底座上，保证在测试时芯片的稳定性，从而提高其测试的准确性。从而提高其测试的准确性。从而提高其测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片测试的多工位测试治具


[0001]本技术涉及一种用于芯片测试的多工位测试治具，属于芯片测试


技术介绍

[0002]芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路；另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片在测试时，需要使用治具进行辅助测试。
[0003]专利号为202022552277.9的技术提供了一种翻转式芯片检测治具，包括基座、安装板、若干测试载台、压板、升降气缸、翻转气缸和固定板，该技术通过产品槽和支撑板之间弹簧的设置，使得产品槽在不工作的情况下处在自然舒张状态，起到保护PIN针的作用；但是这种结构安装板与测试载台都是固定的，而芯片的规格多种多样，对不同型号的芯片进行测试时，需要对放置芯片的载台进行更换，比较费时费力，降低了测试的效率。

技术实现思路

[0004]针对相关技术中的问题，本技术提出一种用于芯片测试的多工位测试治具，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。
[0005]为此，本技术采用的具体技术方案如下：
[0006]一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台，所述固定台内腔滑动设有移动架，所述固定台内腔底部固定设有移动机构，且移动架底部与移动机构连接，所述移动架内转动设有转轴，所述转轴上固定设有测试底座，所述测试底座上均匀开设有放置槽，所述固定台两侧固定安装有气缸，所述气缸顶端之间固定设有压板，所述压板上均匀开设有通孔。
[0007]作为优选，所述移动机构包括丝杆，且丝杆一端连接有步进电机，所述移动架底部通过移动块与丝杆滑动连接。
[0008]作为优选，所述固定台内壁上固定设有滑轨，移动架两侧通过滑条与滑轨连接，且移动架前侧固定设有挡板，且挡板上设有观察窗。
[0009]作为优选，所述移动架内腔底部固定安装有伺服电机，所述伺服电机输出轴与转轴一端均固定设有皮带轮，且皮带轮之间通过同步带连接。
[0010]作为优选，所述测试底座截面为正方形，且每一面上的放置槽大小均不相同，所述测试底座表面两端均开设有定位孔。
[0011]作为优选，所述压板底部固定设有定位杆，所述定位孔内腔固定设有缓冲块，且缓冲块底部固定设有缓冲弹簧，所述定位杆底端插入定位孔内，所述通孔的位置与放置槽的位置相对应。
[0012]本技术的有益效果是：
[0013]1、通过设置移动架，在使用时，可以让移动架从固定台内腔移动出来，从而使得测试底座漏出来，方便人们将芯片放在测试底座上，再移动至固定台内进行测试，操作方便；
[0014]2、通过设置测试底座，在对不同规格的芯片进行测试，可以在移动架出来后，让测试底座转动，从而让适合的放置槽处于顶部的位置，可以对不同规格的芯片进行固定测试，提高其实用性；
[0015]3、通过设置压板，移动架带着芯片移动至固定台内后，再通过气缸让压板向下移动，从而进一步将芯片压稳在测试底座上，保证在测试时芯片的稳定性，从而提高其测试的准确性。
附图说明
[0016]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的具体实施方式一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
[0017]图1是本技术一种用于芯片测试的多工位测试治具的整体结构示意图；
[0018]图2是本技术一种用于芯片测试的多工位测试治具的截面示意图；
[0019]图3是本技术一种用于芯片测试的多工位测试治具的剖视示意图；
[0020]图4是本技术一种用于芯片测试的多工位测试治具的图3中A处放大图；
[0021]图中标号：1、固定台；2、移动架；3、转轴；4、测试底座；5、放置槽；6、气缸；7、压板；8、通孔；9、丝杆；10、步进电机；11、移动块；12、滑轨；13、挡板；14、伺服电机；15、皮带轮；16、定位孔；17、定位杆；18、缓冲块。
具体实施方式
[0022]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图，这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0023]根据本技术的实施例，提供了一种用于芯片测试的多工位测试治具。
[0024]实施例一
[0025]如图1
‑ꢀ
4所示，根据本技术实施例的一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台1，所述固定台1内腔滑动设有移动架2，所述固定台1内腔底部固定设有移动机构，且移动架2底部与移动机构连接，所述移动架2内转动设有转轴3，所述转轴3上固定设有测试底座4，所述测试底座4上均匀开设有放置槽5，所述固定台1两侧固定安装有气缸6，所述气缸6顶端之间固定设有压板7，所述压板7上均匀开设有通孔8，所述移动机构包括丝杆9，且丝杆9一端连接有步进电机10，所述移动架2底部通过移动块11与丝杆9滑动连接，所述固定台1内壁上固定设有滑轨12，移动架2两侧通过滑条与滑轨12连接，且移动架2前侧固定设有挡板13，且挡板13上设有观察窗，可以让移动架2在移动时更加平稳，保证芯片放置后不会出现位移的情况，而挡板13可以在移动架2进入固定台1后将其侧面挡住，避免在测试时出现意外。
[0026]实施例二
[0027]如图1
‑ꢀ
4所示，根据本技术实施例的一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台1，所述固定台1内腔滑动设有移动架2，所述固定台1内腔底部固定设有移动机构，且移动架2底部与移动机构连接，所述移动架2内转动设有转轴3，所述转轴3上固定设有
测试底座4，所述测试底座4上均匀开设有放置槽5，所述固定台1两侧固定安装有气缸6，所述气缸6顶端之间固定设有压板7，所述压板7上均匀开设有通孔8，所述移动架2内腔底部固定安装有伺服电机14，所述伺服电机14输出轴与转轴3一端均固定设有皮带轮15，且皮带轮15之间通过同步带连接，在需要时，可以通过伺服电机14带动测试底座4旋转一定的角度，从而让放置槽5更加适合测试的芯片，增加其实用性，所述测试底座4截面为正方形，且每一面上的放置槽5大小均不相同，所述测试底座4表面两端均开设有定位孔16。
[0028]实施例三
[0029]如图1
‑ꢀ
4所示，根据本技术实施例的一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台1，所述固定台1内腔滑动设有移动架2，所述固定台1内腔底部固定设有移动机构，且移动架2底部与移动机构连接，所述移动架2内转动设有转轴3，所述转轴3上固定设有测试底座4，所述测试底座4上均匀开设有放置槽5，所述固定台1两侧固定安装有气缸6，所述气缸6顶端之间固定设有压板7，所述压板7上均匀开设有通孔8，所述压板7底部固定设有定位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试的多工位测试治具，包括固定台（1），其特征在于：所述固定台（1）内腔滑动设有移动架（2），所述固定台（1）内腔底部固定设有移动机构，且移动架（2）底部与移动机构连接，所述移动架（2）内转动设有转轴（3），所述转轴（3）上固定设有测试底座（4），所述测试底座（4）上均匀开设有放置槽（5），所述固定台（1）两侧固定安装有气缸（6），所述气缸（6）顶端之间固定设有压板（7），所述压板（7）上均匀开设有通孔（8）。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述移动机构包括丝杆（9），且丝杆（9）一端连接有步进电机（10），所述移动架（2）底部通过移动块（11）与丝杆（9）滑动连接。3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试的多工位测试治具，其特征在于：所述固定台（1）内壁上固定设有滑轨（12），移动架（2）两侧通过滑条与滑轨（12）连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣国青，韦玮，欧阳文坚，
申请(专利权)人：三公井精密科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：