烹饪器具制造技术

本实用新型专利技术的实施例提供了一种烹饪器具，烹饪器具包括：器具本体；面板，设于器具本体，并与器具本体围设形成安装腔；电磁线圈加热件，设于安装腔内，电磁线圈加热件包括线圈盘；以及多个测温元件，设于面板朝向安装腔的一侧，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线；其中，至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距小于第一预设间距；或至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘的中轴线之间的间距小于第二预设间距。减小或消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。板开裂的风险。板开裂的风险。

【技术实现步骤摘要】
烹饪器具


[0001]本技术的实施例涉及生活电器
，具体而言，涉及一种烹饪器具。

技术介绍

[0002]目前，常规的高硼硅玻璃无法应用在电磁灶上面，因为高硼硅玻璃耐温通常<380℃，而锅具干烧时锅底温度能达到500℃以上，容易造成玻璃破裂。
[0003]相关技术中，在高硼硅玻璃底部设置NTC(也可以是其他测温组件)，在锅具发生干烧的时候，锅底温度能够快速的传寄给NTC，NTC从而切断电磁加热避免高硼硅玻璃破裂，为了解决在电磁加热任意区域均可快速保护高硼硅玻璃破裂，需要在玻璃底部设置大量的NTC。
[0004]然而，大量的NTC需要和主控板连接进行稳定的数据交换，而NTC下方即为电磁加热区域，电磁场非常强，且较强的电磁场会对NTC与主控板的连接线产生干扰，导致NTC不能及时检测锅具的干烧情况，增加高硼硅玻璃面板破裂的风险。

技术实现思路

[0005]本技术的实施例旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0006]为此，本技术的实施例的第一方面提供了一种烹饪器具。
[0007]有鉴于此，根据本技术的实施例的第一方面，提供了一种烹饪器具，烹饪器具包括：器具本体；面板，设于器具本体，并与器具本体围设形成安装腔；电磁线圈加热件，设于安装腔内，电磁线圈加热件包括线圈盘；以及多个测温元件，设于面板朝向安装腔的一侧，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线；其中，至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距小于第一预设间距；或至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘的中轴线之间的间距小于第二预设间距。
[0008]本技术实施例提供的烹饪器具包括器具本体、面板、电磁线圈加热件和多个测温元件，具体而言，面板设置在器具本体上，且面板与器具本体围合形成安装腔，电磁线圈加热件设置在安装腔内。能够理解的是，导磁锅具可取放地设于面板上，其中，烹饪器具可以包括导磁锅具，当然，也可以是用户家用的导磁锅具。
[0009]电磁线圈加热件在启动工作时，能够产生电磁场，电磁场作用在导磁锅具上，从而使导磁锅具产生涡流而发热，进而实现对导磁锅具内食材的烹饪。其中，电磁线圈加热件包括线圈盘。
[0010]可以理解的是，当导磁锅具发生干烧时，锅底温度能够达到500℃以上，而面板一般采用高硼硅玻璃面板，相较于采用微晶玻璃材料制造的面板而言，降低烹饪器具的生产成本。但是高硼硅玻璃面板的耐热温度通常小于380℃，当导磁锅具发生干烧时，易导致高硼硅玻璃面板因受热过高而具有破裂的风险。
[0011]通过在面板的内表面设置多个测温元件，当锅具发生干烧时，锅底温度能够传递给测温元件，以使烹饪器具的主控板根据测温元件的测温数据降低电磁线圈加热件的加热
功率或控制电磁线圈加热件停止工作，进而防止锅具持续干烧的同时，降低面板因受热过高而破裂的风险，延长烹饪器具的使用寿命。
[0012]在实际应用中，多个测温元件相互间隔设置，从而增大测温元件的测温区域，以在面板的任意局部区域发生干扰都能被及时检测到，进一步降低面板开裂的风险。
[0013]烹饪器具还包括主控板，主控板与测温元件的引出线相连，以使测温元件能够将测得的温度数据传递给主控板，即多个测温元件通过引出线与主控板进行稳定的数据交换。由于多个测温元件的下方即为电磁线圈加热件的线圈盘，当电磁线圈加热件开始工作时，线圈盘产生的电磁场非常强，会对多个测温元件的引出线产生干扰，降低测温元件对锅具测得温度的准确性，增加面板开裂的风险。
[0014]第一种方案，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线，其中，多个测温元件中至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距小于第一预设间距，也就是说，将至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小。能够理解的是，第一引出线与第二引出线阻抗接近，将至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距设置的较小，可以使第一引出线和第二引出线的磁场干扰强度接近，从而使第一引出线与第二引出线之间的共膜磁场噪音被消除，即消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。
[0015]值得说明的是，每个测温元件的第一引出线和第二引出线的延伸方向相同，并小于第一预设间距，即将每个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小，进而能够提高多个测温元件测温的准确性，进一步降低面板锅具干烧而受热过高，进而发生开裂的风险。
[0016]第二种方案，每个测温元件包括第一引出线和第二引出线，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距小于第二预设间距，也就是说，将至少一个第一引出线或第一引出线的延长线与线圈盘的中轴线之间的间距较小，近乎相交，从而使得第一引出线的延伸方向与线圈盘产生的电磁场近乎垂直，从而使得电磁场对第一引出线不做功或做较少的功，进而减小电磁场对第一引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。
[0017]进一步地，至少一个第二引出线沿线圈盘的周向并靠近面板的外边缘设置，也就是说，将至少一个第二引出线尽可能地远离电磁场进行绕设，进而降低电磁场对至少一个第二引出线的干扰，进一步提高至少一个测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，进一步降低面板开裂的风险。
[0018]在实际应用中，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线经过中轴线，也就是说，至少一个第一引出线或至少一个第一引出线的延长线与线圈盘中轴线之间的间距等于0，以使至少一个第一引出线与电磁场垂直，进而消除电磁场对第一引出线的干扰，进一步提高测温元件测温的准确性。
[0019]此外，每个测温元件的第一引出线或第一引出线的延长线经过线圈盘的中轴线，以进一步降低电磁场对每个测温元件的第一引出线的干扰，进一步提高多个测温元件测温的准确性。
[0020]可以理解的是，线圈盘的横截面形状为圆形，线圈盘的中轴线即为沿线圈盘轴向
方向并穿过该圆形圆心的唯一的一条线。
[0021]另外，根据本技术上述技术方案提供的烹饪器具，还具有如下附加技术特征：
[0022]在一种可能的技术方案中，第一引出线与第二引出线之间的间距d1满足d1＜1cm。
[0023]在该技术方案中，第一引出线与第二引出线之间的间距小于1cm，也就是说，将至少一个测温元件的第一引出线和第二引出线之间的间距设置的较小。能够理解的是，第一引出线与第二引出线阻抗接近，将至少一个测温元件的第一引出线与第二引出线之间的间距设置的较小，可以使第一引出线和第二引出线的磁场干扰强度接近，从而使第一引出线与第二引出线之间的共膜磁场噪音被消除，即消除了电磁场对第一引出线和第二引出线的干扰，提高测温元件测温的准确性，进而能够在及时判断锅具是否干烧的同时，降低面板开裂的风险。
[0024]值得说本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种烹饪器具，其特征在于，包括：器具本体；面板，设于所述器具本体，并与所述器具本体围设形成安装腔；电磁线圈加热件，设于所述安装腔内，所述电磁线圈加热件包括线圈盘；以及多个测温元件，设于所述面板朝向所述安装腔的一侧，每个所述测温元件包括第一引出线和第二引出线；其中，至少一个所述测温元件的所述第一引出线与所述第二引出线之间的间距小于第一预设间距；或至少一个所述第一引出线或至少一个所述第一引出线的延长线与所述线圈盘的中轴线之间的间距小于第二预设间距。2.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，所述第一引出线与所述第二引出线之间的间距d1满足d1＜1cm。3.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，每个所述测温元件的所述第一引出线与所述第二引出线的延伸方向相同，每个所述测温元件的所述第一引出线与所述第二引出线之间的间距小于所述第一预设间距。4.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，至少一个所述第一引出线或至少一个所述第一引出线的延长线经过所述线圈盘的中轴线。5.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，所述烹饪器具还包括：连接端，与多个所述第一引出线相连，至少一个所述第一引出线的延长线经过所述线圈盘的中轴线。6.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，至少一个所述第二引出线沿所述线圈盘的周向并靠近所述面板的外边缘设置。7.根据权利要求1所述的烹饪器具，其特征在于，所述烹饪器具还包括：接线端子，与每个所述测温元件的第一引出线和第二引出线相连。8.根据权利要求7所述的烹饪器具，...

【专利技术属性】
技术研发人员：马志海，万鹏，李小辉，周瑜杰，杨玲，麦广添，黄庶锋，何少华，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：