本发明专利技术涉及极片检测附属装置的技术领域，特别是涉及一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，可以非常便捷高效的对极片进行厚度检测，消除热漂移和压力传感器变形的影响，提高极片厚度检测的效率和精度，包括支撑框架、施压组件和测量组件。支撑组件包括第一固定板、第二固定板、第一立柱和第二立柱，第一立柱和第二立柱的底端分别与第二固定板顶端的左右两侧连接，第一固定板底端的左右两侧分别与第一立柱和第二立柱的顶端连接。施压组件包括电动伸缩杆，电动伸缩杆安装在第一固定板的顶端中部，电动伸缩杆设置有直驱电机和丝杠。杠。杠。
【技术实现步骤摘要】
一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置
[0001]本专利技术涉及极片检测附属装置的
，特别是涉及一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置。
技术介绍
[0002]众所周知，随着锂离子电池在航空航天、特种装备、新能源汽车、电脑、手机等领域广泛应用，人们对其能量密度、生产效率、安全性、寿命等关注越来越高。锂离子电池生产包含多个工艺过程，其中极片是电池前端工序的一个重要输出，其电阻、电导率影响全电池的功率性、可靠性及安全性，同时它又与搅拌、涂布和辊压工序息息相关。因此，测量极片电阻的变化可以较好地判断其微观结构的均匀性、预测电池的性能，也可协助极片的配方改进、制作工艺改进，以此提高生产效率，而极片检测中用到最多的就是极片电阻测量仪，其在极片检测的领域中得到了广泛的使用。
[0003]现有的极片厚度测量仪在测量时，较多采用直接测量方式，通过与压头固定的位移传感器来测量未加载和加载一定应力两种状态下的位移差值，作为加载下压量，用初始值减去加载下压量获得加载厚度。
[0004]现有的极片电阻测量仪在测量中发现，现有的测量方法会受到压头系统的变形、力传感器变形的影响，导致加载厚度的测量结果偏小，从而导致极片电阻率测量误差。即使通过双位移传感器取平均等方式减小了结构不平衡带来的影响，这个误差依然较大，这就造成极片检测的精度较低，检测结果不可靠，容易出现质量问题，从而导致实用性较差。
技术实现思路
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种可以非常便捷高效的对极片进行厚度检测，消除热漂移和压力传感器变形的影响，提高极片厚度检测的效率和精度，从而增强实用性的应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置。
[0006]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，包括支撑框架、施压组件和测量组件。
[0007]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，支撑组件包括第一固定板、第二固定板、第一立柱和第二立柱，第一立柱和第二立柱的底端分别与第二固定板顶端的左右两侧连接，第一固定板底端的左右两侧分别与第一立柱和第二立柱的顶端连接。
[0008]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，施压组件包括电动伸缩杆，电动伸缩杆安装在第一固定板的顶端中部，电动伸缩杆设置有直驱电机和丝杠。
[0009]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，测量组件包括壳体、第三固定板、位移传感器、两组导向柱、导向柱支撑组件、压力传感器、第一端子、第一端子固定组件、圆环参比、第二端子和第二端子固定组件，壳体安装在电动伸缩杆的输出端，壳体内设置有工作腔，第三固定板安装在工作腔的顶端，位移传感器的顶端与工作腔的顶
端中部连接，两组导向柱的输出端分别与第三固定板底端的左右两侧连接，两组导向柱的底端分别与导向柱支撑组件顶端的左右两侧连接，圆环参比顶端与导向柱支撑组件的底端连接，工作腔的底端设置有圆孔，圆环参比与圆孔滑动连接，第一端子固定组件的顶端与位移传感器的底端连接，第一端子安装在第一端子固定组件的底端，圆环参比的底端中部设置有滑动孔，第一端子与滑动孔滑动连接，压力传感器套装在第一端子固定组件上，第二端子固定组件安装在第二固定板的顶端中部，第二端子安装在第二端子固定组件的顶端中部。
[0010]与现有技术相比本专利技术的有益效果为：在进行极片的高精度加载厚度测试时，可以操作施压组件中的电动伸缩杆输出带动测量组件整体下降，进行精准的位移和加载，当底端的圆环参比接触到极片的顶端表面后，圆环参比等组件停止动作，第一端子等测量组件继续向下运动，此时第一端子固定组件和位移传感器的导向外环发生相对滑动，由于位移传感器的读数头与圆环参比等组件相对静止，所以位移传感器此时所测得的相对纵向差动就是第一端子和圆环参比的相对总想差动，也就是第一端子与样品表面的相对位移，然后通过加载后的相对位移得到极片的厚度数值，圆环参比在极片厚度测量过程中可以追踪极片表面，即可以始终根据当前的表面位置来测量极片厚度。同时，这种独特的表面参比设计，可以实时消除热漂移的影响，即在安装样品后可以立即开始测量，保证了高精度的极片厚度的测量，实现快速、批量极片测试。还可以消除压力传感器的变形，提高位移传感器的采集精度，实现精密、超精密的极片厚度测量；通过该装置，可以非常便捷高效的对极片进行厚度检测，消除热漂移和压力传感器变形的影响，提高极片厚度检测的效率和精度，从而增强了实用性。
附图说明
[0011]图1是本专利技术的结构示意图；图2是本专利技术的圆环参比结构示意图；图3是本专利技术的下压样品后活动组件结构示意图；图4是本专利技术的下压样品后固定组件结构示意图；附图中标记：1、第一固定板；2、第一立柱；3、第二立柱；4、第二固定板；5、第三固定板；6、位移传感器；7、导向柱；8、压力传感器；9、导向柱支撑组件；10、圆环参比；11、第一端子；12、第二端子；13、第二端子固定组件；14、电动伸缩杆；15、壳体；16、第一端子固定组件。
实施方式
[0012]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。
[0013]如图1至图4所示，本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，包括支撑框架、施压组件和测量组件；在进行极片的高精度加载厚度测试时，可以操作施压组件中的电动伸缩杆输出带动测量组件整体下降，进行精准的位移和加载，当底端的圆环参比接触到极片的顶端表面后，圆环参比等组件停止动作，第一端子等测量组件继续向下运动，此时第一端子固定组件和位移传感器的导向外环发生相对滑动，由于位移传感器的读数头与圆环参比等组件相对静止，所以位移传感器此时所测得的相对纵向差动就是
第一端子和圆环参比的相对总想差动，也就是第一端子与样品表面的相对位移，然后通过加载后的相对位移得到极片的厚度数值，圆环参比在极片厚度测量过程中可以追踪极片表面，即可以始终根据当前的表面位置来测量极片厚度。同时，这种独特的表面参比设计，可以实时消除热漂移的影响，即在安装样品后可以立即开始测量，保证了高精度的极片厚度的测量，实现快速、批量极片测试。还可以消除压力传感器的变形，提高位移传感器的采集精度，实现精密、超精密的极片厚度测量；通过该装置，可以非常便捷高效的对极片进行厚度检测，消除热漂移和压力传感器变形的影响，提高极片厚度检测的效率和精度，从而增强了实用性。
[0014]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，支撑组件包括第一固定板1、第二固定板4、第一立柱2和第二立柱3，第一立柱2和第二立柱3的底端分别与第二固定板4顶端的左右两侧连接，第一固定板1底端的左右两侧分别与第一立柱2和第二立柱3的顶端连接；支撑组件可以对整组厚度测量装置提供稳定的测量支架，提高设备动作的统一性和精准性，从而增强了实用性。
[0015]本专利技术的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，施压组件包括电动伸缩杆14，电动伸缩杆14安本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，其特征在于，包括支撑框架、施压组件和测量组件。2.如权利要求1所述的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，其特征在于，支撑组件包括第一固定板（1）、第二固定板（4）、第一立柱（2）和第二立柱（3），第一立柱（2）和第二立柱（3）的底端分别与第二固定板（4）顶端的左右两侧连接，第一固定板（1）底端的左右两侧分别与第一立柱（2）和第二立柱（3）的顶端连接。3.如权利要求2所述的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，其特征在于，施压组件包括电动伸缩杆（14），电动伸缩杆（14）安装在第一固定板（1）的顶端中部，电动伸缩杆（14）设置有直驱电机和丝杠。4.如权利要求3所述的一种应用于极片电阻测试的高精度加载厚度测量装置，其特征在于，测量组件包括壳体（15）、第三固定板（5）、位移传感器（6）、两组导向柱（7）、导向柱支撑组件（9）、压力传感器（8）、第一端子（11）、第一端...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈刚，林强，李雪松，刘媛，任晓文，潘争，
申请(专利权)人：凯尔测控技术天津有限公司，
类型：发明
国别省市：
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