一种适用于微区分析的样品共享定位平台制造技术

本发明专利技术提供一种适用于微区分析的样品共享定位平台，涉及样品分析领域。该适用于微区分析的样品共享定位平台，包括工作台和扫描电镜，所述工作台顶部设置有坐标参照轴，所述坐标参照轴与扫描电镜之间设置有限位环架、样本台、丝杆、正反电机、导向杆和液压缸。该适用于微区分析的样品共享定位平台，控制样本台移动使检测坐标点与观察坐标点重合，即可使前次进行检测时的视域移动到第二个工作台上透射电镜、FIB、光学显微镜、显微红外等设备检测光路中，通过限位环架、样本台、丝杆、正反电机、液压缸、触摸控制屏等零件组成样品共享定位平台，可以使样本台内部样本需要多次检测时被检测视域在同一位置，提高对样本检测的科学性和严谨性。谨性。谨性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于微区分析的样品共享定位平台


[0001]本专利技术涉及一种定位平台，具体为一种适用于微区分析的样品共享定位平台，属于样品分析


技术介绍

[0002]随着科技的发展，各种微束技术快速的进步，微观研究逐渐成为的科研过程中不可或缺的工作，利用各种微束或探针技术来直接（原位）分析在光学显微镜下所选的微区物质的化学成分分析，被称之为微区分析。许多微区分析手段可同时进行形貌观察和结构测定，微区分析的空间分辨率在微米级。
[0003]在微区分析中，科研人员通常会用到透射电镜、FIB、扫描电镜、光学显微镜（如有机岩相平台、显微红外、显微激光拉曼等）等，不同的设备具有不同的样品台，并且其样品台的设计各不相同，这导致了其样品台不能共享，当科研人员需要做多类型的微区分析时，需要将样品从一个设备转移到另一个设备上进行检测，需要重新找目标视域，并且大部分时候很难找到之前做过的视域，影响样品研究的科学性、客观性、准确性。

技术实现思路

[0004]（一）解决的技术问题本专利技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种适用于微区分析本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于微区分析的样品共享定位平台，包括工作台（1）和扫描电镜（25），其特征在于：所述工作台（1）顶部设置有坐标参照轴（23），所述坐标参照轴（23）与扫描电镜（25）之间设置有限位环架（3）、样本台（4）、丝杆（7）、正反电机（8）、导向杆（39）和液压缸（14），所述限位环架（3）两侧分别设置有三维扫描相机（9）和触摸控制屏（15），所述限位环架（3）内部设置有排线箱（10），所述限位环架（3）底部与工作台（1）之间设置有多个支撑板（20），所述触摸控制屏（15）内部设置有处理器（27）、对比单元（28）、储存装置（29）和指令单元（30）。2.根据权利要求1所述的一种适用于微区分析的样品共享定位平台，其特征在于：所述样本台（4）顶部开设有样本槽（5），所述样本台（4）底部固定连接有多个限位底板（6），所述限位底板（6）设置于L形，所述样本台（4）设置于坐标参照轴（23）顶部，所述指令单元（30）设置有检测功能键（31）、复位功能键（32）和定位功能键（33）。3.根据权利要求1所述的一种适用于微区分析的样品共享定位平台，其特征在于：所述扫描电镜（25）包括显示屏（26），所述显示屏（26）安装于扫描电镜（25）一端，所述扫描电镜（25）另一端与工作台（1）之间固定连接有安装板（2），所述显示屏（26）设置于触摸控制屏（15）顶部。4.根据权利要求1所述的一种适用于微区分析的样品共享定位平台，其特征在于：所述三维扫描相机（9）一端贯穿限位环架（3）并与限位环架（3）固定连接，所述样本台（4）通过滚珠螺母副套设于丝杆（7）外侧，所述丝杆（7）固定连接于正反电机（8）输出端。5.根据权利要求1所述的一种适用于微区分析的样品共享定位平台，其特征在于：所述正反电机（8）开设有限位槽（16），所述导向杆（39）贯穿限位...

【专利技术属性】
技术研发人员：周秦，程鹏，盖海峰，李腾飞，田辉，
申请(专利权)人：中国科学院广州地球化学研究所，
类型：发明
国别省市：