【技术实现步骤摘要】
一种提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法
[0001]本申请涉及LED芯片
,尤其涉及一种提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法。
技术介绍
[0002]基于AlGaInP的红色LED具有很强的电流承载能力耐高温,尤其在照明、显示屏和指示灯领域中发挥着不可替代的作用。在LED芯片(以下简称LED)中,并非所有的光子都能由LED中发射出来,此种情况,大多使用光提取效率(LEE)作为LED发光特性的指标。光提取效率(LEE)反映了光子发射到LED外的光子数量和产生的光子数量之间的比率。由于边界菲涅尔反射的存在,使得基于AlGaInP的LED的光提取效率通常很低,即使有100%的内部量子效率,光提取效率仍被限制在4%左右。
[0003]目前,已经存在多种方法来提高LED的光提取效率,例如,通过处理LED的封装、图案衬底、嵌入式反射器、共振腔、表面织构和光子晶体等方式来增加光提取效率。其中,表面结构的处理相较于其他提高光提取效率的方式,具有更低成本和适于大规模生产的优势。LED的表面结构的处理可采用干法刻蚀或湿法 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法,其特征在于,包括:S1:清理AlGaInP基红色LED的晶圆表面的油污;S2:利用等离子体增强化学沉积,在所述晶圆的表面沉积预设厚度的二氧化硅;S3:将稀释的光刻胶涂覆在所述晶圆表面,在第一预设温度下烘烤;S4:利用干涉曝光,对所述晶圆进行第一次曝光,调整所述晶圆角度,再对调整角度后的所述晶圆进行第二次曝光;S5:将第二次曝光后的所述晶圆,在第二预设温度下烘烤,使所述光刻胶在所述晶圆表面形成半球形阵列图形;S6:利用等离子体刻蚀,将半球形阵列图形的所述光刻胶转移至所述二氧化硅上;S7:利用LED制备方法,在具有所述二氧化硅的所述AlGaInP基红色LED外延的顶部和底部分别制作电极,以及隔离沟道。2.根据权利要求1所述的提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法,其特征在于,所述S2中,所述二氧化硅的预设厚度为250~350nm。3.根据权利要求1所述的提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法,其特征在于,所述S3中,稀释的光刻胶包括光刻胶以及正胶稀释液,其中,所述光刻胶与所述正胶稀释液的比例为1∶4。4.根据权利要求1所述的提高出光效率的LED芯片表面结构制备方法,其特征在于,所述S3中,所述第一预设温度为80~95℃;所...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐先胜,刘伟业,谭新辉,韩丽丽,王兆伟,宫卫华,张伟,
申请(专利权)人:山东省科学院激光研究所,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。