【技术实现步骤摘要】
射频S参数测量装置
[0001]本技术有涉及一种测量装置,尤指一种射频S参数测量装置。
技术介绍
[0002]高频电路的设计中使用的散射参数,即所谓的S参数(Scattering Parameters)进行电路的设计,因为在高频的领域中甚难定义出绝对的开路或短路,且在网络中亦不易测量到总电压、电流。同时有些有源组件如晶体管、二极管等在开路或短路的电路环境中亦无法稳定工作。因此必须使用高频较易测量的入射与反射功率来定义电路的参数,即所谓的S参数。
[0003]一般S参数测量的仪器为向量网络分析仪(Vector network analyzer,VNA),但在射频集成电路(IC)产线中,必须要测量其它射频(RF)测试项目,如一分贝压缩点输出功率(Pldb)、频谱屏蔽(spectral mask)、误差向量幅度(EVM)及相邻通道功率比(ACPR),此为向量网络分析仪无法测量的部分。此外,向量网络分析仪虽然能支持毫米波频段的S参数测量,但价格昂贵。对于向量网络分析仪无法测量的部分,可用向量信号产生器(Vector signal generator,VSG)和向量信号分析器(vector signal analyzer,VSA)进行测量。然而,向量信号产生器与向量信号分析器只能支持6十亿赫兹(GHz)以下的频率,而无法支持毫米波频段,即28~39GHz的S参数测量。
[0004]因此,本技术在针对上述的困扰,提出一种射频S参数测量装置,以解决习知所产生的问题。
技术实现思路
[0005]本技术的主 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频S参数测量装置,耦接一待测物,其特征在于,所述射频S参数测量装置包括:一向量网络分析仪,用以产生一低频向量信号;一升降频装置,耦接所述向量网络分析仪,其中所述升降频装置用以接收所述低频向量信号与高频信号,并利用所述低频向量信号与所述高频信号产生一高频向量信号;以及一信道切换装置,具有一第一端口与一第二端口,所述待测物耦接于所述第一端口与所述第二端口之间,所述信道切换装置耦接所述升降频装置,其中所述信道切换装置用以传送所述高频向量信号至所述待测物,所述待测物反射所述高频向量信号以形成高频反射向量信号,所述高频向量信号透射所述待测物以形成高频透射向量信号,所述升降频装置用以接收所述高频向量信号、所述高频反射向量信号与所述高频透射向量信号,以利用所述高频向量信号、所述高频反射向量信号与所述高频透射向量信号产生所述低频向量信号、低频反射向量信号与低频透射向量信号,所述向量网络分析仪用以接收并分析所述低频向量信号、所述低频反射向量信号与所述低频透射向量信号,以得到S参数测量值。2.如权利要求1所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述射频S参数测量装置还包括:一高频信号产生器,用以产生所述高频信号;以及一信号分配器,其耦接所述高频信号产生器与所述升降频装置,其中所述信号分配器用以接收并分配所述高频信号至所述升降频装置。3.如权利要求2所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述升降频装置包括:一第一混波器与一第二混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中在所述第一混波器接收所述低频向量信号与所述高频信号,并利用所述低频向量信号与所述高频信号产生所述高频向量信号时,所述第二混波器接收所述高频信号与所述高频透射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频透射向量信号产生所述低频透射向量信号,在所述第一混波器接收所述高频信号与所述高频透射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频透射向量信号产生所述低频透射向量信号时,所述第二混波器接收所述低频向量信号与所述高频信号,并产生所述高频向量信号;一第三混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中所述第三混波器用以接收所述高频信号与所述高频向量信号,并利用所述高频信号与所述高频向量信号产生所述低频向量信号;以及一第四混波器,耦接所述信号分配器与所述向量网络分析仪,其中所述第四混波器用以接收所述高频信号与所述高频反射向量信号,并利用所述高频信号与所述高频反射向量信号产生所述低频反射向量信号。4.如权利要求3所述的射频S参数测量装置,其特征在于,所述射频S参数测量装置还包括:一第一带通滤波器,耦接于所述第一混波器与所述向量网络分析仪之间,其中所述第一带通滤波器用以滤除所述第一混波器产生的杂散信号;一第二带通滤波器,耦接于所述第一混波器与所述信道切换装置之间,其中所述第二带通滤波器用以滤除所述第一混波器产生的杂散信号;一第三带通滤波器,耦接于所述向量网络分析仪与所述第二混波器之间,其中所述第
三带通滤波器用以滤...
【专利技术属性】
技术研发人员:王建今,蔡义承,钟侑福,田庆诚,
申请(专利权)人:矽格股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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