【技术实现步骤摘要】
封装测试过程中用于存储托盘的装置及其使用方法
[0001]本专利技术涉及半导体器件封装测试
，具体涉及封装测试过程中用于存储托盘的装置及其使用方法，适用于TH系列封装测试设备。
技术介绍
[0002]目前使用的TH系列封装测试设备在加工产品过程中，由工作人员将备用托盘放置在该设备的轨道上，然后由抓取装置将托盘抓走，由于该设备未设置托盘存储装置，因此在加工产品过程中需要工作人员不断手动放置托盘，一旦没有及时放置托盘，抓取装置抓取失败，会触发该设备的报警装置报警，需要工作人员进行取消预警的操作。因此使用TH系列封装测试设备不仅极大地增加操作员工作量，而且采用该设备操作繁琐、生产效率低。因此，本领域技术人员致力于设计封装测试过程中用于存储托盘的装置及其使用方法。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供封装测试过程中用于存储托盘的装置及其使用方法，目的是解决
技术介绍
中存在的上述问题。
[0004]本专利技术提供的技术解决方案如下：
[0005]封装测试过程中用于存储托盘的装置，该装置适用于TH...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.封装测试过程中用于存储托盘的装置，该装置适用于TH系列封装测试设备，用于在封装测试过程中存储托盘，其特征在于：包括侧板(1)、底板(9)、支撑板(5)以及控制器；所述侧板(1)分别设置在所述底板(9)两侧，所述侧板(1)内侧设置有所述支撑板(5)以及导向单元，所述底板(9)上设置有驱动单元以及升降单元，所述升降单元与所述支撑板(5)连接，所述支撑板(5)用于放置多个托盘，所述驱动单元与所述控制器电性连接，所述控制器用于控制所述驱动单元驱动所述升降单元，使得所述支撑板(5)沿所述导向单元同步上升或下降。2.根据权利要求1所述的封装测试过程中用于存储托盘的装置，其特征在于：所述升降单元包括斜面体(7)和活动块(8)，所述斜面体(7)设置在所述支撑板(5)底部，所述斜面体(7)底部均为斜面，所述活动块(8)的顶部设置为与所述斜面体(7)相适配的斜面，且两个所述斜面接触，所述活动块(8)底部与所述底板(9)连接。3.根据权利要求1或2所述的封装测试过程中用于存储托盘的装置，其特征在于：所述导向单元设置在所述侧板(1)两侧，所述导向单元包括第一滑轨(4)，所述支撑板(5)侧面设置有第一滑块(6)，所述支撑板(5)通过所述第一滑块(6)与所述第一滑轨(4)滑动连接。4.根据权利要求1所述的封装测试过程中用于存储托盘的装置，其特征在于：所述侧板(1)两端均设置有连接板(3)，所述连接板(3)一端与所述侧板(1)连接，另一端连接有限位板(2)。5.根据权利要求4所述的封装测试过程中用于存储托盘的装置，其特征在于：所述连接板(3)顶端均设置有分离板(12)和传感器(13)，所述分离板(12)连接均有第一无杆气缸(11)，所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵飞，马勉之，
申请(专利权)人：华天科技西安有限公司，
类型：发明
国别省市：
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