未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置制造方法及图纸

一种未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置，方法包括步骤：S100：测量待测非球面光学元件的轮廓曲线，并基于轮廓曲线获取若干个采样点的二维数据；S200：对二维数据进行拟合获得非球面拟合方程；S300：对非球面拟合方程所表征的非球面面形进行检测，获得面形PV值，非球面检测仪重新输出二维数据；S400：将重新输出的二维数据通过步骤S200获得新的非球面拟合方程，及通过步骤S300进行检测获得面形PV值，非球面检测仪再次重新输出二维数据，依次类推，直到获取最小面形PV值，并将最小面形PV值作为最佳的非球面方程。利用非球面检测仪对多项式构造的非球面方程进行三维面形轮廓测试和验证，对二维数据反复迭代和逐步逼近，快速高效的得到非球面方程。快速高效的得到非球面方程。快速高效的得到非球面方程。

【技术实现步骤摘要】
未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置


[0001]本专利技术涉及光学
，具体涉及一种未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法及装置。

技术介绍

[0002]现代光学设计中经常用到非球面，因为在光学系统中使用非球面能减少透镜片数、减轻重量、有效提高像质。现代的非球面加工往往采用计算机数控加工技术，由于加工必然存在误差，了解非球面的加工精度，或者得到实际加工的非球面的方程，对于光学设计是非常必要的。它有利于设计者根据实际加工情况评价可能的成像质量，或对其它光学零件进行调整，从而得到最优的光学系统成像质量。此外，对于未知面形的表面，如果通过测量分析得到非球面方程，对拆解分析已有光学系统也具有十分重要的意义。
[0003]求取未知参数或有面形误差的实际非球面光学零件面形方程的算法较多，华中光电技术研究所武汉光电国家实验室,提出使用遗传算法，进行非球面的拟合，对于测量数据先寻找非球面对称点，并进行转换处理，然后进行0值处理，再确定非球面参数范围等，此过程数据处理复杂。

技术实现思路

[0004]为解决未知参数非本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种未知参数非球面光学元件的非球面方程获取方法，其特征在于，包括步骤：S100：测量待测非球面光学元件的轮廓曲线，并基于所述轮廓曲线获取若干个采样点的二维数据；S200：对所述二维数据进行分析拟合，获得非球面拟合方程；S300：对所述非球面拟合方程所表征的非球面面形进行检测，获得面形PV值，非球面检测仪重新输出一组二维数据；S400：将重新输出的二维数据通过步骤S200进行拟合，以获得新的非球面拟合方程，及将新的非球面拟合方程通过步骤S300进行检测，获得面形PV值，判断面形PV值是否减小，若是，非球面检测仪再次重新输出一组二维数据，依次类推，通过迭代拟合获取最小面形PV值，并将最小面形PV值的非球面多项式作为最佳的非球面方程。2.如权利要求1所述的非球面方程获取方法，其特征在于，所述步骤S200具体包括步骤：S201：根据二维数据拟合一非球面方程；S202：采用梯度下降算法优化所述非球面方程的各项参数，获得最优的非球面方程。3.如权利要求2所述的非球面方程获取方法，其特征在于，所述非球面方程的表达式为：其中，Z为非球面在垂直方向的轮廓曲线高度，x为采样点距轮廓曲线测试起点位置的水平距离，R0为待测非球面光学元件的非球面曲率半径系数，k为二次项系数，A、B、C、D为高次项系数。4.如权利要求3所述的非球面方程获取方法，其特征在于，所述步骤S300具体包括步骤：S301：将优化后的非球面方程的各项参数输入至非球面检测仪；S302...

【专利技术属性】
技术研发人员：付艳丽，李成杰，袁乔，
申请(专利权)人：上海镭望光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：