按键寿命测试工装及电子测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种按键寿命测试工装及电子测试设备，属于机器或结构部件测试技术领域。该按键寿命测试工装包括底座、设于底座用于安装待测按键的安装支架以及与待测按键配合设置的第一记录组件；安装支架上设有安装孔，待测按键能够由安装孔的侧面进入并沿待测按键的按压方向卡设于安装孔；第一记录组件包括传感器部件和计数部件，传感器部件固定连接于待测按键用于获取待测按键的按压信号，计数部件与传感器部件连接，用于根据按压信号统计按压次数。该电子测试设备包括按键寿命测试工装。通过该按键寿命测试工装，提高了按键寿命测试工装的通用性，从而提升了按键寿命测试工装的测试效率。装的测试效率。装的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
按键寿命测试工装及电子测试设备


[0001]本技术涉及机器或结构部件测试
，特别是涉及一种按键寿命测试工装及电子测试设备。

技术介绍

[0002]随着科技的高速发展，在医疗器械制造业领域，尤其是在按键控制的制造中，如控制按键；其中，控制按键最为常用的是ABS按键、硅胶按键、橡胶按键等。其常被运用在电子血压计、电子血糖仪、视功能训练仪、视功能检查仪等产品按键当中。
[0003]目前在控制按键生产过程中，往往容易产生材料过软，或成型尺寸不够的现象，当控制按键在组装进入使用后，常常发生触发不灵敏的情况，因此需要对控制按键进行测试。现有的控制按键测试装置在对按键进行测试时，需要开设与按键相适配的安装孔对其固定，该种方式能够适用于单一尺寸按键的测试，通用性较差，导致测试效率较低。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种按键寿命测试工装及电子测试设备，以缓解上述问题，提高了按键寿命测试工装的通用性和测试效率。
[0005]本技术是通过以下技术方案实现的：
[0006]第一方面，本技术提供了一种按键寿命测试工装，包括：底座、设于所述底座用于安装待测按键的安装支架以及与所述待测按键配合设置的第一记录组件；
[0007]所述安装支架上设有安装孔，所述待测按键能够由所述安装孔的侧面进入并沿所述待测按键的按压方向卡设于所述安装孔；
[0008]所述第一记录组件包括传感器部件和计数部件，所述传感器部件固定连接于所述待测按键且用于获取所述待测按键的按压信号，所述计数部件与所述传感器部件连接，用于根据所述按压信号统计按压次数。
[0009]进一步的，所述按键寿命测试工装还包括锁紧部件；
[0010]所述锁紧部件与所述控制按键远离其按压的一端螺纹连接，并与所述控制按键靠近其按压的一端之间形成距离可调的挤压间隙，以使所述安装支架的部分夹设于所述挤压间隙。
[0011]进一步的，所述待测按键包括按键壳体部以及与所述按键壳体部连接的按键帽部；
[0012]所述锁紧部件与所述按键壳体部螺纹连接，并与所述按键帽部之间形成所述挤压间隙。
[0013]进一步的，所述安装孔的边缘部设有缺口，所述按键壳体部能够由所述缺口进入所述安装孔，并使所述按键帽部压设于所述安装孔的上端面。
[0014]进一步的，所述安装支架包括位于所述底座上方的支撑板部；
[0015]所述安装孔开设于所述支撑板部，所述支撑板部在所述锁紧部件的作用下能够夹
设于所述锁紧部件与所述按键帽部之间。
[0016]进一步的，所述安装支架还包括立板部；
[0017]所述立板部的一端与所述支撑板部一体连接，另一端形成折弯且与所述底座可拆卸连接。
[0018]进一步的，所述安装孔采用U型孔。
[0019]进一步的，所述底座上还设有固定架，所述计数部件固定连接于所述固定架。
[0020]进一步的，所述底座上设有多组连接孔，用于使所述底座固定连接于测试台。
[0021]第二方面，本技术提供了一种电子测试设备，包括测试机机身和前述按键寿命测试工装；
[0022]所述测试机机身包括测试台、位于所述测试台的正上方且可上下移动的测试头以及用于计数的第二记录组件，所述第二记录组件与所述测试头连接，用于记录所述测试头的下压次数；
[0023]所述按键寿命测试工装的底座固定连接于所述测试台。
[0024]与现有技术相比，本技术至少存在以下有益效果：
[0025]本技术的按键寿命测试工装，安装支架设于底座，在具体使用时，待测按键安装于安装支架，待测按键配合设置有第一记录组件，其中，第一记录组件包括传感器部件和计数部件，传感器部件固定连接于待测按键可获取待测按键的按压信号，计数部件与传感器部件连接，可根据按压信号统计按压次数，从而得到待测按键的按压次数。在实际测试中，该按键寿命测试工装配合电子测试设备，通过按键寿命测试工装得到的按压次数与电子测试设备的下压次数相比，不仅可得出待测按键的稳定性情况，如前述两者的次数相等可得出待测按键的稳定性较好，如前述两者的次数不相等可得出待测按键的稳定性较差，而且通过前述两者次数的对比，在确保两者次数相等的前提下，可得到待测按键的最大按压次数，从而获取待测按键的寿命情况。
[0026]该按键寿命测试工装在安装控制按键时，由于安装支架上设有安装孔，待测按键能够由安装孔的侧面进入并沿待测按键的按压方向卡设于安装孔，一方面，沿按压方向按压待测按键，不会使待测按键轻易地脱离出安装孔，另一方面，该安装孔的大小可无需与待测按键的外形尺寸相匹配，适应性较强，可适应于不同尺寸的待测按键，提高了按键寿命测试工装的通用性，从而提升了按键寿命测试工装的测试效率。
附图说明
[0027]图1为本技术实施例提供的按键寿命测试工装的结构示意图；
[0028]图2为本技术实施例提供的按键寿命测试工装的主视图；
[0029]图3为本技术实施例提供的按键寿命测试工装未示出待测按键、锁紧部件、传感器部件的结构示意图。
[0030]图标：
[0031]100
‑
底座；110
‑
连接孔；
[0032]200
‑
待测按键；210
‑
按键壳体部；220
‑
按键帽部；
[0033]300
‑
安装支架；310
‑
支撑板部；320
‑
立板部；311
‑
U型孔；
[0034]400
‑
第一记录组件；410
‑
传感器部件；420
‑
计数部件；
[0035]500
‑
锁紧部件；
[0036]600
‑
固定架。
具体实施方式
[0037]下面结合附图对本技术作进一步详细描述：
[0038]参照图1和图2，本实施例提供一种按键寿命测试工装，包括底座100、设于底座100用于安装待测按键200的安装支架300以及与待测按键200配合设置的第一记录组件400；安装支架300上设有安装孔，待测按键200能够由安装孔的侧面进入并沿待测按键200的按压方向卡设于安装孔；第一记录组件400包括传感器部件410和计数部件420，传感器部件410固定连接于待测按键200用于获取待测按键200的按压信号，计数部件420与传感器部件410连接，用于根据按压信号统计按压次数。
[0039]在安装待测按键200时，由于安装支架300上设有安装孔，待测按键200可由安装孔的侧面进入并沿待测按键200的按压方向卡设于安装孔，在沿按压方向按压待测按键200时，由于待测按键200沿待测按键200的按压方向卡设于安装孔，因此不会使待测按键200轻易地脱离出安装孔，同时，待测按键200由本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种按键寿命测试工装，其特征在于，包括：底座（100）、设于所述底座（100）用于安装待测按键（200）的安装支架（300）以及与所述待测按键（200）配合设置的第一记录组件（400）；所述安装支架（300）上设有安装孔，所述待测按键（200）能够由所述安装孔的侧面进入并沿所述待测按键（200）的按压方向卡设于所述安装孔；所述第一记录组件（400）包括传感器部件（410）和计数部件（420），所述传感器部件（410）固定连接于所述待测按键（200）且用于获取所述待测按键（200）的按压信号，所述计数部件（420）与所述传感器部件（410）连接，用于根据所述按压信号统计按压次数。2.根据权利要求1所述的按键寿命测试工装，其特征在于，所述按键寿命测试工装还包括锁紧部件（500）；所述锁紧部件（500）与控制按键远离其按压的一端螺纹连接，并与所述控制按键靠近其按压的一端之间形成距离可调的挤压间隙，以使所述安装支架（300）的部分夹设于所述挤压间隙。3.根据权利要求2所述的按键寿命测试工装，其特征在于，所述待测按键（200）包括按键壳体部（210）以及与所述按键壳体部（210）连接的按键帽部（220）；所述锁紧部件（500）与所述按键壳体部（210）螺纹连接，并与所述按键帽部（220）之间形成所述挤压间隙。4.根据权利要求3所述的按键寿命测试工装，其特征在于，所述安装孔的边缘部设有缺口，所述按键壳体部（210）能够由所述缺口进入所述安装孔，并使所述按键帽部（220）压设于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊斐斐，黄正衍，刘烨，季盛浩，
申请(专利权)人：优眼温州科技有限公司，
类型：新型
国别省市：