一种多晶硅抛光液及其制备方法技术

技术编号:37722903 阅读:26 留言:0更新日期:2023-06-02 00:24
本发明专利技术涉及一种多晶硅抛光液及其制备方法,以质量百分含量计,所述多晶硅抛光液由以下原料组成:去离子水9.5

【技术实现步骤摘要】
一种多晶硅抛光液及其制备方法


[0001]本专利技术涉及化学机械抛光
,具体涉及一种多晶硅抛光液及其制备方法。

技术介绍

[0002]熔融的单质硅在过冷条件下凝固时,硅原子以金刚石晶格形态排列成许多晶核,晶核长成晶面取向不同的晶粒经结晶形成多晶硅。对多晶硅进行化学机械抛光,通常是将衬底直接与抛光垫接触,在衬底背面施加压力,在抛光过程中会将抛光液涂于垫片上,与正在抛光的薄膜发生化学反应实现抛光的作用。
[0003]为了实现硅片的抛光加工精度,达到集成电路硅片要求的技术指标,通常进行多次化学机械抛光,如粗抛光、中抛光以及精抛光,除了常规的抛光加工参数,抛光液的成分含量对硅片的抛光效果影响也非常显著。
[0004]CN 100526409A公开了一种新的浆料成分,该浆料成分包括一种或多种非离子聚合物表面活性剂,示例性的表面活性剂包括环氧乙烷(EO)和环氧丙烷(PO)嵌段共聚物的烷基或芳基醇,并以高达大约5wt%的量存在于浆料成分中。其它浆料添加剂可以包括粘度调节剂、pH调节剂、分散剂、螯合剂、以及适合用于调节氮化硅和氧化硅的相对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多晶硅抛光液,其特征在于,以质量百分含量计,所述多晶硅抛光液由以下原料组成:去离子水9.5

30wt%,胍类化合物0.1

5wt%,pH调节剂0.1

5wt%,硅溶胶59.5

80wt%,杀菌剂0.1

1wt%;所述原料的总质量百分含量为100%;所述硅溶胶中单种金属离子含量为0.9

1.1ppm。2.根据权利要求1所述的多晶硅抛光液,其特征在于,所述胍类化合物与pH调节剂的质量比为(0.9

1.1):1。3.根据权利要求1或2所述的多晶硅抛光液,其特征在于,所述硅溶胶的纯度≥99.9%。4.根据权利要求1

3任一项所述的多晶硅抛光液,其特征在于,所述胍类化合物包括盐酸胍、硝酸胍或碳酸胍中的任意一种或至少两种的组合;优选地,所述pH调节剂包括有机碱;优选地,所述有机碱包括1,3

丙二胺和/或乙二胺;优选地,所述杀菌剂包括2

甲基
‑4‑
异噻唑啉
‑3‑
酮和/或1,2

苯丙异噻唑啉
‑3‑
酮。5.一种如权利要求1

4任一项所述的多晶硅抛光液的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:均匀混合胍类化合物与去离子水,得到胍类化合物溶液;所得胍类化合物溶液中加入pH调节剂进行第一混合,然后加入硅溶胶进行第二混合,再加入杀菌剂进行第三混合,所得混合液经过滤与包装,得到所述多晶硅抛光液。6...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚力军惠宏业万旭军朱海青
申请(专利权)人:宁波平恒电子材料有限公司
类型:发明
国别省市:

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