一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置，该方法包括：通过主控单元向业务板分发测试向量；通过业务板执行测试向量获取测试数据；通过各业务板将获取的测试数据发送至集中采集单元；通过集中采集单元将获取的所有测试数据发送至主控单元，以便主控单元进行测试处理。与现有技术相比，本发明专利技术能提高测试效率，降低测试时间成本，能集中采集各个业务板上的采集数据，达到异步分发测量向量，并行测量数据采集并统一数据提取，能提高通信总线使用率，达到提升读取测量数据效率的目的；还能提高集中采集板与各业务板之间的吞吐量，促进整体系统的采集效率；还能大大降低业务板对内存的需求，从而降低业务板成本，减少测试机的冗余。少测试机的冗余。少测试机的冗余。

【技术实现步骤摘要】
一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置


[0001]本专利技术涉及ATE设备读取测量值
，具体是涉及一种提升ATE设备读取测量值效率的方法及装置。

技术介绍

[0002]ATE(Automatic Test Equipment)是自动测试设备，它是一种通过计算机和专用设备对集成电路进行自动化测试的系统。半导体芯片测试ATE用于检测集成电路功能和性能的完整性，是集成电路生产制造流程中确保集成电路品质的重要设备。半导体测试ATE通常由主控计算机和专用测试设备共同组成，其对集成电路测试通常需经过测试程序设计、测试向量生成、测试向量加载、测试执行四个过程。
[0003]通常ATE测试设备内部业务板由FPGA采集数据并缓存在业务板上的DDR内存中，再由主控下发指令通过内部总线读取FPGA DDR上的缓存数据。在多业务板，多DTU测量端的情况下，由于每块业务板，每笔测量交互都需要下发指令读取，因此会造成频繁读取指令交互，占用大量总线，形成交互瓶颈，降低测试数据读取效率，增加测试时间成本。

技术实现思路

>[0004]为了克本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提升ATE设备读取测量值效率的方法，其特征在于，应用于包括主控单元、集中采集单元和多个业务板的ATE测量数据采集系统；该方法包括：通过所述主控单元向所述业务板分发测试向量；通过所述业务板执行测试向量获取测试数据；通过各所述业务板将获取的所述测试数据发送至所述集中采集单元；通过所述集中采集单元将获取的所有所述测试数据发送至所述主控单元，以便所述主控单元进行测试处理。2.根据权利要求1所述的提升ATE设备读取测量值效率的方法，其特征在于，“通过所述主控单元向所述业务板分发测试向量”具体包括：所述主控单元和各所述业务板之间设置有系统总线,所述主控单元通过系统总线向各所述业务板发送测试向量。3.根据权利要求1所述的提升ATE设备读取测量值效率的方法，其特征在于，“通过各所述业务板将获取的所述测试数据发送至所述集中采集单元”具体包括：通过所述集中采集单元向各所述业务板发送trigger指令；控制所述业务板在接收到所述trigger指令后，将自身获取的所述测试数据发送至所述集中采集单元。4.根据权利要求1所述的提升ATE设备读取测量值效率的方法，其特征在于：所述ATE测量数据采集系统还包括测试单元，所述测试单元包括多个测试子单元，所述测试子单元分别与对应的所述业务板数据连接，不同的所述测试子单元对应不同的所述业务板；“通过所述业务板执行测试向量获取测试数据”具体包括：针对各所述业务板，通过所述业务板执行测试向量，使与所述业务板对应的所述测试子单元执行测试以得到测试数据，并将所述测试数据发送至所述业务板中。5.根据权利要求1所述的提升ATE设备读取测量值效率的方法，其特征在于，所述“通过所述集中采集单元将获取的所有所述测试数据发送至所述主控单元”，包括：通过所述主控单元向所述集中采集单元发送数据请求；控制所述集中采集单元在接收到所述数据请求后，将获取的所有所述测试数据发送至所述主控单元。6.根据权利要求1所述的提升ATE设备读取测量值效...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬刚，凌云，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：发明
国别省市：