测试方法、装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试方法、装置和系统，其中，方法包括：识别待测拼板与设置在待测拼板中待测模块的映射关系、待测拼板的状态信息以及待测模块的状态信息，其中，待测拼板包括至少一个待测模块；根据待测拼板与设置在待测拼板中待测模块的映射关系、待测拼板的状态信息以及待测模块的状态信息建立待测拼板数据表和待测模块数据表；对待测拼板中的每个待测模块进行测试并获取测试数据，根据测试数据对待测拼板数据表和待测模块数据表进行更新；若根据更新后的待测拼板数据表和待测模块数据表确定待测拼板满足第一预设条件，则确定待测拼板完成测试。由此，本实施例的测试方法能够保证待测产品的测试质量，同时提高测试效率。同时提高测试效率。同时提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法、装置和系统


[0001]本专利技术涉及设备测试
，尤其涉及一种测试方法、一种测试装置和一种测试系统。

技术介绍

[0002]产品测试在产品出厂过程中是一项非常重要的流程，相关技术中，对产品的测试一般会有两种方式，分别是单件流测试和多件流测试，其中，对于单件流测试方式，其测试效率较低；对于多件流测试方式，一方面单个测试站还是按照单个被测产品进行逐一串行测试，另一方面则多个产品之间一般相互独立，机器人抓取过程中需要单独抓取，都十分影响测试效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种测试方法，由此，通过将待测模块设置在待测拼板上，并对待测拼板和待测模块进行测试，以更新待测拼板与待测模块的映射关系和状态信息，保证测试质量并提升了测试效率。
[0004]本专利技术的第二个目的在于提出一种测试装置。
[0005]本专利技术的第三个目的在于提出一种测试系统。
[0006]为了到达上述目的，本专利技术第一方面提出了一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：识别待测拼板与设置在所述待测拼板中待测模块的映射关系、所述待测拼板的状态信息以及所述待测模块的状态信息，其中，所述待测拼板包括至少一个待测模块；根据所述待测拼板与设置在所述待测拼板中待测模块的映射关系、所述待测拼板的状态信息以及所述待测模块的状态信息建立待测拼板数据表和待测模块数据表；对所述待测拼板中的每个待测模块进行测试并获取测试数据，根据所述测试数据对所述待测拼板数据表和所述待测模块数据表进行更新；若根据更新后的待测拼板数据表和待测模块数据表确定所述待测拼板满足第一预设条件，则确定所述待测拼板完成测试。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测拼板数据表包括：所述待测拼板的状态信息、流转信息和每个所述待测模块的序列号信息。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述待测模块数据表包括：所述待测模块的状态信息和测试信息。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，根据所述测试数据对所述待测拼板数据表和所述待测模块数据表进行更新，包括：根据所述测试数据对所述待测拼板的状态信息和流转信息进行更新，以及根据所述测试数据对每个所述待测模块的状态信息和测试信息进行更新。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述根据更新后的待测拼板数据表和待测模块数据表确定所述待测拼板满足第一预设条件，包括：在根据所述待测拼板的状态信息确定所述待测拼板为有效拼板、根据所述待测拼板的流转信息确定所述待测拼板已完成流转测试、根据每个所述待测模块的状态信息确定每个所述待测模块为有效模块、以及根据所述待测模块的测试信息确定所述待测拼板中所述待测模块的通过率大于第一预设阈值时，确定所述待测拼板满足第一预设条件。6.根据权利要求1
‑
5中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述待测拼板不满足所述第一预设条件，则重新对所述待测拼板中的每个待测模块进行测试，若重新测试次数大于第二预设阈值，则确定所述待测拼板未通过测试。7.一种测试装置，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上...

【专利技术属性】
技术研发人员：单志敏，
申请(专利权)人：上海移远通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：