一种电源芯片可靠性测试系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种电源芯片可靠性测试系统和方法。测试系统中，测试底座分别通过输入电压采样模块、输出电压采样模块、输入电流采样模块+程控电源、输出电流采样模块+电子负载连接主控模块，测试底座和主控模块还分别连接示波器。在分别使程控电源和电子负载具备一个初始电压和初始电流后，主控模块依据输入电压采样模块的采样值调整程控电源的电压，根据输出电流采样模块的采样值调整电子负载的电流，并通过比对程控电源的电压和输入电压采样模块的采样值，以及对比电子负载的电压值和输出电压采样模块的采样值进行异常监控。主控模块分别向程控电源、示波器和电子负载下发指令以开始测试，并分别获取所连接模块/器件反馈的值生成测试报告。值生成测试报告。值生成测试报告。

【技术实现步骤摘要】
一种电源芯片可靠性测试系统和方法


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，尤其是一种电源芯片可靠性测试系统和测试方法。

技术介绍

[0002]集成电路(通常称为芯片)以其小巧、低成本、便于集成等特点，在如汽车电子、工业产品、军工等领域中得到了越来越广泛的应用。但是，也因为其越来越广泛的应用，对集成电路工艺的可靠性验证就必不可少。而电源芯片作为各应用场景中的均会用到的芯片，对其工艺可靠性的验证则显得尤为重要。
[0003]对于集成电路工艺的可靠性验证需要开展大量的测试项目，并且选择较大数目进行测试才具有说服力。目前的测试系统是通过测试人员手动操作测试仪器进行测试，其存在以下不足之处：1、每一个测试项目前均需要手动调整系统参数，使得各项目的测试过程一致性较差，并且测试耗时时间较长，工作量较大，测试数目难以保证对工艺可靠性验证数目的要求；2、目前的测试系统在上电后直接以电源加载的电源信号作为测试底座输入的电源信号，并未关心实际加载到测试底座上的电压，同样的，是以获取到的电压直接作为测试底座的输出电压，并未关心测试底座实际输出的电压，使得测试结果准确性难以保证。

技术实现思路

[0004]本专利技术的专利技术目的在于：针对上述存在的问题，提供一种电源芯片可靠性测试系统，以使得测试人员能够对待测芯片进行高效率的测试，并且保持测试过程的一致性和准确性。
[0005]本专利技术采用的技术方案如下：
[0006]一种电源芯片可靠性测试系统，包括测试底座、输入电压采样模块、输出电压采样模块、输入电流采样模块、输出电流采样模块、程控电源、电子负载、示波器以及主控模块；
[0007]所述输入电压采样模块连接所述测试底座，所述程控电源经所述输入电流采样模块连接所述测试底座，所述测试底座分别连接所述示波器和所述输出电压采样模块，所述测试底座经所述输出电流采样模块连接所述电子负载；
[0008]所述主控模块分别连接所述输入电压采样模块、输入电流采样模块、程控电源、示波器、电子负载、输出电流采样模块和输出电压采样模块。
[0009]进一步的，所述主控模块包括信号连接的通信模块和无线终端，所述输入电压采样模块、输入电流采样模块、程控电源、示波器、电子负载、输出电流采样模块和输出电压采样模块分别与所述通信模块连接。
[0010]进一步的，所述主控模块依据所述输入电压采样模块反馈的电压采样值，对所述程控电源的电压进行闭环控制。
[0011]进一步的，所述主控模块依据所述输出电流采样模块反馈的电流采样值，对所述电子负载的电流进行闭环控制。
[0012]进一步的，所述主控模块通过比对所述程控电源反馈的电压，以及所述输入电压
采样模块反馈的电压采样值，判断所述程控电源
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输入电流采样模块
‑
测试底座的链路的异常状态。
[0013]进一步的，所述主控模块通过比对所述电子负载反馈的电压，以及所述输出电压采样模块反馈的电压采样值，判断所述测试底座
‑
输出电流采样模块
‑
电子负载的链路的异常状态。
[0014]本专利技术还提供了一种基于上述电源芯片可靠性测试系统的测试方法，该方法包括：
[0015]将待测芯片测试板连接于测试底座上；
[0016]主控模块下发测试参数及指令，以使程控电源具备一个初始电压，使电子负载具备一个初始电流，以及指示示波器的触发通道与触发电压；
[0017]主控模块获取所述输入电压采样模块反馈的电压采样值，对所述程控电源的电压进行闭环调节，直至所述输入电压采样模块反馈的电压采样值达到目标值；
[0018]主控模块获取所述输出电流采样模块反馈的电流采样值，对所述电子负载的电流进行闭环调节，直至所述输出电流采样模块反馈的电流采样值达到目标值；
[0019]以及
[0020]主控模块分别接收所述输入电压采样模块、输入电流采样模块、输出电压采样模块、输出电流采样模块、程控电源、电子负载、示波器反馈的测试数据并保存。
[0021]进一步的，所述主控模块以EXCEL格式保存所接收的测试数据。
[0022]进一步的，方法还包括：
[0023]在测试过程中，所述主控模块实时获取所述程控电源的电压，以及所述输入电压采集模块采集的电压值进行比对，以监控所述程控电源
‑
输入电流采样模块
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测试底座的链路的异常状态；以及
[0024]所述主控模块实时获取所述电子负载的电压，以及所述输出电压采样模块采集的电压采样值进行比对，以监控所述测试底座
‑
输出电流采样模块
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电子负载的链路的异常状态。
[0025]综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：
[0026]1、本专利技术所设计的测试系统，能够对实际记载到测试底座的电信号以及测试底座实际输出的电信号进行调整，以确保测试过程中加载的电信号与实际需要的电信号相匹配，进而能够确保测试结果的准确性。
[0027]2、本专利技术所设计的测试系统，能够对测试底座的输入电压和输出电流进行独立调整，进而使得可以与多种待测芯片所需要的电信号相匹配，能提高测试系统的通用性。
[0028]3、本专利技术所设计的测试系统能够对测试信号输入、输出的链路进行异常状态检测，以确保测试过程的准确性。
[0029]4、本专利技术所设计的测试系统在调试完成后，即可依据指令开展各测试项目的测试，无需在每一个测试项目时进行参数的手动调整，可以保证测试过程的一致性和准确性。同时也大幅减少了测试人员的工作量，提高了测试效率。
附图说明
[0030]本专利技术将通过例子并参照附图的方式说明，其中：
[0031]图1是本专利技术测试系统的构造图。
具体实施方式
[0032]本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。
[0033]本说明书(包括任何附加权利要求、摘要)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
[0034]实施例一
[0035]如图1所示，测试系统包括测试底座、输入电压采样模块、输出电压采样模块、输入电流采样模块、输出电流采样模块、程控电源、电子负载、示波器以及主控模块。
[0036]输入电压采样模块连接测试底座，程控电源经输入电流采样模块连接测试底座(即输入电流采样模块串联在程控电源与测试底座之间)，测试底座分别连接示波器和输出电压采样模块，测试底座经输出电流采样模块连接电子负载(即输出电流采样模块串联在电子负载和测试底座之间)。
[0037]主控模块分别连接输入电压采样模块、输入电流采样模块、程控电源、示波器、电子负载、输出电流采样模块和输出电压采样模块。在测试时，将待测芯片测试板连接到测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，包括测试底座、输入电压采样模块、输出电压采样模块、输入电流采样模块、输出电流采样模块、程控电源、电子负载、示波器以及主控模块；所述输入电压采样模块连接所述测试底座，所述程控电源经所述输入电流采样模块连接所述测试底座，所述测试底座分别连接所述示波器和所述输出电压采样模块，所述测试底座经所述输出电流采样模块连接所述电子负载；所述主控模块分别连接所述输入电压采样模块、输入电流采样模块、程控电源、示波器、电子负载、输出电流采样模块和输出电压采样模块。2.如权利要求1所述的电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述主控模块包括信号连接的通信模块和无线终端，所述输入电压采样模块、输入电流采样模块、程控电源、示波器、电子负载、输出电流采样模块和输出电压采样模块分别与所述通信模块连接。3.如权利要求1所述的电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述主控模块依据所述输入电压采样模块反馈的电压采样值，对所述程控电源的电压进行闭环控制。4.如权利要求1所述的电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述主控模块依据所述输出电流采样模块反馈的电流采样值，对所述电子负载的电流进行闭环控制。5.如权利要求1所述的电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述主控模块通过比对所述程控电源反馈的电压，以及所述输入电压采样模块反馈的电压采样值，判断所述程控电源
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输入电流采样模块
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测试底座的链路的异常状态。6.如权利要求1所述的电源芯片可靠性测试系统，其特征在于，所述主控模块通过比对所述电子负载反馈的电压，以及所述输出电压采样模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁小云，杨楷，范平，李浩森，罗修涛，张勇文，
申请(专利权)人：成都蕊源半导体科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：