一种检测芯片的夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测芯片的夹具，包括芯片测试座主体、上夹持块和下夹持块，所述下夹持块和上夹持块均位于芯片测试座主体的中间，且下夹持块与上夹持块相对齐，所述上夹持块的表面设置有更换结构，所述更换结构与上夹持块滑动连接；本实用新型专利技术所述的一种检测芯片的夹具，对于测试的芯片不同可以更换不同的固定块，避免整个检测座的更换，且将固定块沿着固定槽中进行移动，使得限位柱与导向槽的端部相匹配，从而可以固定块可以更加精确与下夹持块相对齐，在限位柱与导向槽端部相接触时，此时限位柱抵着配合口从而使得两个边侧块之间的芯片被夹持更牢靠，在需要将芯片拿出时移动固定块的位置即可将芯片松开。动固定块的位置即可将芯片松开。动固定块的位置即可将芯片松开。

【技术实现步骤摘要】
一种检测芯片的夹具


[0001]本技术涉及芯片测试领域，特别涉及一种检测芯片的夹具。

技术介绍

[0002]芯片测试座是一个PCB及IC之间的静态连接器，它会让芯片的更换测试更为方便，不用一直重复焊接和取下芯片，从而减少IC与PCB的损伤，以及达到快速高效的测试效果，在对芯片进行检测尤其是手机芯片是会通过芯片测试座进行检测，从而可以将检测仪器与芯片进行连接导通，从而对芯片的一些功能验证，芯片测试座是通过一个上夹持块、下加持块和下压结构组成，从而通过下压结构将上下夹持块相贴合，达到检测芯片与检测接头接触的目的。
[0003]现有检测芯片的夹具存在一定的弊端，首先在检测手机芯片时，不同型号或者厂家的手机芯片需要更换不同的检测夹持夹具，整体更换夹具或者加块比较麻烦，且将夹具更换需要需要对夹具进行拆卸后从新安装，比较费时费力，过程比较繁琐复杂，还有对于不同的芯片的夹持结构，在夹持时由于更换夹具或者更换芯片使得夹持结构与芯片的边缘接触时不能紧密接触，从而使得芯片夹持后不牢靠。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种检测芯片的夹具，可以有效解决
技术介绍
中提出的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]一种检测芯片的夹具，包括芯片测试座主体、上夹持块和下夹持块，所述下夹持块和上夹持块均位于芯片测试座主体的中间，且下夹持块与上夹持块相对齐，所述上夹持块的表面设置有更换结构，所述更换结构与上夹持块滑动连接；
[0007]所述更换结构包括固定槽，所述固定槽开设于上夹持块的上表面，所述固定槽的内部设置有固定块，且固定块与固定槽滑动连接，所述固定块的两侧设置有边侧条，所述固定块的下表面两侧且位于靠近边侧条处均开设有导向槽，所述上夹持块的内部且位于固定槽的两侧均安装有限位柱，所述限位柱与导向槽的位置相匹配。
[0008]作为本技术优选的一种技术方案，所述限位柱位于固定块宽度方向的中间位置处，且导向槽的长度为固定块宽度的一半。
[0009]作为本技术优选的一种技术方案，所述固定块的上表面开设有放置腔，且放置腔位于固定块的正中间位置。
[0010]作为本技术优选的一种技术方案，所述固定块的两侧且位于限位柱处均设置有夹持结构，所述夹持结构包括预留腔，所述预留腔开设于导向槽的端部，且导向槽与预留腔相连通，所述预留腔的内部设置有边侧块和滑动块，边侧块的底端与滑动块的顶端相焊接，所述预留腔的内部且位于滑动块的一侧设置有伸缩弹簧，且滑动块的另一侧且位于边侧块的下方开设有配合口，且配合口与限位柱相匹配。
[0011]作为本技术优选的一种技术方案，所述边侧块上靠近固定槽中间处开设有卡紧口，且配合口的边缘与配合口的边缘光滑连接。
[0012]作为本技术优选的一种技术方案，所述芯片测试座主体的上端且位于下夹持块的一侧设置有导向柱，且导向柱与下夹持块滑动连接。
[0013]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：本技术中设置有更换结构，需要对不同尺寸的芯片进行测试时，对于测试的芯片不同可以更换不同的固定块，避免整个检测座的更换，且将固定块沿着固定槽中进行移动，使得限位柱与导向槽的端部相匹配，从而可以固定块可以更加精确与下夹持块相对齐；
[0014]设置有设置有夹持结构，在限位柱与导向槽端部相接触时，此时限位柱抵着配合口从而使得两个边侧块之间的芯片被夹持更牢靠，在需要将芯片拿出时移动固定块的位置即可将芯片松开。
附图说明
[0015]图1为本技术一种检测芯片的夹具的整体结构示意图；
[0016]图2为本技术一种检测芯片的夹具的上夹持块示意图；
[0017]图3为本技术一种检测芯片的夹具的更换结构示意图；
[0018]图4为本技术一种检测芯片的夹具的夹持结构示意图。
[0019]图中：1、芯片测试座主体；2、上夹持块；3、下夹持块；4、更换结构；5、夹持结构；401、固定槽；402、固定块；403、限位柱；404、导向槽；405、边侧条；501、边侧块；502、预留腔；503、滑动块；504、伸缩弹簧；505、配合口。
具体实施方式
[0020]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0021]如图1
‑
4所示，一种检测芯片的夹具，包括芯片测试座主体1、上夹持块2和下夹持块3，下夹持块3和上夹持块2均位于芯片测试座主体1的中间，且下夹持块3与上夹持块2相对齐，上夹持块2的表面设置有更换结构4，更换结构4与上夹持块2滑动连接；
[0022]更换结构4包括固定槽401，固定槽401开设于上夹持块2的上表面，固定槽401的内部设置有固定块402，且固定块402与固定槽401滑动连接，固定块402的两侧设置有边侧条405，固定块402的下表面两侧且位于靠近边侧条405处均开设有导向槽404，上夹持块2的内部且位于固定槽401的两侧均安装有限位柱403，限位柱403与导向槽404的位置相匹配。
[0023]作为本技术优选的一种技术方案，限位柱403位于固定块402宽度方向的中间位置处，且导向槽404的长度为固定块402宽度的一半，需要对不同尺寸的芯片进行测试时，对于测试的芯片不同可以更换不同的固定块402，避免整个检测座的更换，且将固定块402沿着固定槽401中进行移动，使得限位柱403与导向槽404的端部相匹配，从而可以固定块402可以更加精确与下夹持块3相对齐。
[0024]作为本技术优选的一种技术方案，固定块402的上表面开设有放置腔，且放置腔位于固定块402的正中间位置，该放置腔与放置的芯片相适配，根据检测芯片的不同选择合适的固定块402。
[0025]作为本技术优选的一种技术方案，固定块402的两侧且位于限位柱403处均设置有夹持结构5，夹持结构5包括预留腔502，预留腔502开设于导向槽404的端部，且导向槽404与预留腔502相连通，预留腔502的内部设置有边侧块501和滑动块503，边侧块501的底端与滑动块503的顶端相焊接，预留腔502的内部且位于滑动块503的一侧设置有伸缩弹簧504，且滑动块503的另一侧且位于边侧块501的下方开设有配合口505，且配合口505与限位柱403相匹配，在限位柱403与导向槽404端部相接触时，此时限位柱403抵着配合口505从而使得两个边侧块501之间的芯片被夹持更牢靠，在需要将芯片拿出时移动固定块402的位置即可将芯片松开。
[0026]作为本技术优选的一种技术方案，边侧块501上靠近固定槽401中间处开设有卡紧口，且配合口505的边缘与配合口505的边缘光滑连接，边侧块501的卡紧扣与芯片相对齐，在将边侧块501相中间靠齐时将芯片夹持住。
[0027]作为本技术优选的一种技术方案，芯片测试座主体1的上端且位于下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测芯片的夹具，其特征在于：包括芯片测试座主体(1)、上夹持块(2)和下夹持块(3)，所述下夹持块(3)和上夹持块(2)均位于芯片测试座主体(1)的中间，且下夹持块(3)与上夹持块(2)相对齐，所述上夹持块(2)的表面设置有更换结构(4)，所述更换结构(4)与上夹持块(2)滑动连接；所述更换结构(4)包括固定槽(401)，所述固定槽(401)开设于上夹持块(2)的上表面，所述固定槽(401)的内部设置有固定块(402)，且固定块(402)与固定槽(401)滑动连接，所述固定块(402)的两侧设置有边侧条(405)，所述固定块(402)的下表面两侧且位于靠近边侧条(405)处均开设有导向槽(404)，所述上夹持块(2)的内部且位于固定槽(401)的两侧均安装有限位柱(403)，所述限位柱(403)与导向槽(404)的位置相匹配。2.根据权利要求1所述的一种检测芯片的夹具，其特征在于：所述限位柱(403)位于固定块(402)宽度方向的中间位置处，且导向槽(404)的长度为固定块(402)宽度的一半。3.根据权利要求2所述的一种检测芯片的夹具，其特征在于：所述固定块(402)的上...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈阳，
申请(专利权)人：无锡市锡胡精密制造有限公司，
类型：新型
国别省市：