【技术实现步骤摘要】
一种基于芯片良率监测用调节装置及方法
[0001]本专利技术涉及良率监测调节
,具体为一种基于芯片良率监测用调节装置及方法。
技术介绍
[0002]集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路小型化的方式,主要包括半导体设备,也包括被动组件等,并时常制造在半导体晶圆表面,质量和可靠性在一定程度上可以说是IC产品的生命,好的品质,长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在,芯片良率在在整个半导体制造过程中具有相当重要的地位,芯片良率监测调节技术必不可少。
[0003]现有技术中,主要是利用工程师通常采用专用软件从测试日志中提取测试数据然后使用EXCEL、JMP等数据分析软件分析良率数据,但是良品率需要根据实际操作情况以及经验进行判断,操作易容易存在漏判或者误判的情况,且难以第一时间得知遗漏情况,导致某些芯片良率不够精准,造成良品反馈率监测调节分析易出纰漏。
技术实现思路
[0004]针对现有技术的不足,本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]一种基于芯片良率监测用调节装置,具体包括,
[0006]基座,所述基座左侧活动连接有抽拉箱体,所述基座顶部右侧固定连接有处理座,所述基座顶部中间活动连接有收纳箱座;
[0007]收纳箱座,该收纳箱座具有预警芯片,以及设置在收纳箱座顶部活动连接的监测装置,通过监测装置的设置,进而通过显示屏将传输的数据进行监测,从而达到自动实时监测的效果和作用,同时防止调节螺杆晃动过大而出现脱落等情况,起到自动 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于芯片良率监测用调节装置,具体包括,基座(1),所述基座(1)左侧活动连接有抽拉箱体(2),所述基座(1)顶部右侧固定连接有处理座(3),所述基座(1)顶部中间活动连接有收纳箱座(5);收纳箱座(5),该收纳箱座(5)具有预警芯片,以及设置在收纳箱座(5)顶部活动连接的监测装置(4),所述抽拉箱体(2)内部活动连接有金属撑架(6),所述金属撑架(6)顶部左侧固定连接有调节装置(7),所述调节装置(7)顶部左侧固定安装有调节件(8),所述调节件(8)底部固定连接有芯片方盘(9),所述芯片方盘(9)具有收集垫,其特征在于:所述调节装置(7)包括:下位清理装置(71),所述清理装置(71)轴心处固定连接有螺杆(72),该螺杆(72)具有垫层件,以及设置在所述螺杆(72)外表面固定安装的套接筒(73),所述套接筒(73)与螺杆(72)之间活动连接有限定导向(74),所述螺杆(72)顶端固定连接有安置板(75)。2.根据权利要求1所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述抽拉箱体(2)贯穿基座(1)并延伸至螺杆(72)处,所述螺杆(72)通过安置板(75)与调节件(8)相连通,所述芯片方盘(9)上设置有均匀分布的收集垫,所述监测装置(4)内部设置有传送带。3.根据权利要求1所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述螺杆(72)的直径比套接筒(73)的直径小,所述安置板(75)右下角固定连接有调节件(8),所述套接筒(73)与套接筒(73)之间的槽体相对应。4.根据权利要求1所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述清理装置(71)还包括作用盘(710),所述作用盘(710)顶部活动连接有斜板(711),所述斜板(711)背面固定连接有贴合板(712),所述贴合板(712)背面固定连接有圆弧件(713),所述圆弧件(713)底部中间固定连接有金属撑体(714),所述金属撑体(714)底端固定连接有组装件(715),所述组装件(715)外表面活动连接有爪子(716)。5.根据权利要求4所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述爪子(716)以金属撑体(714)的中心轴线为参考而均匀分布,所述爪子(716)为棉绒材质,所述组装件(715)与金属撑体(714)之间的夹角为九十度设计。6.根据权利要求4所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述圆弧件(713)通过金属撑体(714)与组装件(715)相连通,所述金属撑体(714)位于圆弧件(713)正下方,所述组装件(715)为圆形片状设计。7.根据权利要求1所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述监测装置(4)包括传送外壳(41),所述传送外壳(41)内腔活动连接有弓形件(43),所述弓形件(43)顶部固定连接有放置壳体(42),所述弓形件(43)左侧和右侧均固定连接有强力弹簧(44),所述弓形件(43)右侧活动连接有T型腔座(45),所述弓形件(43)左侧活动连接有辅助板件(49),所述T型腔座(45)远离弓形件(43)的一侧活动连接有摆动体(46),所述摆动体(46)内腔活动连接有挤压件(47),所述挤压件(47)后端固定连接横推杆(48)。8.根据权利要求7所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述挤压件(47)具有主轴和卡条,所述强力弹簧(44)数量共有两个,且强力弹簧(44)以弓形件(43)的中心轴线而均匀对称,所述辅助板件(49)内部开设有与螺杆(72)相对应的槽体。9.根据权利要求7所述的一种基于芯片良率监测用调节装置,其特征在于:所述横推杆(48)和摆动体(46)以及挤压件(47)均位于处理座(3)内部,所述辅助板件(49)的长度规格
尺寸比T型腔座(45)的长度规格长,所述摆动体(46)数量共有四个,且摆动体(46)为金属不锈钢材质。10.一种基于芯片良率监测用调节方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步:使用时,首先检查本发明的安装固定以及安全防护,启动伺服电机,螺杆(72)中的一端与电机的一端固定连接,螺杆(72)通电发生一定的旋转,监测装置(4)内部含有传送带,监测装置(4)中的放置壳体(42)内部放置芯片,将抽拉箱体(2)推动至基座(1)内部,监测装置(4)内部传送带运输作用使其上方的放置壳体(42)由后往前运输,放...
【专利技术属性】
技术研发人员:潘曹峰,韩勋,
申请(专利权)人:江苏振宁半导体研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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