基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置制造方法及图纸

本申请提供一种基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置。方法包括：获取待测电路板图像和样本电路板图像；提取待测电路板图像的第一特征信息和样本电路板图像的第二特征信息；基于第一特征信息与第二特征信息之间的相关性特征，对待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，相关性特征用于表征待测电路板图像与样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。采用本申请，有助于提高PCB缺陷检测的准确率。陷检测的准确率。陷检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置


[0001]本申请涉及图像处理
，特别是涉及一种基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置。

技术介绍

[0002]随着汽车电子、通讯设备、变压器、电感装置和电源模块等产品在生活中的广泛应用以及电子信息技术、通讯技术的快速发展，市场对高传输、高电压的电子产品提出了更高的要求。而作为电子产品的基础承载部件
‑
印制电路板(Printed circuit board，简称PCB)，其性能的优劣直接影响对应电子产品的性能。
[0003]由于PCB在生产过程中无法避免地存在大量的缺陷，并且存在的缺陷主要位于PCB的电路元件处。因此，需要对存在缺陷的电路元件进行检测，以进行后续的PCB修复工作。目前对PCB进行缺陷检测主要是通过自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)设备利用光学相机采集PCB的图像，并使用图像处理、机器学习等方法，检测和定位出PCB上的缺陷。
[0004]然而，由于AOI检测PCB的检测精度以及PCB上缺陷的形状、数量和类型等影响因素，导致一些相似的区域中的缺陷或者未知类型的缺陷不能被检测出，以使得PCB缺陷检测的准确率不高。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置，能够实现提高对PCB进行缺陷检测的准确率。
[0006]第一方面，本申请提供了一种基于特征相关性的缺陷检测方法，包括：
[0007]获取待测电路板图像和样本电路板图像；
[0008]提取待测电路板图像的第一特征信息和样本电路板图像的第二特征信息；
[0009]基于第一特征信息与第二特征信息之间的相关性特征，对待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，相关性特征用于表征待测电路板图像与样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。
[0010]第二方面，本申请还提供了一种基于特征相关性的缺陷检测装置，包括：
[0011]获取单元，用于获取待测电路板图像和样本电路板图像；
[0012]提取单元，用于提取待测电路板图像的第一特征信息和样本电路板图像的第二特征信息；
[0013]检测单元，用于基于第一特征信息与第二特征信息之间的相关性特征，对待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，相关性特征用于表征待测电路板图像与样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。
[0014]第三方面，本申请还提供了一种电子设备，该电子设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述的基于特征相关性的缺陷检测
方法。
[0015]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的基于特征相关性的缺陷检测方法。
[0016]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述的基于特征相关性的缺陷检测方法。
[0017]上述基于特征相关性的缺陷检测方法及相关装置，一方面，仅利用待测电路板图像和样本电路板图像的特征信息，确定出两者之间对应区域的相同程度，从而能够易于进行后续PCB的缺陷检测流程，以提升缺陷检测的效率和保证检测的实时性；另一方面，利用待测电路板图像和样本电路板图像之间对应区域的相同程度，来检测待测电路板图像中的缺陷，能够提升PCB缺陷检测的准确率和保证电路板较高的召回率。
附图说明
[0018]图1是本申请实施例提供的一种基于特征相关性的缺陷检测方法的应用环境图；
[0019]图2是本申请实施例提供的第一种基于特征相关性的缺陷检测方法的流程示意图；
[0020]图3是本申请实施例提供的对待测电路板图像进行缺陷检测的流程示意图；
[0021]图4是本申请实施例提供的确定第一特征信息与第二特征信息之间相关性特征的流程示意图；
[0022]图5是本申请实施例提供的对缩放后的待测电路板图像进行缺陷检测的流程示意图；
[0023]图6是本申请实施例提供的对缩放后的待测电路板图像进行缺陷识别和缺陷标注的流程示意图；
[0024]图7是本申请实施例提供的第二种基于特征相关性的缺陷检测方法的流程示意图；
[0025]图8是本申请实施例提供的对缺陷电路板进行更新的流程示意图；
[0026]图9是本申请实施例提供的第三种基于特征相关性的缺陷检测方法的流程示意图；
[0027]图10是本申请实施例提供的一种基于特征相关性的缺陷检测装置框图；
[0028]图11是本申请实施例提供的一种电子设备的框图；
[0029]图12是本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质的框图；
[0030]图13是本申请实施例提供的一种计算机程序产品的框图。
具体实施方式
[0031]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0032]本申请实施例中的术语“和/或”指的是包括相关联的列举项目中的一个或多个的任何和全部的可能组合。还要说明的是：当用在本说明书中时，“包括/包含”指定所陈述的
特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件的存在，但是不排除一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件和/或它们的组群的存在或添加。
[0033]本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0034]另外，本申请中尽管多次采用术语“第一”、“第二”等来描述各种操作(或各种元件或各种应用或各种指令或各种数据)等，不过这些操作(或元件或应用或指令或数据)不应受这些术语的限制。这些术语只是用于区分一个操作(或元件或应用或指令或数据)和另一个操作(或元件或应用或指令或数据)。例如，第一数量的像素特征可以被称为第二数量的像素特征，第二数量的像素特征也可以被称为第一数量的像素特征，仅仅是其两者所包括的范围不同，而不脱离本申请的范围，第一数量的像素特征和第二数量的像素特征都是各种电路板上的相应数量的像素特征集合，只是二者并不是相同的电路板上相应数量的像素特征的集合而已。
[0035]本申请实施例提供的基于特征相关性的缺陷检测方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，电子设备102通过通信网络与服务器104进行通信。数据存储系统可以存储服务器104需要处理的数据。数据存储系统可以集成在服务器104上，也可以放本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于特征相关性的缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测电路板图像和样本电路板图像；提取所述待测电路板图像的第一特征信息和所述样本电路板图像的第二特征信息；基于所述第一特征信息与所述第二特征信息之间的相关性特征，对所述待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果；其中，所述相关性特征用于表征所述待测电路板图像与所述样本电路板图像之间对应相同区域的相同程度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测电路板图像和样本电路板图像之后，所述方法还包括：对所述待测电路板图像和所述样本电路板图像进行缩放，得到像素尺寸相同的缩放后的待测电路板图像和样本电路板图像；所述提取所述待测电路板图像的第一特征信息和所述样本电路板图像的第二特征信息，包括：提取所述缩放后的待测电路板图像的第一特征信息和所述缩放后的样本电路板图像的第二特征信息；所述基于所述第一特征信息与所述第二特征信息之间的相关性特征，对所述待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：确定所述第一特征信息与所述第二特征信息之间的相关性特征；根据所述相关性特征，对所述缩放后的待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一特征信息和所述第二特征信息均包括在图像对应像素点位置的颜色特征、纹理特征、形状特征、空间关系特征中的至少一种；所述确定所述第一特征信息与所述第二特征信息之间的相关性特征，包括：确定所述缩放后的待测电路板图像与所述缩放后的样本电路板图像之间对应相同像素点位置的每一对像素点；基于所述第一特征信息和所述第二特征信息，计算所述每一对像素点对应至少一种特征信息的相似度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关性特征，对所述缩放后的待测电路板图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：确定所述缩放后的待测电路板图像对应第一数量的像素特征和所述缩放后的样本电路板图像对应第二数量的像素特征；基于所述第一数量的像素特征、所述第二数量的像素特征和所述每一对像素点对应至少一种特征信息的相似度，对所述缩放后的待测电路板图像进行缺陷识别和缺陷标注，得到缺陷检测结果。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一数量的像素特征、所述第二数量的像素特征和所述每一对像素点对应至少一种特征信息的相似度，对所述缩放后的待测电路板图像进行缺陷识别和缺陷标注，得到缺陷检测结果，包括：基于...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡淳昊，田倬韬，易振彧，徐佳锋，刘枢，吕江波，沈小勇，
申请(专利权)人：深圳思谋信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：