功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质，通过获取功率半导体器件的结温采样值；根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程度；能够根据结温采样值与在线结温估算值之间的结温差值判断功率半导体器件的老化程度，不需要大量的数据支撑，能够适用于功率半导体器件老化程度在线判断的效果。程度在线判断的效果。程度在线判断的效果。

【技术实现步骤摘要】
功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及功率半导体器件
，尤其涉及一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]老化为功率半导体器件的正常失效现象，并且功率半导体器件的老化程度是随时间递增的。
[0003]目前，在功率半导体器件应用之前，会根据典型工况、恶性工况的发生概率来定义老化降额，但是该方式需要大量的数据支撑，并且还涉及到分解不同工况与老化程度的关系，方案实现难度高且数据处理量较大，无法适用于功率半导体器件老化程度的在线判断。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供了一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中无法对功率半导体器件的老化程度进行在线判断的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了一种功率半导体器件老化判定方法，该方法包括以下步骤：
[0007]获取功率半导体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功率半导体器件老化判定方法，其特征在于，所述方法包括：获取功率半导体器件的结温采样值；根据所述结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，所述在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；根据所述结温差值在线判断所述功率半导体器件的老化程度。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值在线判断所述功率半导体器件的老化程度，包括：判断所述结温差值是否大于或等于预设结温差阈值；若判断结果为所述结温差值大于或等于所述预设结温差阈值，则根据所述结温差值和预设结温差区间确定所述功率半导体器件的老化程度。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值和预设结温差区间确定所述功率半导体器件的老化程度，包括：确定所述结温差值所属的预设结温差区间；根据所述预设结温差区间确定所述功率半导体器件的老化程度。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断所述结温差值是否大于或等于预设结温差阈值之后，还包括：若判断结果为所述结温差值小于所述预设结温差阈值，则判定所述功率半导体器件未发生老化。5.如权利要求1
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4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述结温差值在线判断所述功率半导体器件的老化程度之后，还包括；根据所述老化程度在线下调功率半导体器件的输出电流。6.如权利要求5所述的方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋辉，殷威，张太之，李锡鹏，
申请(专利权)人：汇川新能源汽车技术常州有限公司，
类型：发明
国别省市：