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本发明公开了一种功率半导体器件老化判定方法、装置、设备及存储介质，通过获取功率半导体器件的结温采样值；根据结温采样值和在线结温估算值确定结温差值，在线结温估算值基于未老化的同型号功率半导体器件确定；根据结温差值在线判断功率半导体器件的老化程...
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