一种可控硅性能的检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可控硅性能的检测电路，包括发光模块、第一光耦电路模块和第二光耦电路模块，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块并联连接，发光模块具有零线连接端和火线连接端，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块与发光模块分别与发光模块的零线连接端、火线连接端连接，发光模块的零线连接端、火线连接端分别与可控硅驱动电路的输出端连接，发光模块选择为钨丝灯或者钨丝卤素灯。本实用新型专利技术通过采用钨丝灯作为负载，能够做到波形提取与分析，并具有热地隔离，安全可靠的特性。安全可靠的特性。安全可靠的特性。

【技术实现步骤摘要】
一种可控硅性能的检测电路


[0001]本技术涉及一种检测电路，具体地说是一种可控硅性能的检测电路。

技术介绍

[0002]可控硅是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件，亦称为晶闸管。具有体积小、结构相对简单、功能强等特点，被广泛应用于各种电子设备和电子产品中，多用来作可控整流、逆变、变频、调压、无触点开关等。
[0003]对于可控硅驱动电路，一般应用于加热类、灯光照明、电机调速等作为负载应用电路，春优势是价格低廉，驱动电路相对简单，可控性较好，所以这种电路模块深受大家青睐，因此许多交流控制应用电路板中可见到可控硅驱动电路的身影。传统检测方式为带真实负载测试，电机易磨损，电阻无冲击电流。人眼判定，易混淆，丢波或波形畸变的情况下，人眼几乎很难分辩。从原理上来讲，按需求控制可控硅的导通角，比如常说的丢波与切波，即可得到相对所需的恒定负载功率。但此电路模块在实际制造中会有层层原因，导致可控硅无输出，或不能关断，输出丢波，输出波形畸变等等情况。在制备好后，没有一个有效的检测，导致出厂品质难以把控。
[0004]参考图1所示，为现本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可控硅性能的检测电路，其特征在于，包括发光模块、第一光耦电路模块和第二光耦电路模块，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块并联连接，发光模块具有零线连接端和火线连接端，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块与发光模块分别与发光模块的零线连接端、火线连接端连接，发光模块的零线连接端、火线连接端分别与可控硅驱动电路的输出端连接。2.根据权利要求1所述的可控硅性能的检测电路，其特征在于，所述发光模块为钨丝灯或者钨丝卤素灯。3.根据权利要求2所述的可控硅性能的检测电路，其特征在于，所述第一光耦电路模块为型号为EL817的线性光耦，该第一光耦电路模块的输入一端连接有电阻R3和电阻R4，电阻R3与发光模块的零线连接端连接，电阻R4与发光模块的火线连接端连接，第一光耦电路模块的输出一侧连接有第一滤波模块和上拉电阻R1，上拉电阻R1连接到VCC。4.根据权利要求3所述的可控硅性能的检测电路，其特征在于，所述第二光耦电路模块为型号为EL817的线性光耦，该第二光耦电路模块的输入一端连接有电阻R5和电阻R6，电阻R5与电阻R4及发光模块的火线连接端连接，电阻R6与电阻R3及发光模块的零线连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：周知华，
申请(专利权)人：深圳市朗科智能电气股份有限公司，
类型：新型
国别省市：