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本实用新型公开了一种可控硅性能的检测电路，包括发光模块、第一光耦电路模块和第二光耦电路模块，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块并联连接，发光模块具有零线连接端和火线连接端，第一光耦电路模块和第二光耦电路模块与发光模块分别与发光模块的零线连接...
该专利属于深圳市朗科智能电气股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市朗科智能电气股份有限公司授权不得商用。

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