一种料片测量用固定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种料片测量用固定装置，包括上夹座、下夹座和两个左右分布的伸缩机构，所述上夹座和下夹座之间通过弹性件连接；所述伸缩机构包括两个上下对称布置的滑槽，所述滑槽平行于前后方向，两个滑槽分别设置在上夹座和下夹座的夹持面处，两个滑槽内均设置有两个伸缩组件，同一滑槽内的两个伸缩组件前后对称布置；所述伸缩组件包括设置在滑槽内的伸缩杆，所述伸缩杆与滑槽匹配，所述伸缩杆与滑槽滑动连接，上下相邻两个伸缩杆贴合，上下相邻两个伸缩杆的贴合面与夹持和底座的贴合面处于同一平面。该料片测量用固定装置，通过伸缩杆的移动调节框架料片的夹持长度，避免框架料片夹持过程中发生形变，实现可靠固定和精准测量尺寸。测量尺寸。测量尺寸。

【技术实现步骤摘要】
一种料片测量用固定装置


[0001]本技术涉及一种料片测量用固定装置，属于半导体


技术介绍

[0002]半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。
[0003]申请号为CN202221981541.3的技术专利公开了一种引线框架夹具。该引线框架夹具包括：夹具本体，夹具本体包括上夹板和下夹板，上夹板和下夹板进行铰接，即上夹板能够以下夹板为支点进行转动，上夹板和下夹板间设有弹性件，弹性件设于夹具本体的尾部，夹具本体的头部设有夹持台阶，上夹板设有与夹持台阶相适配的凹槽盖。该申请提供的方案，用于引线框架冲压深度尺寸检测时的夹持，能够克服引线框架非共面造成的放置不平、倾斜等引起的测量不准的问题，但是，当框架料片厚度过小，如只有0.2mm时，由于现有技术中夹持框架料片的长度有限，夹持过程中会因材质偏软而发生形变，导致无法进行固定和精准测量尺寸。
[0004]因此，需要有一种料片测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种料片测量用固定装置，其特征在于：包括上夹座(1)、下夹座(2)和两个左右分布的伸缩机构(3)，所述上夹座(1)和下夹座(2)之间通过弹性件(4)连接；所述伸缩机构(3)包括两个上下对称布置的滑槽(31)，所述滑槽(31)平行于前后方向，两个滑槽(31)分别设置在上夹座(1)和下夹座(2)的夹持面处，两个滑槽(31)内均设置有两个伸缩组件(32)，同一滑槽(31)内的两个伸缩组件(32)前后对称布置；所述伸缩组件(32)包括设置在滑槽(31)内的伸缩杆(32.1)，所述伸缩杆(32.1)与滑槽(31)匹配，所述伸缩杆(32.1)与滑槽(31)滑动连接，上下相邻两个伸缩杆(32.1)贴合，上下相邻两个伸缩杆(32.1)的贴合面与夹持和底座(21)的贴合面处于同一平面。2.根据权利要求1所述的一种料片测量用固定装置，其特征在于：所述下夹座(2)包括底座(21)，所述底座(21)上设置有定位孔(22)，所述底座(21)的顶部固定设置有两个固定块(23)，两个固定块(23)分别位于定位孔(22)的前后两侧。3.根据权利要求2所述的一种料片测量用固定装置，其特征在于：所述上夹座(1)包括定位柱(11)，所述定位柱(11)竖向穿过定位孔(22)，所述定位柱(11)与定位孔(22)匹配，所述定位柱(11)的左右两侧均固定设置有移动座(12)，两个移动座(12)与两个伸缩机构(3)一一对应，所述移动座(12)位于底座(21)的上方，两个移动座(12)的底部均固定设置有夹板(13)，所述夹板(13)与底座(21)的顶部贴合。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：周琦，杨吉明，徐海军，孙杰，芮聪，戴亮，
申请(专利权)人：江苏海德半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：