本实用新型专利技术涉及一种料片测量用固定装置，包括上夹座、下夹座和两个左右分布的伸缩机构，所述上夹座和下夹座之间通过弹性件连接；所述伸缩机构包括两个上下对称布置的滑槽，所述滑槽平行于前后方向，两个滑槽分别设置在上夹座和下夹座的夹持面处，两个滑槽内均设置有两个伸缩组件，同一滑槽内的两个伸缩组件前后对称布置；所述伸缩组件包括设置在滑槽内的伸缩杆，所述伸缩杆与滑槽匹配，所述伸缩杆与滑槽滑动连接，上下相邻两个伸缩杆贴合，上下相邻两个伸缩杆的贴合面与夹持和底座的贴合面处于同一平面。该料片测量用固定装置，通过伸缩杆的移动调节框架料片的夹持长度，避免框架料片夹持过程中发生形变，实现可靠固定和精准测量尺寸。测量尺寸。测量尺寸。
【技术实现步骤摘要】
一种料片测量用固定装置
[0001]本技术涉及一种料片测量用固定装置，属于半导体
技术介绍
[0002]半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。
[0003]申请号为CN202221981541.3的技术专利公开了一种引线框架夹具。该引线框架夹具包括：夹具本体，夹具本体包括上夹板和下夹板，上夹板和下夹板进行铰接，即上夹板能够以下夹板为支点进行转动，上夹板和下夹板间设有弹性件，弹性件设于夹具本体的尾部，夹具本体的头部设有夹持台阶，上夹板设有与夹持台阶相适配的凹槽盖。该申请提供的方案，用于引线框架冲压深度尺寸检测时的夹持，能够克服引线框架非共面造成的放置不平、倾斜等引起的测量不准的问题，但是，当框架料片厚度过小，如只有0.2mm时，由于现有技术中夹持框架料片的长度有限，夹持过程中会因材质偏软而发生形变，导致无法进行固定和精准测量尺寸。
[0004]因此，需要有一种料片测量用固定装置，避免框架料片夹持过程中发生形变，实现可靠固定和精准测量尺寸。
技术实现思路
[0005]本技术要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供避免框架料片夹持过程中发生形变，实现可靠固定和精准测量尺寸的一种料片测量用固定装置。
[0006]本技术解决上述问题所采用的技术方案为：一种料片测量用固定装置，包括上夹座、下夹座和两个左右分布的伸缩机构，所述上夹座和下夹座之间通过弹性件连接；
[0007]所述伸缩机构包括两个上下对称布置的滑槽，所述滑槽平行于前后方向，两个滑槽分别设置在上夹座和下夹座的夹持面处，两个滑槽内均设置有两个伸缩组件，同一滑槽内的两个伸缩组件前后对称布置；
[0008]所述伸缩组件包括设置在滑槽内的伸缩杆，所述伸缩杆与滑槽匹配，所述伸缩杆与滑槽滑动连接，上下相邻两个伸缩杆贴合，上下相邻两个伸缩杆的贴合面与夹持和底座的贴合面处于同一平面。
[0009]作为优选，所述下夹座包括底座，所述底座上设置有定位孔，所述底座的顶部固定设置有两个固定块，两个固定块分别位于定位孔的前后两侧。
[0010]作为优选，所述上夹座包括定位柱，所述定位柱竖向穿过定位孔，所述定位柱与定位孔匹配，所述定位柱的左右两侧均固定设置有移动座，两个移动座与两个伸缩机构一一对应，所述移动座位于底座的上方，两个移动座的底部均固定设置有夹板，所述夹板与底座的顶部贴合。
[0011]作为优选，所述底座和两个固定块为一体成型结构。
[0012]作为优选，所述弹性件包括弹簧和盖板，所述盖板位于两个固定块之间，所述盖板与两个固定块固定连接，所述盖板位于定位柱的上方，所述弹簧位于盖板和定位柱之间，所述弹簧的一端固定设置在定位柱上，所述弹簧的另一端固定设置在盖板上。
[0013]作为优选，所述定位柱、两个移动座和两个夹板为一体成型结构。
[0014]作为优选，所述移动座和定位柱均与两个固定块贴合。
[0015]作为优选，所述伸缩杆为长方体。
[0016]作为优选，所述滑槽的左右两侧内壁均设置有导向槽，所述导向槽的两端均固定设置有限位块，所述伸缩杆内端的左右两侧均设置有滑块，两个滑块分别设置在两个导向槽内，所述滑块与导向槽匹配，所述滑块与限位块之间设置有间隙。
[0017]作为优选，所述限位块为橡胶材质。
[0018]与现有技术相比，本技术的优点在于：
[0019]本技术一种料片测量用固定装置，通过伸缩杆的移动调节框架料片的夹持长度，避免框架料片夹持过程中发生形变，实现可靠固定和精准测量尺寸，而且，通过设置两个夹板，可以同时对两个框架料片进行尺寸测量，提高了测量效率。
附图说明
[0020]图1为本技术一种料片测量用固定装置的立体图；
[0021]图2为本技术一种料片测量用固定装置的主视图；
[0022]图3为本技术一种料片测量用固定装置的左视图；
[0023]图4为本技术一种料片测量用固定装置的俯视图；
[0024]图5为本技术一种料片测量用固定装置的仰视图；
[0025]图6为本技术一种料片测量用固定装置的爆炸图；
[0026]图7为下夹座的结构示意图；
[0027]图8为图7的A部放大图；
[0028]图9为上夹座的结构示意图；
[0029]图10为伸缩组件收缩状态的结构示意图；
[0030]图11为伸缩组件伸出状态的结构示意图；
[0031]图12为伸缩杆的结构示意图。
[0032]其中：上夹座1，定位柱11，移动座12，夹板13，下夹座2，底座21，定位孔22，固定块23，伸缩机构3，滑槽31，伸缩组件32，伸缩杆32.1，导向槽32.2，限位块32.3，滑块32.4，弹性件4，弹簧41，盖板42。
具体实施方式
[0033]如图1
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12所示，本实施例中的一种料片测量用固定装置，包括上夹座1、下夹座2和两个左右分布的伸缩机构3，所述上夹座1和下夹座2之间通过弹性件4连接，所述下夹座2包括底座21，所述底座21上设置有定位孔22，所述底座21的顶部固定设置有两个固定块23，两个固定块23分别位于定位孔22的前后两侧，所述底座21和两个固定块23为一体成型结构，所述上夹座1包括定位柱11，所述定位柱11竖向穿过定位孔22，所述定位柱11与定位孔22匹配，所述定位柱11的左右两侧均固定设置有移动座12，两个移动座12与两个伸缩机构3一一
对应，所述移动座12位于底座21的上方，所述移动座12和定位柱11均与两个固定块23贴合，两个移动座12的底部均固定设置有夹板13，所述夹板13与底座21的顶部贴合，所述定位柱11、两个移动座12和两个夹板13为一体成型结构，所述弹性件4包括弹簧41和盖板42，所述盖板42位于两个固定块23之间，所述盖板42与两个固定块23固定连接，所述盖板42位于定位柱11的上方，所述弹簧41位于盖板42和定位柱11之间，所述弹簧41的一端固定设置在定位柱11上，所述弹簧41的另一端固定设置在盖板42上，夹持框架料片期间，握住下夹座2，推动定位柱11向上移动，并使弹簧41压缩，同时使移动座12带动夹板13上升，并使夹板13与底座21之间产生间隙，随后，将框架料片放置在底座21和夹板13之间，松开定位柱11，通过弹簧41的弹性作用使定位柱11向下移动，则可以使夹板13向下移动并对框架料片实现夹持，如此，则实现框架料片的固定，之后对框架料片进行尺寸的测量，测量完毕后，再次推动定位柱11向上移动，使夹板13松开框架料片，取出框架料片后松开定位柱11即可，另外，通过伸缩机构3提高夹持框架料片的长度，避免框架料片夹持过程中因质地柔软而导致形变，实现可靠固定和精准测量尺寸，而且，通过设置两个夹板1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种料片测量用固定装置，其特征在于：包括上夹座(1)、下夹座(2)和两个左右分布的伸缩机构(3)，所述上夹座(1)和下夹座(2)之间通过弹性件(4)连接；所述伸缩机构(3)包括两个上下对称布置的滑槽(31)，所述滑槽(31)平行于前后方向，两个滑槽(31)分别设置在上夹座(1)和下夹座(2)的夹持面处，两个滑槽(31)内均设置有两个伸缩组件(32)，同一滑槽(31)内的两个伸缩组件(32)前后对称布置；所述伸缩组件(32)包括设置在滑槽(31)内的伸缩杆(32.1)，所述伸缩杆(32.1)与滑槽(31)匹配，所述伸缩杆(32.1)与滑槽(31)滑动连接，上下相邻两个伸缩杆(32.1)贴合，上下相邻两个伸缩杆(32.1)的贴合面与夹持和底座(21)的贴合面处于同一平面。2.根据权利要求1所述的一种料片测量用固定装置，其特征在于：所述下夹座(2)包括底座(21)，所述底座(21)上设置有定位孔(22)，所述底座(21)的顶部固定设置有两个固定块(23)，两个固定块(23)分别位于定位孔(22)的前后两侧。3.根据权利要求2所述的一种料片测量用固定装置，其特征在于：所述上夹座(1)包括定位柱(11)，所述定位柱(11)竖向穿过定位孔(22)，所述定位柱(11)与定位孔(22)匹配，所述定位柱(11)的左右两侧均固定设置有移动座(12)，两个移动座(12)与两个伸缩机构(3)一一对应，所述移动座(12)位于底座(21)的上方，两个移动座(12)的底部均固定设置有夹板(13)，所述夹板(13)与底座(21)的顶部贴合。4.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：周琦，杨吉明，徐海军，孙杰，芮聪，戴亮，
申请(专利权)人：江苏海德半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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