防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装置及方法，其包含：一第一感测层，具有多条第一轴向导线彼此电性隔离且对应电性连接多条第一连外导线；一第二感测层，具有多条第二轴向导线彼此电性隔离且对应电性连接多条第二连外导线，其中此第二感测层依序相叠于一介电层、此第一感测层、一基板上；一信号加载线，电性连接此些第一、第二连外导线，用以提供一第一感测信号；以及一感测单元，电性连接此些第一、第二连外导线，用以检测此些第一、第二轴向导线的感测信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控装置，特别是涉及一种防止导电物质影响触点检测 的投射电容式触控装置及方法。
技术介绍
目前电子设备常用的触控技术有电阻式(resistive)、表面电容 式(surface capacitive)、投射电容式(projected capacitive)、 表面音波式(surface acoustic wave)、光学影像式(optics imaging)、 红外线式(infrared)、折射式(bendingwave)以及数字转换式(active digitizer)…等。前3种技术因为构装体积较小，精密度相对可以做得 较高，因此适用于体积较小的随身行动装置或消费性电子产品。就电阻式触控技术而言，从触压屏幕到触点检测、数据运算以及位 置确认，其技术上有物理条件的限制，亦即，若要增加检测面积或分辨 率，就必须增加线数，而线数增加即代表须处理运算数据相对增加，此 对处理器将是一大负担。并且，触压机制的确认主要是由机械式动作完 成，PET膜再怎么强化材质以提升耐压、耐磨、抗变形等，毕竟还是有其 极限，如此一来将会造成透明度因使用时间、频率增加而表现愈来愈差， 至于触点检测亦会因经常性触点范围固定而造成某些特定区过度使用磨 损，进而减低ITO导电膜接触的导通效率，再者，ITO导电膜一定要预留 边框，因而限制工业设计的可选择性。此外，电阻式触控技术并无法达 到近侧感应(手指靠近未触压状态的检测)以及较难处理多指触压的要 求。表面电容式触控技术不须使用高精密度的IT0导电膜，所以触压侧 并没有类似电阻式的机械结构，因此不会有磨损或出现类似机械疲乏的 触压灵敏度下降现象，并且亦可检测近侧感应。然而，表面电容式触控 技术却有手影效应的问题存在，亦即，操作表面电容式触控屏幕时，若将手腕与手指一同靠近屏幕表面，则会使得IT0导电膜表面与面板侧产 生过多电荷，进而导致电容产生耦合造成大量感测错误。此外，由于表 面电容式是通过屏幕表面的电场变化而进行触点检测，因此使用环境若 电磁干扰问题较多时，亦会因此影响触点检测的精密度，且长时间使用 后，触点检测亦容易产生偏移，因此需要定时或经常性校准。请参照图1A，其为一现有的投射电容式触控面板100的立体分解图。此投射电容式触控面板100至少包含一基板110、 一第一感测层120、 一 介电层130、 一第二感测层140以及一结合层(bonding layer)与一保 护层(未绘出)由下往上同形堆栈而成，其中此些元件皆为透明，且第 一感测层120具有多个第一样式化(patterned)电极122由多条第一轴 向导线124相对串接，然后再与多条第一连外导线126相对电性连接， 且第二感测层140具有多个第二样式化电极142由多条第二轴向导线144 相对串接，然后再与多条第二连外导线146相对电性连接。在本图示中， 第一轴向为Y轴向且第二轴向为X轴向，然不限于此，亦可第一轴向为X 轴向且第二轴向为Y轴向等之变化。请参照图1B，其为图1A所示的投射电容式触控面板100的动作电路 150示意图。多条第一、第二连外导线126、 146电性连接至一感测单元 160，而多个第一、第二样式化电极122、 142、多条第一、第二轴向导线 124、 144与第一、第二连外导线126、 146的相对关系已于图1A中说明， 故在此不再赘述。当此电路动作时，感测单元160依序经由各第一连外 导线126对其所对应的第一轴向导线124提供一感测信号，并接着依序 经由各第二连外导线146对其所对应的第二轴向导线144提供此感测信 号，其间未被供以感测信号的第一、第二轴向导线124、 144则被接地或 固定电压准位。由于第一、第二轴向导线124、 144彼此间会存有杂散电 容(stray capacitance)，因此当使用者以手指或以导电物质靠近或接 触投射电容式触控面板100上的一触点TP时，触点TP上的手指或导电 物质即与第一、第二轴向导线124、 144形成一额外电容，故在触点TP 位置的等效电容值亦会随即改变，而感测单元160通过量测对应电流或 电荷转移量的相对较大变化量决定触点的位置(例如(X3， Y5))。简言 的，控制量测电路通过将量测的感测信号依序加载于每一条第一、第二6轴向导线，并量测因加载感测信号时所产生对应电流或电荷转移量的相 对较大变化量以决定触点位置。其中，依序加载感测信号于某一轴向导 线并扫瞄其电流或电荷变化量时，其余所有轴向导线均接地或电性连接 至一固定电压准位，由此确保杂散电容效应的一致性。然而，当投射电容式触控面板100上有一导电异物区域0Z时(例如水或其它导电物质)，则导电异物区域oz位置的轴向导线间的等效电路与等效杂散电容亦会随的改变，因而造成控制量测电路(感测单元160) 感测到轴向导线上的电流或电荷转移量的变化而导致误判及误动作。或者，当触点TP位置的轴向导线被加载感测信号并量测电流或电荷变化量 时却受导电异物区域oz的影响，使得原本应该量测到相对较大的对应电流或电荷转移量，却因导电异物区域oz旁接至相邻轴向导线接地，因此亦无法正确感测触点TP的位置。
技术实现思路
有鉴于上述的缺点，本专利技术提供一种防止导电物质影响触点检测的 投射电容式触控装置及方法，其可改进现有的投射电容式触控装置因导 电异物影响触点检领U的问题。本专利技术的目的之一，加载一感测信号于触控面板轴向导线，由此消 除各轴向导线间的I一cross (轴向导线彼此间的电流量)与Q一cross (轴 向导线彼此间的电荷转移量)。本专利技术公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装 置，其包含 一第一感测层，具有多条第一轴向导线彼此电性隔离且对 应电性连接多条第一连外导线； 一第二感测层，具有多条第二轴向导线 彼此电性隔离且对应电性连接多条第二连外导线，其中此第二感测层依 序相叠于一介电层、此第一感测层、 一基板的上； 一信号加载线，电性 连接此些第一、第二连外导线，用以提供一第一感测信号；以及一感测 单元，电性连接此些第一、第二连外导线，用以检测此些第一、第二轴 向导线的感测信号。本专利技术还公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一、第二轴向导线，7其中此些第一、第二轴向导线彼此电性隔离；同时检测此些第一、第二 轴向导线的多个第二、第三感测信号，其中此些第二、第三感测信号是 此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信号所对应产生；以及分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少 一触点于此相对坐标的坐标位置。本专利技术亦公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一、第二轴向导线， 其中此些第一、第二轴向导线彼此电性隔离；检测此些第一轴向导线的 多个第二感测信号；检测此些第二轴向导线的多个第三感测信号，其中 此些第二、第三感测信号是此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信 号所对应产生；以及分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者 对应一相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标位置。本专利技术另公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方法，该投射电容式触控方法包含：　（ａ）提供一第一感测信号于多条第一轴向导线与多条第二轴向导线，其中该些第一、第二轴向导线为彼此电性隔离；　（ｂ）检测该些第一、第二轴向导线的多个第二、 第三感测信号，其中该些第二感测信号是该些第一轴向导线接收该第一感测信号所对应产生，该些第三感测信号是该些第二轴向导线接收该第一感测信号所对应产生；以及　（ｃ）分别以该些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点于 该相对坐标的坐标位置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：张钦富，林昱翰，李政翰，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]