一种IC料盘翘曲检测装置，包括：托板和底板；托板和底板的一端连接且以连接处为基点进行旋转与底板形成开合角度，托板与底板相背的一侧设置有滑槽和限位板；滑槽沿着托板的延长方向设置，滑槽的宽度与所述IC料盘的宽度相匹配；限位板盖在所述滑槽的上方，限位板连接在滑槽两侧的托板上，限位板与滑槽形成检测腔体。通过托板绕着连接处旋转形与底板形成一定的开合角度，使托板形成一定的斜坡面，在托板上表面设置滑槽和限位板，限位板与滑槽形成检测腔，将IC料盘置入滑槽内通过重力式自由下滑，通过判断IC料盘是否可正常穿过检测腔来判断IC料盘是否发生翘曲形变，实现检测过程中无夹杂人为参与因素，提高检测的可靠性。提高检测的可靠性。提高检测的可靠性。
【技术实现步骤摘要】
一种IC料盘翘曲检测装置
[0001]本技术涉及芯片加工装置
，特别涉及一种IC料盘翘曲检测装置。
技术介绍
[0002]IC料盘是半导体封测企业为其IC芯片封装测试所用的包装托盘，为了防止产品的静电触碰，大多使用在电子产品和电子零件上面，对电子产品起到了一个很好的保护作用。但由于IC料盘是一种塑料材质的容器，在使用过程中难免发生变形，其中翘曲是最常见的一种异常，一旦IC料盘翘曲，在测试时，因平整度不够，机械手取放位置变得不精确，很容易对IC芯片造成压坏，针对IC芯片料盘翘曲检测，大多数使用大理石平台放置用塞规卡塞检测料盘翘曲，但是，由于采用人工判断，使用塞规对单一结构的外部形变进行测量很难做到准确，经常会对IC托盘内的产品是否合格产生误判，进而会造成IC托盘的浪费或者影响后续IC的抓取，为了克服采用塞规卡塞检测方法的缺陷申请号为201921193575.1的技术《用于装载IC的Tray盘的翘曲检测装置》中在底座上设置水平限位件，其中水平限位件随升降座下降调节水平限位件与第二水平承载面之间的距离为IC料盘的翘曲限值，然后使待检测IC料盘朝向水平限位件移动，即可根据待检测IC料盘是否能够从水平限位件下方通过来判断待检测IC料盘为良品还是不良品。该方案的缺陷在于：Tray从水平限位件下方通过时需要借助人的水平推力来实现，当IC料盘发生微小形变时，借助人的推力也可以从水平限位件下方通过，因此降低了IC料盘翘曲度的检测精度。
技术实现思路
[0003]为了克服上述现有技术中的缺陷本技术提供一种不需要借助人力、检测度高的IC料盘翘曲检测装置。具体方案为：
[0004]一种IC料盘翘曲检测装置，包括：托板和底板；
[0005]所述托板和底板的一端连接，所述托板以连接处为基点进行旋转与底板形成开合角度，所述托板与底板相背的一侧设置有滑槽和限位板；
[0006]所述滑槽沿着托板的延长方向设置，所述滑槽的宽度与所述IC料盘的宽度相匹配；
[0007]所述限位板盖在所述滑槽的上方，所述限位板连接在滑槽两侧的托板上，所述限位板与滑槽形成检测腔体，所述检测腔体用来检测IC料盘的翘曲度。
[0008]优选的，所述托板与所述底板之间设置有支撑杆，
[0009]所述支撑杆的一端连接在所述底板上，且可绕着连接处旋转。
[0010]优选的，所述底板上设置有收纳槽；
[0011]所述支撑杆位于所述收纳槽内。
[0012]优选的，所述托板靠近支撑杆的一侧沿着所述托板的延长方向设置有若干定位卡槽；
[0013]所述支撑杆远离底板的一端插入定位卡槽内。
[0014]优选的，所述限位板上还设置有调节螺栓；
[0015]所述限位板通过所述调节螺栓与所述托板连接，且通过所述调节螺栓调节限位板与所述滑槽之间的距离。
[0016]优选的，所述调节螺栓对称设置在所述限位板的两侧。
[0017]优选的，所述开合角度为30
°‑
75
°
。
[0018]与现有技术相比，本申请的有益效果在于：
[0019]通过托板绕着连接处旋转形与底板形成一定的开合角度，使托板形成一定的斜坡面，在托板上表面设置滑槽，在滑槽上方设置限位板，限位板与滑槽形成检测腔，将IC料盘置入滑槽内通过重力式自由下滑，通过判断IC料盘是否可正常穿过检测腔来判断IC料盘是否发生翘曲形变，实现检测过程中无夹杂人为参与因素，提高检测的可靠性；
[0020]通过所述托板和底板的转动连接实现本装置可折叠，收纳方便；
[0021]通过设置开合角度为30
°
～75
°
，避免大于75
°
IC料盘易直接摔下导致料盘损坏，开合角度过小IC料盘无法滑行的形况。
[0022]下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
[0023]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0024]图1为本技术实施例中一种IC料盘翘曲检测装置的轴侧图；
[0025]图2为本技术实施例中一种IC料盘翘曲检测装置的后视侧图；
[0026]图3为本技术实施例中一种IC料盘翘曲检测装置的左视图；
[0027]图4为本技术实施例中一种IC料盘翘曲检测装置的俯视图；
[0028]图5为本技术实施例中一种IC料盘翘曲检测装置的折叠状态；
[0029]其中，1
‑
托板，2
‑
底板，3
‑
限位板，4
‑
滑槽，5
‑
支撑杆，6
‑
收纳槽，7
‑
调节螺栓，8
‑
IC料盘。
具体实施方式
[0030]以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。
[0031]根据附图1
‑
5所示一种IC料盘翘曲检测装置，包括：托板1和底板2；
[0032]所述托板1和底板2的一端连接，所述托板1以连接处为基点进行旋转与底板2形成开合角度，所述托板1与底板2相背的一侧设置有滑槽4和限位板3，
[0033]所述滑槽4沿着托板1的延长方向设置，所述滑槽4的宽度以及形状与所述IC料盘8相匹配；
[0034]所述限位板3盖在所述滑槽4的上方，所述限位板3连接在滑槽4两侧的托板1上，所述限位板3与滑槽4形成检测腔体，所述检测腔体用来检测IC料盘8的翘曲度。
[0035]进一步的，所述托板1与所述底板2之间设置有支撑杆5，所述支撑杆5的一端连接在所述底板2上，且可绕着连接处旋转。
[0036]进一步的，所述底板2上设置有收纳槽；
[0037]所述支撑杆5位于所述收纳槽内。
[0038]进一步的，所述托板1靠近支撑杆5的一侧沿着所述托板1的延长方向设置有若干定位卡槽；
[0039]所述支撑杆5远离底板2的一端插入定位卡槽内。
[0040]进一步的，所述限位板3上还设置有调节螺栓7；
[0041]所述限位板3通过所述调节螺栓7与所述托板1连接，且通过所述调节螺栓7调节限位板3与所述滑槽4之间的距离。
[0042]优选的，所述调节螺栓7以限位板3的轴线为基准对称设置在所述限位板3的两侧。
[0043]进一步的，所述开合角度为30
°‑
75
°
。
[0044]需要说明的是：
[0045]在本申请中，底板2和托板1连接的一端呈U型结构，托板1通过转轴转动连接在U型结构的两个侧壁，用以实现托板1绕着与底板2的连接处进行旋转；
[0046]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC料盘翘曲检测装置，其特征在于，包括：托板(1)和底板(2)；所述托板(1)和底板(2)的一端连接，所述托板(1)以连接处为基点进行旋转与底板(2)形成开合角度，所述托板(1)与底板(2)相背的一侧设置有滑槽(4)和限位板(3)；所述滑槽(4)沿着托板(1)的延长方向设置，所述滑槽(4)的宽度与IC料盘(8)的宽度相匹配；所述限位板(3)盖在所述滑槽(4)的上方，所述限位板(3)连接在滑槽(4)两侧的托板(1)上，所述限位板(3)与滑槽(4)形成检测腔体，所述检测腔体用来检测IC料盘(8)的翘曲度。2.根据权利要求1所述的一种IC料盘翘曲检测装置，其特征在于，所述托板(1)与所述底板(2)之间设置有支撑杆(5)，所述支撑杆(5)的一端连接在所述底板(2)上，且可绕着连接处旋转。3.根据权利要求2所述的一种IC料盘翘曲检测装置，其特征在于，所述底板(...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨顺保，
申请(专利权)人：西安策士测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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