面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法及系统，所述物理验证规则检查系统包括：待验证的版图文件、版图文件解析器、规则文件、规则解析器以及物理验证引擎，以集成电路的物理验证的几何图形定义基本几何处理对象为基础，提供一种访问基本几何处理对象的公共属性和/或特有属性的方法；通过建立集成电路的版图文件的层次映射关系，以及根据这种面向对象的方法进行规则语句的编程，形成一个规则描述文件；规则解析器负责对这个规则描述文件进行语法和词法的解析；规则验证引擎根据规则解析器解析后的规则语句，形成具体的物理验证规则检查任务。本发明专利技术使得规则的编程以及物理验证规则检查的算法更加容易实现，后期维护更加友好。后期维护更加友好。后期维护更加友好。

【技术实现步骤摘要】
面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法及系统


[0001]本专利技术涉及集成电路的物理验证的
，尤其涉及一种能简洁描述工艺热点问题的集成电路的物理验证规则检查方法。

技术介绍

[0002]在芯片设计流程中，物理设计是最接近工艺制造端的一个步骤，除了需要保证不能出现短路、断路这类基本的设计要求外，大部分工作都是面向工艺制造，需要解决工艺制造中可能出现的各自问题，这些问题都以一条条的规则体现出来。
[0003]如图1所示，物理设计的输入一般是一个版图文件，以及一个描述工艺规则，器件规则等的规则文件，逐条对版图文件进行规则的检查，然后报告违背的种类，数量以及位置等。
[0004]其中版图文件通常是GDS格式，基于数据压缩的考虑，后续又出现了OASIS格式，不管那种格式，都是对版图的一个描述，而且这两种格式都是公开的工业标准。
[0005]而规则文件有很大的不同，和具体的工艺厂、工艺特征尺寸以及所使用的EDA都有关系，比如：工艺厂上，SMIC和TSMC的28nm规则的数量和内容是不同的，SMIC会比TSMC的规则多很多，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法，其特征在于，包括：根据集成电路的物理验证的几何图形定义基本几何处理对象，以及每种基本几何处理对象的公共属性和/或特有属性；创建规则解析器，使得集成电路的版图基于所述规则文件描述物理验证的规则时通过所述规则解析器对所述规则文件中的基本几何处理对象及其公共属性和/或特有属性的相关编程语句进行词法解析和语法解析；当需要对所述集成电路进行物理验证时，创建规则文件，并在在规则文件中建立所述集成电路的版图文件的层次映射关系以及验证规则；由规则验证引擎根据验证规则以及规则解析器对集成电路的版图文件中的基本几何处理对象进行物理验证。2.如权利要求1所述的面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法，其特征在于，所述基本几何处理对象包括图层、图形、边、角、边对、两个图像对象外侧的边对集合、两个图形对象内侧的边对集合、一个图形的外侧到另一个图形的内侧的边对集合、一个图形的内侧到另一个图形的外侧的边对集合、正方形、斜矩形、梯形、环、多边形当中的至少一种。3.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法，其特征在于，所述图形、正方形、斜矩形、梯形、环、多边形的公共属性包括基本几何处理对象的面积。4.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法，其特征在于，所述图形的特有属性包括基本几何处理对象的最长的边的长度。5.如权利要求2所述的面向对象的集成电路的物理验证规则检查方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：白耿，陈杰，李泓洋，郭婷，李柏，
申请(专利权)人：深圳国微福芯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：