【技术实现步骤摘要】
反向恢复测量结果和曲线图
[0001]相关申请的交叉引用本公开要求于2022年11月1日提交的、名称为“Automated Double Pulse Test (DPT) Measurements with Reverse Recovery Plot for System Validation of Wide Brand Gap (WBG) Power Devices During In
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Circuit Operation”的印度临时申请No. 202121050042的权益，该印度临时申请的公开内容以其全文通过引用并入本文。
[0002]本公开涉及基于半导体的功率设备的测试和测量。
技术介绍
[0003]在功率电子器件中使用的半导体材料正在由于在汽车和行业应用中它们在更高功率水平处的优越性能而从硅过渡到宽带隙（WBG）半导体，诸如碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）。
[0004]GaN和SiC技术实现了更小、更快且更高效的设计。完全证实基于SiC或GaN的WBG设备要求静态测量和动态测量...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试和测量仪器，包括：用户界面；一个或多个探测器，要连接到测试中设备（DUT）；以及一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：在所述DUT由来自电源的功率的应用以及来自源仪器的至少第一和第二脉冲的应用来激活之后，从所述DUT接收波形数据；在所述波形数据中定位一个或多个反向恢复区；根据所述反向恢复区确定针对所述DUT的反向恢复时间；以及在所述用户界面上显示所述一个或多个反向恢复区的反向恢复曲线图，所述反向恢复曲线图自动地被配置成显示所述反向恢复区中的一个或多个，且包括在所述反向恢复曲线图上注释的针对所述一个或多个反向恢复区的至少一个特性。2.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述一个或多个处理器进一步被配置成：接收指定用于确定所述反向恢复时间的配置的用户输入。3.如权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所述用户输入是针对外推水平的自动设定或者针对外推水平的用户指定的设定之一，所述外推水平用于切线。4.如权利要求3所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理器显示反向恢复曲线图的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：显示产生于所述自动设定的切线和产生于用户指定的设定的切线中的至少一个。5.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理器显示所述反向恢复曲线图的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：利用图例显示所述反向恢复曲线图。6.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述一个或多个处理器进一步被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：确定来自所述一个或多个反向恢复区的经恢复的电荷。7.如权利要求6所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理器显示所述反向恢复曲线图的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：将经恢复的电荷显示为针对所述一个或多个反向恢复区的经恢复的电荷区。8.如权利要求6所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理器确定经恢复的电荷的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：使用最大反向电流的预定百分比。9.如权利要求6所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理器确定经恢复的电荷的代码包括使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：呈现供用户输入最大反向电流的期望百分比的用户界面。10.如权利要求1所述的测试和测量仪器，其中使所述一个或多个处理...
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