一种稳定的芯片测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种稳定的芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。主要包括下座，下座的两侧均设置有两组滑槽，滑槽内滑动连接有滑块，滑块上安装有连杆，连杆上安装有上盖，滑块内安装有弹性卡块，滑槽下侧设置有卡槽，卡槽用于与弹性卡块配合对滑块的位置进行固定，当将芯片放置到下座内后，将两侧上盖垂直向下移动，使得滑块在滑槽内向下移动，当滑块移动到滑槽下端时，上盖到达对芯片上端的按压位置，弹性卡块与卡槽配合通过连杆使得上盖的位置固定，从而提高芯片安装受力的稳定性。本申请的一种稳定的芯片测试装置达到了稳定安装的效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
一种稳定的芯片测试装置


[0001]本申请涉及芯片测试
，具体为一种稳定的芯片测试装置。

技术介绍

[0002]芯片测试座是对芯片电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备，它是一个IC和PCB之间的静态连接器，它会让芯片的更换测试更为方便，不用一直焊接和取下芯片，这样的话，就不会损伤芯片和PCB，从而达到快速高效的测试。
[0003]例如公开号为CN214409200U的名为一种翻盖式PCB芯片测试座的中国技术专利，其通过翻盖形式对芯片进行按压固定，从而完成便捷安装的过程，然而为保证对芯片产生一定向下的压力来保证测试准确，导致了翻盖形式的上盖在闭合时其靠近旋转轴的一端会先与芯片上表面的一侧接触并产生压力，从而使得芯片在下压过程中受力并不平稳，容易造成芯片引脚局部受力损坏，所以有必要提供一种稳定的芯片测试装置来解决上述问题。
[0004]需要说明的是，本
技术介绍
部分中公开的以上信息仅用于理解本技术构思的
技术介绍
，并且因此，它可以包含不构成现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]基于现有技术中存在的上述问题，本申请实施例的目的在于：提供一种稳定的芯片测试装置，达到了稳定安装的效果。
[0006]本申请解决其技术问题所采用的技术方案是：一种稳定的芯片测试装置，包括下座，所述下座的两侧均设置有两组滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块上安装有连杆，所述连杆上安装有上盖，所述滑块内安装有弹性卡块，所述滑槽下侧设置有卡槽，所述卡槽用于与所述弹性卡块配合对所述滑块的位置进行固定，当将芯片放置到下座内后，将两侧上盖垂直向下移动，使得滑块在滑槽内向下移动，当滑块移动到滑槽下端时，上盖到达对芯片上端的按压位置，弹性卡块与卡槽配合通过连杆使得上盖的位置固定，从而提高芯片安装受力的稳定性。
[0007]进一步的，所述下座内转动连接有挤压块，所述挤压块的两侧均设置有挤压杆，所述挤压杆与所述下座活动连接，所述挤压杆的一端与所述弹性卡块侧面接触。
[0008]进一步的，所述挤压块上安装有旋钮，所述旋钮上设置有环形凹槽，所述环形凹槽用于增大所述旋钮表面的摩擦力。
[0009]进一步的，所述滑槽的下端设置有挤出槽，所述挤出槽内安装有挤出弹簧。
[0010]进一步的，两组所述上盖相邻两侧均安装有磁力部。
[0011]进一步的，所述滑槽内设置有圆弧倒角。
[0012]本申请的有益效果是：本申请提供的一种稳定的芯片测试装置，通过滑槽与滑块的配合从而使得在将芯片安装到下座中时，上盖对芯片的按压始终保持在垂直方向，提高
芯片安装受力的稳定性。
[0013]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本技术还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本技术作进一步详细的说明。
附图说明
[0014]构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0015]图1为本申请中一种稳定的芯片测试装置的整体示意图；
[0016]图2为图1中A区域的放大剖面示意图；
[0017]图3为图1的上盖打开状态示意图；
[0018]其中，图中各附图标记：
[0019]1、下座；2、上盖；3、连杆；4、旋钮；5、滑槽；6、挤压块；7、挤压杆；8、滑块；9、调节块；10、调节弹簧；11、挤出弹簧；12、磁块。
具体实施方式
[0020]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
[0021]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0022]需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的术语在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0023]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0024]如图1
‑
3所示，本申请提供了一种稳定的芯片测试装置，包括下座1，下座1的前后两侧均设置有在左右方向上以中心对称的两组滑槽5，滑槽5为向下两端为圆形中间为略小于圆形支撑的长槽结构，滑槽5内滑动连接有滑块8，滑块8的外侧固定连接有连杆3，连杆3的上端固定安装有上盖2，左右两组上盖2合并组合成一个整体从而在下座1的上端进行密封按压芯片；
[0025]滑块8的内部两侧均滑动连接有调节块9，两组调节块9之间设置有调节弹簧10，当
调节块9受到压力时，可将调节弹簧10压缩使得调节块9缩入到滑块8内部，当未外力作用下，调节块9受调节弹簧10的弹力影响从滑块8的两侧伸出，从而形成一个完整的圆，与滑槽5上下两端的圆形结构直径一致，当滑块8处于滑槽5中部长槽位置时，调节块9被挤压到滑块8的内部，当滑块8移动到滑槽5上端圆形结构处时，调节块9从滑块8内部伸出，从而使得滑块8与调节块9在滑槽5上端进行转动，从而便可将固定在连杆3上的上盖2向下座1左右两侧转动打开，从而方便将芯片安放到下座1内；
[0026]滑槽5下端圆形结构内设置有卡槽，调节块9的上端设置有与卡槽配合的缺口，从而使得在将上盖2向下移动通过连杆3使得滑块8移动到滑槽5的底部位置时，调节块9从滑块8内部弹出，使其缺口与卡槽配合，从而对滑块8的位置进行锁定无法再向上移动，从而固定住上盖2的位置，保持在对芯片的安装挤压位置上，从而便捷的完成对芯片的安装。
[0027]下座1的内侧转动连接有挤压块6，挤压块6设置在两组滑槽5底部之间，挤压块6与滑槽5之间活动连接有挤压杆7，挤压杆7一端与挤压块6侧面接触，另一端与调节块9的侧面接触，挤压块6为凸轮结构形式，当挤压杆7与挤压块6的低点位置接触时，调节块9可从滑块8内部伸出从而使其缺口与卡槽配合对滑块8的位置进行固定，当转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于：包括下座(1)，所述下座(1)的两侧均设置有两组滑槽(5)，所述滑槽(5)内滑动连接有滑块(8)，所述滑块(8)上安装有连杆(3)，所述连杆(3)上安装有上盖(2)，所述滑块(8)内安装有弹性卡块，所述滑槽(5)下侧设置有卡槽，所述卡槽用于与所述弹性卡块配合对所述滑块(8)的位置进行固定。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述下座(1)内转动连接有挤压块(6)，所述挤压块(6)的两侧均设置有挤压杆(7)，所述挤压杆(7)与所述下座(1)活动连接，所述挤压杆(7)...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘佳均，郭静，季春瑞，许桂洋，贾亚飞，张浩，
申请(专利权)人：安徽新芯威半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：