一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质，方法包括：通过指定信号源的相控阵超声阵列探头，对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据；基于扫描数据，获得与扫描数据对应的扫描图像；对扫描图像进行分析，确定与叶片包边结构对应的检测结果；其中，当叶片包边结构中存在缺陷的情况下，检测结果至少包括缺陷位置。至少包括缺陷位置。至少包括缺陷位置。

【技术实现步骤摘要】
一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及复合材料检测领域，尤其涉及一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]树脂基碳纤维增强复合材料叶片具有高比强度、高比模量、可剪裁设计，以及优越的耐疲劳和抗振性能等优点，从而广泛应用于航空航天等领域，尤其在飞机制造领域，为减轻机体重量，增加续航能力，机体结构中复合材料的用量比重逐渐增加，并在螺旋桨叶、航空发动机转子等很多关键部位得到应用；
[0003]但由于复合材料叶片上下壳体边缘胶接面极窄，为了提高复合材料叶片防撞击异物能力，往往采用薄金属片胶粘在复合材料叶片边缘，形成复合材料叶片包边胶接结构；但该结构在制造过程中易产生脱粘缺陷，从而影响胶接质量，所以需要对该结构进行全面的检测，而现有的检测技术难以很好的实现对该结构的检测。

技术实现思路

[0004]本公开提供了一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
[0005]根据本公开的第一方面，提供了一种叶片包边结构的检测方法，所述方法包括：通过指定信号源的相控阵超声阵列探头，对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据；基于所述扫描数据，获得与所述扫描数据对应的扫描图像；对所述扫描图像进行分析，确定与所述叶片包边结构对应的检测结果；其中，当所述叶片包边结构中存在缺陷的情况下，所述检测结果至少包括缺陷位置。
[0006]在一可实施方式中，所述相控阵超声阵列探头为线型阵列，所述指定信号源为高频宽频带窄脉冲的高斯正弦脉冲信号。
[0007]在一可实施方式中，相控阵超声阵列探头对应有多个子孔径阵元；
[0008]相对应的，所述对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据，包括：按特定扫描方式，依次激发子孔径阵元，获得多个扫描信号；通过扫描信号对叶片包边结构进行探测，获得与扫描信号对应数量的扫描数据。
[0009]在一可实施方式中，所述扫描信号对应有回波时间，所述回波时间包含叶片包边结构对应的一个完整垂直深度的声程。
[0010]在一可实施方式中，基于所述扫描数据，获得与所述扫描信号对应的扫描图像，包括：对多个扫描数据进行处理，确定第一矩阵；对第一矩阵进行全检波变换，确定与第一矩阵对应的第二矩阵；所述第二矩阵与第一矩阵不同；基于所述第二矩阵，获得与所述扫描信号对应的扫描图像。
[0011]在一可实施方式中，基于所述第二矩阵，获得与所述扫描信号对应的扫描图像，包括：基于特定扫描方式，确定激发子孔径的相对传播路径；根据子孔径的相对传播路径计
算，获得水平位置矩阵和垂直位置矩阵；根据水平位置矩阵、垂直位置矩阵和第二矩阵，进行绘图，形成扫描图像。
[0012]根据本公开的第二方面，提供了一种叶片包边结构的检测装置，所述装置包括：探测模块，用于通过指定信号源的相控阵超声阵列探头，对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据；获得模块，用于基于所述扫描数据，获得与所述扫描数据对应的扫描图像；确定模块，用于对所述扫描图像进行分析，确定与所述叶片包边结构对应的检测结果；其中，当所述叶片包边结构中存在缺陷的情况下，所述检测结果至少包括缺陷位置。
[0013]在一可实施方式中，所述相控阵超声阵列探头为线型阵列，所述指定信号源为高频宽频带窄脉冲的高斯正弦脉冲信号。
[0014]在一可实施方式中，相控阵超声阵列探头对应有多个子孔径阵元；相对应的，所述探测模块，还用于按特定扫描方式，依次激发子孔径阵元，获得多个扫描信号；通过扫描信号对叶片包边结构进行探测，获得与扫描信号对应数量的扫描数据。
[0015]在一可实施方式中，所述扫描信号对应有回波时间，所述回波时间包含叶片包边结构对应的一个完整垂直深度的声程。
[0016]在一可实施方式中，所述获得模块，还用于对多个扫描数据进行处理，确定第一矩阵；对第一矩阵进行全检波变换，确定与第一矩阵对应的第二矩阵；所述第二矩阵与第一矩阵不同；基于所述第二矩阵，获得与所述扫描信号对应的扫描图像。
[0017]在一可实施方式中，所述获得模块，还用于基于特定扫描方式，确定激发子孔径的相对传播路径；根据子孔径的相对传播路径计算，获得水平位置矩阵和垂直位置矩阵；根据水平位置矩阵、垂直位置矩阵和第二矩阵，进行绘图，形成扫描图像。
[0018]根据本公开的第三方面，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本公开所述的方法。
[0019]根据本公开的第四方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，所述计算机指令用于使所述计算机执行本公开所述的方法。
[0020]本公开一种叶片包边结构的检测方法、装置、设备及存储介质，通过通过指定信号源的相控阵超声阵列探头，对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据，基于扫描数据，确定扫描图像，就能够通过对扫描图像进行分析，确定与叶片包边结构对应的检测结果；从而实现现场的超声检测，解决超声水浸C扫描成像设备不宜用于试验现场的问题，并避免填充泡沫在水浸过程中吸水增加叶片重量的安全隐患。
[0021]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0022]通过参考附图阅读下文的详细描述，本公开示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本公开的若干实施方式，其中：
[0023]在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。
[0024]图1示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图一；
[0025]图2示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图二；
[0026]图3示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图三；
[0027]图4示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图四；
[0028]图5示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图五；
[0029]图6示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型示意图六；
[0030]图7示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型成像检测图一；
[0031]图8示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型成像检测图二；
[0032]图9示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型成像检测图三；
[0033]图10示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型成像检测图四；
[0034]图11示出了一种叶片包边结构的检测方法的模型成像检测图五；
[0035]图12示出了本公开实施例一种叶片包边结构的检测方法的实现流程示意图；
[0036]图13示出了本公开实施例一种叶片包边结构的检测方法的装置示意图；
[0037]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种叶片包边结构的检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过指定信号源的相控阵超声阵列探头，对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据；基于所述扫描数据，获得与所述扫描数据对应的扫描图像；对所述扫描图像进行分析，确定与所述叶片包边结构对应的检测结果；其中，当所述叶片包边结构中存在缺陷的情况下，所述检测结果至少包括缺陷位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相控阵超声阵列探头为线型阵列，所述指定信号源为高频宽频带窄脉冲的高斯正弦脉冲信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，相控阵超声阵列探头对应有多个子孔径阵元；相对应的，所述对叶片包边结构进行探测，获得扫描数据，包括：按特定扫描方式，依次激发子孔径阵元，获得多个扫描信号；通过扫描信号对叶片包边结构进行探测，获得与扫描信号对应数量的扫描数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述扫描信号对应有回波时间，所述回波时间包含叶片包边结构对应的一个完整垂直深度的声程。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述扫描数据，获得与所述扫描信号对应的扫描图像，包括：对多个扫描数据进行处理，确定第一矩阵；对第一矩阵进行全检波变换，确定与第一矩阵对应的第二矩阵；所述第二矩阵与第一矩阵不同；基于所述第二矩阵，获得与所述扫描信号对应的扫描图像。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述第二矩阵，获得与所述扫描信号对应的扫描图像，包括：基于特定扫描方...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵峰，顾军，康云松，马溶慧，苑鸿志，伍建雄，
申请(专利权)人：北京航天特种设备检测研究发展有限公司，
类型：发明
国别省市：