一种具有校验功能的扫描测试寄存器链制造技术

本发明专利技术公开一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，属于可测性设计领域，包括多个串联的具有校验功能的寄存器；每个具有校验功能的寄存器均包括PI端口、SI端口、CEN端口、SEN端口、S端口、CK端口、CKN端口和Y端口，前一级寄存器的Y端口接入后一级寄存器的SI端口形成串联；所述扫描测试寄存器链作为可测性设计的数据回读电路，待测电路施加激励后产生响应，通过所述扫描测试寄存器链读出电路响应，然后与目标结果进行对比，最后将比较结果串行输出到芯片端口。本发明专利技术用于抓取测试电路内部的测试结果并与目标结果进行对比，然后将校验结果输出到芯片外部，能够提高电路的测试效率和减少硬件资源开销。硬件资源开销。硬件资源开销。

【技术实现步骤摘要】
一种具有校验功能的扫描测试寄存器链


[0001]本专利技术涉及可测性设计
，特别涉及一种具有校验功能的扫描测试寄存器链。

技术介绍

[0002]可测性设计技术是在满足芯片正常功能的基础上，通过有效地加入测试电路，来降低芯片的测试难度和测试成本。
[0003]对于大规模集成电路设计项目，在集成电路设计阶段就该考虑增加可测性设计，不仅可以缩短测试开发的时间和降低测试成本，而且能够提前评估测试覆盖性。可控制性和可观测性是电路可测性设计中最基本的两个特性。可控制性是指，保证电路的所有状态是可以控制的，且容易通过施加测试图形来控制电路；可观测性是指，能够方便检测到电路的响应并校验。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，以解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，包括多个串联的具有校验功能的寄存器；每个具有校验功能的寄存器均包括PI端口、SI端口、CEN端口、SEN端口、S端口、CK端口、CKN端口和Y端口，前一级寄存器的Y端口接入后一级寄存器的SI端口形成串联；
[0006]所述扫描测试寄存器链作为可测性设计的数据回读电路，待测电路施加激励后产生响应，通过所述扫描测试寄存器链读出电路响应，然后与目标结果进行对比，最后将比较结果串行输出到芯片端口。
[0007]在一种实施方式中，当寄存器中S端口的sel信号为
‘1’
且SEN端口的Shift_EN信号为
‘1’
时，该扫描测试寄存器链处于串行传输数据状态，此时通过CK端口的控制时钟clk将目标结果数据通过SI端口的Serial_in信号传输到扫描测试寄存器链中，n位数据全部传输到扫描测试寄存器链中后，S端口的sel信号切换为“0”，待测电路的目标结果数据锁存到扫描测试寄存器链中的每个寄存器中；
[0008]将CEN端口的Capture_EN信号置为
‘0’
，该扫描测试寄存器链切换到并行输入模式，此时，通过各PI端口的Parallel_D0～Parallel_Dn信号将所有测试电路响应数据读入到扫描测试寄存器链中，将SEN端口的Shift_EN信号置为
‘0’
，扫描测试寄存器链切换到数据校验模式，自动将测试电路的响应数据与目标结果数据进行对比，若响应与目标结果一致则输出
‘1’
，若响应与目标结果不一致则输出
‘0’
。将S端口的sel信号置为
‘1’
，控制时钟clk将校验结果读入到下一级寄存器，然后将SEN端口的Shift_EN信号置为
‘1’
，将扫描测试寄存器链再次切换到串行传输数据状态，控制时钟clk将全部校验结果传输到芯片端口上。
[0009]在一种实施方式中，所述具有校验功能的寄存器包括并行数据读入电路、串行数
据传输寄存器和数据校验电路；所述并行数据读入电路和所述串行数据传输寄存器将数据传输到所述数据校验电路中进行校验并输出。
[0010]在一种实施方式中，所述并行数据读入电路包括第一非门和第一或非门，所述第一非门的输入端输入并行数据PI，输出端连接所述第一或非门的一个输入端；所述第一或非门的另一个输入端为CEN端口，所述第一或非门的输出端接入所述数据校验电路；
[0011]当CEN端口的信号置为
‘0’
，所述并行数据读入电路有效，将并行数据PI读入电路；当CEN置端口的信号为
‘1’
，所述并行数据读入电路无效。
[0012]在一种实施方式中，所述串行数据传输寄存器包括选择器MUX和寄存器；所述选择器MUX的一个输入端输入串行数据SI，另一个输入端连接所述寄存器的输出端；所述选择器MUX的输出端连接所述寄存器的D端；所述寄存器的输出端接入所述数据校验电路；
[0013]当所述选择器MUX的S端口的信号置为
‘1’
、SN端口的信号为
‘0’
，所述串行数据传输寄存器切换到串行数据传输模式，选择器MUX选通第二路，在移位时钟CK推动下，数据串行传输；一方面，外部数据能够通过所述串行数据传输寄存器传输到扫描测试寄存器链内部，另一方面，扫描测试寄存器链内部数据能够通过所述串行数据传输寄存器输出到数据链外部；
[0014]当选择器MUX的S端口的信号置为
‘0’
、SN端口的信号为
‘1’
，所述串行数据传输寄存器切换到数据锁存模式，数据Q锁存住。
[0015]在一种实施方式中，所述数据校验电路包括第二非门、第二或非门、传输门、PMOS管和NMOS管；所述第二或非门的一个输入端连接所述并行数据读入电路的输出端，另一端为EN端口，输入校验控制信号；所述第二或非门的输出端同时连接所述传输门的输入端和PMOS管的栅极、NMOS管的栅极；所述传输门的控制端一端连接所述串行数据传输寄存器的输出端和所述第二非门的输入端以及PMOS管的源极，控制端另一端连接所述第二非门的输出端和NMOS管的源极；所述传输门的输出端与所述PMOS管的漏极、所述NMOS管的漏极相连，作为扫描测试寄存器链的输出；
[0016]当EN端口的校验控制信号置为
‘1’
，为串行数据传输模式，即Z＝A2；当EN端口的校验控制信号置为
‘0’
，为数据校验模式，A1与A2进行同或计算，即Z＝A1
⊙
A2。
[0017]本专利技术提供的一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，用于抓取测试电路内部的测试结果并与目标结果进行对比，然后将校验结果输出到芯片外部，能够提高电路的测试效率和减少硬件资源开销。
附图说明
[0018]图1是一种具有校验功能的扫描测试寄存器链的结构示意图。
[0019]图2是单个具有校验功能的寄存器的结构示意图。
[0020]图3是串行数据传输寄存器的结构示意图。
[0021]图4是数据校验电路的结构示意图。
具体实施方式
[0022]以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出的一种具有校验功能的扫描测试寄存器链作进一步详细说明。根据下面说明，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图
均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0023]本专利技术提供一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，包含多个串联的具有校验功能的寄存器，如图1所示，每个具有校验功能的寄存器均包括PI端口、SI端口、CEN端口、SEN端口、S端口、CK端口、CKN端口和Y端口，前一级寄存器的Y端口接入后一级寄存器的SI端口形成串联。可测性设计的数据回读电路可采用该扫描测试寄存器链；待测电路施加激励后产生响应，可通过该扫描测试寄存器链读出电路响应，然后与目标结果进行对比，最后将比较结果串行输出到芯片端口。
[0024]所述具有校验功能的扫本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有校验功能的扫描测试寄存器链，其特征在于，包括多个串联的具有校验功能的寄存器；每个具有校验功能的寄存器均包括PI端口、SI端口、CEN端口、SEN端口、S端口、CK端口、CKN端口和Y端口，前一级寄存器的Y端口接入后一级寄存器的SI端口形成串联；所述扫描测试寄存器链作为可测性设计的数据回读电路，待测电路施加激励后产生响应，通过所述扫描测试寄存器链读出电路响应，然后与目标结果进行对比，最后将比较结果串行输出到芯片端口。2.如权利要求1所述的具有校验功能的扫描测试寄存器链，其特征在于，当寄存器中S端口的sel信号为
‘1’
且SEN端口的Shift_EN信号为
‘1’
时，该扫描测试寄存器链处于串行传输数据状态，此时通过CK端口的控制时钟clk将目标结果数据通过SI端口的Serial_in信号传输到扫描测试寄存器链中，n位数据全部传输到扫描测试寄存器链中后，S端口的sel信号切换为“0”，待测电路的目标结果数据锁存到扫描测试寄存器链中的每个寄存器中；将CEN端口的Capture_EN信号置为
‘0’
，该扫描测试寄存器链切换到并行输入模式，此时，通过各PI端口的Parallel_D0～Parallel_Dn信号将所有测试电路响应数据读入到扫描测试寄存器链中，将SEN端口的Shift_EN信号置为
‘0’
，扫描测试寄存器链切换到数据校验模式，自动将测试电路的响应数据与目标结果数据进行对比，若响应与目标结果一致则输出
‘1’
，若响应与目标结果不一致则输出
‘0’
。将S端口的sel信号置为
‘1’
，控制时钟clk将校验结果读入到下一级寄存器，然后将SEN端口的Shift_EN信号置为
‘1’
，将扫描测试寄存器链再次切换到串行传输数据状态，控制时钟clk将全部校验结果传输到芯片端口上。3.如权利要求1所述的具有校验功能的扫描测试寄存器链，其特征在于，所述具有校验功能的寄存器包括并行数据读入电路、串行数据传输寄存器和数据校验电路；所述并行数据读入电路和所述串行数据传输寄存器将数据传输到所述数据校验电路中进行校验并输出。4.如权利要求3所述的具有校验功能的扫描测试寄存器链，其特征在于，所述并行数据读入电路包括第一非门和第一或...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹振吉，王文，隽扬，曹靓，蔺旭辉，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：