一种二极管阵列测试电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种二极管阵列测试电路，包括通信插座、多个二极管测试单元电路，二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为半导体测试引出端Cf；该二极管阵列测试电路具有更高的灵活度，可根据不同器件封装，转接各种测试座，实现适配各种封装器件。装器件。装器件。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管阵列测试电路


[0001]本技术属于电子器件验证
，具体涉及一种二极管阵列测试电路。

技术介绍

[0002]元器件在出厂、长时间的闲置或者使用前一般都需要进行电性能的测试，来确保器件功能正常，二极管属于最常见的分立器件，在开关、稳压、整流、限幅、保护等电路中均有使用，而二极管阵列内部是由多个独立的二极管组和而成，在测试时需要单独测试每个二极管的性能。传统的方法测试人员一个个测试不仅费时费力，在遇到尺寸较小的器件时，操作难度很高甚至无法手工操作。
[0003]现如今很多设备厂家针对阵列类器件也有类似的辅助夹具，但一般专用性比较高，往往只能自家的设备使用，而且随着半导体行业的快速发展，各种封装的器件也层出不穷，设备厂家设计的只能满足常见封装器件的测试。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有二极管测试需要测试人员一个个测试不仅费时费力，在遇到尺寸较小的器件时，操作难度很高甚至无法手工操作。
[0005]为达上述目的，本技术提供了一种二极管阵列测试电路，包括通信插座、多个二极管测试单元电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管阵列测试电路，其特征在于：包括通信插座、多个二极管测试单元电路，所述二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，所述第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，所述第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，所述第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，所述第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为...

【专利技术属性】
技术研发人员：王超，赵文娟，刘毅，
申请(专利权)人：西安君信电子科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：