一种二极管阵列测试电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种二极管阵列测试电路，包括通信插座、多个二极管测试单元电路，二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为半导体测试引出端Cf；该二极管阵列测试电路具有更高的灵活度，可根据不同器件封装，转接各种测试座，实现适配各种封装器件。装器件。装器件。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管阵列测试电路


[0001]本技术属于电子器件验证
，具体涉及一种二极管阵列测试电路。

技术介绍

[0002]元器件在出厂、长时间的闲置或者使用前一般都需要进行电性能的测试，来确保器件功能正常，二极管属于最常见的分立器件，在开关、稳压、整流、限幅、保护等电路中均有使用，而二极管阵列内部是由多个独立的二极管组和而成，在测试时需要单独测试每个二极管的性能。传统的方法测试人员一个个测试不仅费时费力，在遇到尺寸较小的器件时，操作难度很高甚至无法手工操作。
[0003]现如今很多设备厂家针对阵列类器件也有类似的辅助夹具，但一般专用性比较高，往往只能自家的设备使用，而且随着半导体行业的快速发展，各种封装的器件也层出不穷，设备厂家设计的只能满足常见封装器件的测试。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有二极管测试需要测试人员一个个测试不仅费时费力，在遇到尺寸较小的器件时，操作难度很高甚至无法手工操作。
[0005]为达上述目的，本技术提供了一种二极管阵列测试电路，包括通信插座、多个二极管测试单元电路，所述二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，所述第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，所述第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，所述第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，所述第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为半导体测试引出端Cf。
[0006]进一步的，所述二极管测试单元电路可以设置1～8个。
[0007]进一步的，所述第一继电器、第二继电器的型号为TQ2
‑
12V。
[0008]进一步的，所述通信插座为DSUB1为25P的插座。
[0009]进一步的，所述的二极管阵列测试电路，还包括欧式母座。
[0010]本技术的优点是：本技术提供这种二极管阵列测试电路，通过对继电器进行控制，对多路二极管阵列中每个二极管的单独测试，通过开尔文连接的方式能够减小测试误差，具有更高的灵活度，可根据不同器件封装，转接各种测试座，实现适配各种封装器件。
[0011]下面结合附图和实施例对本技术做详细说明。
附图说明
[0012]图1是本技术的二极管阵列测试电路得示意图。
[0013]图2是欧式母座的引脚定义示意图。
具体实施方式
[0014]为进一步阐述本技术达成预定目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及实施例对本技术的具体实施方式、结构特征及其功效，详细说明如下。
[0015]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0016]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“垂直”、“水平”、“对齐”、“重叠”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0017]术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0018]实施例1
[0019]本实施例提供了一种如图1～图2所示的二极管阵列测试电路，包括通信插座、多个二极管测试单元电路，每一个二极管测试单元电路可以完成一路二极管的测试；所述二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，所述第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，所述第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，所述第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，所述第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为半导体测试引出端Cf；其中，测试引出端As、测试引出端Af为阳极引出端，测试引出端Cs、测试引出端Cf为阴极引出端。
[0020]进一步的，所述二极管测试单元电路可以设置1～8个，也就是说，该二极管阵列测试电路最多可以同时完成8路二极管的测试；如图2所示为连接了2路二极管测试单元电路的示意图；当需要再增加二极管测试单元电路的时候，只要根据需要增加对应路数的二极管测试单元电路，将每一路二极管测试单元电路的第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚进行连接即可。
[0021]进一步的，所述第一继电器、第二继电器的型号为TQ2
‑
12V。
[0022]进一步的，所述通信插座为DSUB1为25P的插座。
[0023]进一步的，所述的二极管阵列测试电路，还包括欧式母座，如图2所示，U18、U19为两个32P的欧式母座，用来转接不同的适配器；使用时将香蕉头插入设备的适配器接口，25P的排线用于设备控制测试板继电器的运行，根据实际情况选择通道数，即可开始测试。
[0024]二极管阵列测试电路通过25P的插头插座控制阵列的运行，其中继电器正极共阳，二极管阵列测试电路通过给每个继电器负极接地来控制不同的继电器接入电路。双通路转换型继电器每两只一组实现对单个二极管四线开尔文的连接，测试前编辑测试程序时，根据需求勾选需要使用的通路(默认一路)，编辑好测试程序后选择合适的适配座将二极管阵
列的正负极和阵列上的正负极一一对应，测试电路将按原理图上P1
‑
P8的顺序对各个端口依次置低。将继电器常开端接测试设备信号输出端，动点分别接二极管阵列的单个PN结，按下测试键后即开始依次测试。
[0025]综上所述，该二极管阵列测试电路，通过对继电器进行控制，对多路二极管阵列中每个二极管的单独测试，通过开尔文连接的方式能够减小测试误差，具有更高的灵活度，可根据不同器件封装，转接各种测试座，实现适配各种封装器件。
[0026]以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管阵列测试电路，其特征在于：包括通信插座、多个二极管测试单元电路，所述二极管测试单元电路包括第一继电器、第二继电器，所述第一继电器的引脚8、第二继电器的引脚8均与通信插座的引脚6电连接，所述第一继电器的引脚1、第二继电器的引脚1均与通信插座的引脚20电连接，所述第一继电器的引脚6为半导体测试引出端As，第一继电器的引脚3为半导体测试引出端Af，所述第二继电器的引脚6为半导体测试引出端Cs，第二继电器的引脚3为...

【专利技术属性】
技术研发人员：王超，赵文娟，刘毅，
申请(专利权)人：西安君信电子科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：