一种原子磁场测量梯度仪制造技术

技术编号:37444310 阅读:78 留言:0更新日期:2023-05-06 09:16
本发明专利技术提供了一种原子磁场测量梯度仪,包括:平台,包括上平台和下平台;原子气室单元,设置在下平台上,包括存有至少一种碱金属原子的原子气室;抽运光单元,设置在上平台上,用于发射抽运线偏振光;超表面光学单元,设置在上平台上,用于将抽运线偏振光转变为左右旋圆偏振光并射入原子气室中;检测光单元,设置在下平台上,用于向原子气室方向发射检测线偏振光;接收单元,设置在下平台上,包括至少一个探测器,其中,原子气室内的碱金属原子在左右旋圆偏振光的作用下极化,检测线偏振光在通过原子气室的过程中在外界磁场的作用下发生偏转,探测器用于检测经过原子气室后的检测线偏振光的偏转角度和光强。光的偏转角度和光强。光的偏转角度和光强。

【技术实现步骤摘要】
一种原子磁场测量梯度仪


[0001]本专利技术涉及磁场测量仪器仪表领域,具体涉及一种原子磁场测量梯度仪。

技术介绍

[0002]应用原子自旋效应进行物理量的精密测量成为近年来实验物理学领域一种重要的手段,在提高测量精度的同时,一些新的原子自旋物理效应、新的操控原理与方法得以发现并应用。基于SERF(spin

exchangerelaxationfree,无自旋交换弛豫)态原子自旋的操控和检测能够实现超高灵敏度的磁场测量,大幅超越之前的相关磁场测量手段。
[0003]随着基于SERF态原子自旋的理论研究的不断深入,磁场测量中限制灵敏度进一步提高的因素显现,即磁场梯度。磁场梯度的存在不仅影响原子弛豫,也会影响磁场测量中的信号差分效果。现有技术中的磁场测量梯度仪包括两探头磁场测量梯度仪和两检测光束磁场测量梯度仪,结构复杂,在使用时对探头和测光光束进行调节的操作步骤繁琐。且使用两检测光束磁场梯度仪时,两检测光束的实际功率之间的差异对测量的结果也存在一定的影响。

技术实现思路

[0004]本专利技术是为了解决上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种原子磁场测量梯度仪,其特征在于,包括:平台,包括上平台和下平台;原子气室单元,设置在所述下平台上,包括存有至少一种碱金属原子的原子气室;抽运光单元,设置在所述上平台上,用于发射抽运线偏振光;超表面光学单元,设置在所述上平台上,用于将所述抽运线偏振光转变为左右旋圆偏振光并射入所述原子气室中;检测光单元,设置在所述下平台上,用于向所述原子气室方向发射检测线偏振光;接收单元,设置在所述下平台上,包括至少一个探测器,其中,所述原子气室内的所述碱金属原子在所述左右旋圆偏振光的作用下极化,所述检测线偏振光在通过所述原子气室的过程中在外界磁场的作用下发生偏转,所述探测器用于检测经过所述原子气室后的所述检测线偏振光的偏转角度和光强。2.根据权利要求1所述的原子磁场测量梯度仪,其特征在于:其中,所述原子气室单元包括磁屏蔽筒、磁补偿线圈以及无磁加热器,所述磁屏蔽筒套设在所述原子气室的外部,所述磁补偿线圈设置在所述磁屏蔽筒和所述原子气室之间,所述无磁加热器设置在在所述磁屏蔽筒和所述原子气室之间,用于对所述所述原子气室加热。3.根据权利要求1所述的原子磁场测量梯度仪,其特征在于:其中,所述抽运光单元包括抽运激光发射器、第一起偏器以及扩束镜,所述抽运激光发射器用于发射抽运光,所述第一起偏器用于将所述抽运光转变为所述抽运线偏振光,所述扩束镜用于扩大所述抽运线偏振光的光束直径。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:李阳田申诚刘学静周国庆董祥美高秀敏
申请(专利权)人:上海理工大学
类型:发明
国别省市:

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