【技术实现步骤摘要】
一种聚合物微球体的处理设备
[0001]本技术涉及一种抛光垫制备设备,尤其是涉及一种聚合物微球体的处理设备。
技术介绍
[0002]CMP(Chemical Mechanical Polishing)即“化学机械抛光”,是为了克服化学抛光和机械抛光的缺点,将磨粒机械磨削和抛光液化学腐蚀作用组合的抛光技术。化学机械抛光最大的优点就是能使加工表面实现纳米级全局平坦化,满足集成电路特征尺寸在0.35μm以下的超精密无损伤表面加工。半导体器件通常要求达到纳米级的平整度,目前最好的工艺是用抛光液(化学)和抛光垫(机械)结合起来的方式。CMP除应用于集成电路芯片以外,也常出现在半导体的分立器件、电子元器件的加工上,此外也拓展到薄膜存贮磁盘、陶瓷、蓝宝石等表面加工领域。
[0003]抛光垫,又称研磨垫,其表面粗糙,设有凸起或凹槽,用于直接与芯片接触产生摩擦,以机械方式去除半导体表面的抛光层,并在离心力的作用下将抛光液均匀地抛洒到抛光垫的表面,以化学方式去除半导体表面的抛光层,同时将反应产物带出抛光垫。
[0004]通常情况 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种聚合物微球体的处理设备,其特征在于,包括:罐体(1),所述罐体(1)的顶部设有出气管(3)、底部设置有进气管(4),所述进气管(4)包括热风管道(42)和冷风管道(41);所述出气管(3)设有出口滤网(31);主滤网(2),设置于罐体(1)内将罐体(1)内部空间分隔为上下层,上层为聚合物微球体的处理腔,下层为气体缓冲腔,用于热风管道(42)和冷风管道(41)的气流汇合;所述主滤网(2)和出口滤网(31)的网孔直径小于聚合物微球体的直径。2.根据权利要求1所述的一种聚合物微球体的处理设备,其特征在于,所述罐体(1)上设置有温度传感器(7)和湿度传感器(8),用于检测罐体(1)内的温度和湿度。3.根据权利要求1所述的一种聚合物微球体的处理设备,其特征在于,所述罐体(1)上设置有带密封盖的进料口(5)和出料口(6),所述进料口(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员:张莉娟,
申请(专利权)人:上海芯谦集成电路有限公司,
类型:新型
国别省市:
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