一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统及检测方法技术方案

本发明专利技术涉及一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统及检测方法，属于陶瓷缺陷检测技术领域。所述陶瓷介质膜带缺陷检测系统包括机架、送膜机构、固定装置、线扫相机、控制器、通讯模块及图像处理模块，所述送膜机构安装于所述机架上，所述送膜机构用于输送陶瓷介质膜带；所述线扫相机对经过的陶瓷介质膜带进行拍摄，获得陶瓷介质膜带上每个印刷单元的图像，并通过所述通讯模块将获得的印刷单元图像发送给图像处理模块；所述图像处理模块用于对接收到的印刷单元图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果。本发明专利技术可以快速地检测出陶瓷介质膜带上的缺陷，检测精度高；本发明专利技术的检测方法具有节省人力，自动化程度高，工作效率高的优势。工作效率高的优势。工作效率高的优势。

【技术实现步骤摘要】
一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统及检测方法


[0001]本专利技术涉及陶瓷缺陷检测
，尤其涉及一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统及检测方法。

技术介绍

[0002]多层陶瓷电容器(Multi
‑
layer Ceramic Capacitors，简称MLCC)由印好内电极的陶瓷介质膜带以错位的方式叠合后经过高温烧结形成陶瓷芯片，然后在陶瓷芯片的两端封端电极而形成。目前，陶瓷介质膜带通过在脱模薄膜上涂覆陶瓷浆料并干燥而成型，在脱模薄膜的脱模层表面成型为陶瓷介质膜带的情况下，脱模层表面的微小突起对成型的陶瓷介质膜带造成影响，造成膜带凹陷、针孔等缺陷，而存在这些缺陷的膜带应用到产品中会严重影响产品的性能。目前大多采用人工检测陶瓷介质膜带的缺陷，费时费力，效率较低。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足之处而提供一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统及检测方法，通过送膜机构输送陶瓷介质膜带，通过线扫相机获取陶瓷介质膜带上每个印刷单元的图像，通过图像处理模块对获取的图像进行分析，可以快速地检测出陶瓷介质膜带上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，包括机架、送膜机构、固定装置、线扫相机、控制器、通讯模块及图像处理模块，所述送膜机构安装于所述机架上，所述送膜机构用于输送陶瓷介质膜带，所述陶瓷介质膜带由印刷单元依次连接而成；所述线扫相机通过所述固定装置固定设置于所述陶瓷介质膜带的输送路径上方，对经过的陶瓷介质膜带进行拍摄，获得陶瓷介质膜带上每个印刷单元的图像，并通过所述通讯模块将获得的印刷单元图像发送给图像处理模块；所述图像处理模块用于对接收到的印刷单元图像进行分析，识别出所述陶瓷介质膜带的缺陷，得到缺陷检测结果。2.如权利要求1所述的陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，所述送膜机构包括安装于所述机架上的变频电机、主动轴、张力辊、吸附辊及皮带，所述变频电机的输出端通过联轴器与所述主动轴连接，所述张力辊位于所述主动轴与吸附辊之间的下部，所述主动轴、张力辊及吸附辊均与所述机架转动配合，所述主动轴的两端、张力辊的两端转轴及吸附辊的两端转轴上均设置有同步轮，同侧的同步轮通过同步带传动连接，所述皮带位于所述主动轴的上方。3.如权利要求2所述的陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，所述吸附辊上均匀分布有通孔，所述通孔穿透所述吸附辊的辊面，所述吸附辊的一端转轴为实心转轴，所述吸附辊的另一端转轴为空心转轴，所述空心转轴的一端与所述吸附辊的内部空腔连通，所述空心转轴的另一端通过管道连接有真空泵连接。4.如权利要求2所述的陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，所述机架上设置有压管和驱动电机，所述压管位于吸附辊远离主动轴的一侧，所述压管与吸附辊之间存在间隙，所述驱动电机的输出端与所述压管固定连接，所述压管与所述机架转动配合。5.如权利要求2所述的陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，所述送膜机构还包括与所述同步带相适配的张紧组件，所述张紧组件位于所述机架的两侧，所述张紧组件包括连接板及压紧板，所述连接板的一侧与所述机架固定连接，所述连接板上设置有齿槽，所述连接板的齿槽与所述同步带上的横向齿接触啮合，所述压紧板通过调节螺栓与所述连接板可拆卸连接，所述压紧板用于压紧固定所述连接板与同步带。6.如权利要求1所述的陶瓷介质膜带缺陷检测系统，其特征在于，所述固定装置包括X轴位移调节机构、Y轴位移调节机构和Z轴位移调节机构，所述X轴位移调节机构用于带动所述线扫相机沿着X轴方向移动，所述Y轴位移调节机构用于带动所述线扫相机沿着Y轴方向移动，所述Z轴位移调节机构用于带动所述线扫相机沿着Z轴方向移动。7.如权利要求1所述的陶瓷介质膜带缺陷检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：项黎华，马艳红，邱基华，王浩强，黄庆伟，
申请(专利权)人：潮州三环集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：