测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法为获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数；将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中；读取共享文件中的测试参数；比对读取的测试参数与调取的测试参数，若读取的测试参数与调取的测试参数一致，则生成驱动文件并将驱动文件发送至测试分选机，以使测试分选机使用驱动文件调用测试程序，若读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则重复执行前述步骤。本发明专利技术能够根据不同的芯片将对应的测试参数写入测试分选机，并检测写入的测试参数是否正确，有效地防止测试出现异常并减少人工参与设置，有利于提升芯片的品质和测试的效率。品质和测试的效率。品质和测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及一种集成电路成品测试
，尤其涉及一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]不同的芯片需要在不同的测试环境下进行测试，因此在利用集成电路测试分选机对不同的芯片进行测试时，需要对测试分选机的测试参数按照测试需求进行调整及重设，但每次改动参数都需要人为手动去修改参数并核对参数的方式，容易出现漏改或者改错的问题，进而导致生产效率低下和批量性测试异常，并且测试分选机的程序上无系统卡控，难以及时发现设置和修改参数错误，无法保证测试的芯片的品质。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质，能够根据不同的芯片将对应的测试参数写入测试分选机，并检测写入的测试参数是否正确，有效地防止测试出现异常并减少人工参与设置，有利于提升芯片的品质和测试的效率。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术公开了一种测试分选机测试参数写入及防呆方法，其包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试分选机测试参数写入及防呆方法，其特征在于，包括如下步骤：S100、获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数；S101、将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中；S102、读取所述共享文件中的测试参数；S103、比对读取的测试参数与调取的测试参数，若读取的测试参数与调取的测试参数一致，则执行步骤S104，若读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则重复步骤S100至S103；S104、生成驱动文件并将所述驱动文件发送至所述测试分选机，以使所述测试分选机使用所述驱动文件调用测试程序。2.根据权利要求1所述的测试分选机测试参数写入及防呆方法，其特征在于，步骤S104之后包括：S105、在设定时间后再次读取所述共享文件中的测试参数；S106、比对再次读取的测试参数与调取的测试参数，若再次读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则执行步骤S107，若再次读取的测试参数与调取的测试参数一致，则执行步骤S108；S107、清除所述测试分选机中的所述驱动文件；S108、判断一个批次的待测芯片是否测试完成，若测试未完成，则返回步骤S105和S106。3.根据权利要求2所述的测试分选机测试参数写入及防呆方法，其特征在于，步骤S106包括：S1061、比对再次读取的测试参数与调取的测试参数；S1062、将比对结果和再次读取的测试参数保存至记录文件；S1063、若再次读取的测试参数与调取的测试参数不一致，则执行步骤S107，若再次读取的测试参数与调取的测试参数一致，则执行步骤S108。4.根据权利要求1所述的测试分选机测试参数写入及防呆方法，其特征在于，所述共享文件为参数文本，所述参数文本设置有多个内容栏，所述内容栏分别用于记录不同的测试参数，测试参数包括测试温度、预设时间、测试模式、分BIN位置、芯片盘规格、卡控良率、通讯方式、Site地图。5.一种测试分选机测试参数写入及...

【专利技术属性】
技术研发人员：李双成，马海龙，陈勇，范传敏，袁俊，辜诗涛，
申请(专利权)人：东莞利扬芯片测试有限公司，
类型：发明
国别省市：